[發(fā)明專利]顯示面板、器件性能測(cè)試方法和顯示設(shè)備

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202110294292.4
• 申請(qǐng)日: 2021-03-19
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN113035101B
• 公開(kāi)（公告）日: 2022-09-23
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 趙東方;郭雙
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 昆山國(guó)顯光電有限公司
• 主分類號(hào): G09G3/00
• 分類號(hào): G09G3/00
• 代理公司: 成都極刻智慧知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 51310
• 代理人: 唐維虎

本申請(qǐng)?zhí)峁┑娘@示面板、器件性能測(cè)試方法和顯示設(shè)備，涉及測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域。其中，顯示區(qū)域包括顯示區(qū)驅(qū)動(dòng)晶體管和顯示區(qū)發(fā)光器件，測(cè)試區(qū)域包括與顯示區(qū)驅(qū)動(dòng)晶體管對(duì)應(yīng)設(shè)置的測(cè)試區(qū)驅(qū)動(dòng)晶體管和與顯示區(qū)發(fā)光器件對(duì)應(yīng)設(shè)置的測(cè)試區(qū)發(fā)光器件。測(cè)試區(qū)驅(qū)動(dòng)晶體管包括第一高電位端、第一低電位端和第一柵極端。測(cè)試區(qū)發(fā)光器件包括第一陽(yáng)極和第一陰極，第一陽(yáng)極與第一低電位端電連接。第一高電位端、第一低電位端、第一柵極端、第一陽(yáng)極和第一陰極中的至少一個(gè)與信號(hào)探測(cè)設(shè)備電連接，信號(hào)探測(cè)設(shè)備用于采集電連接位置的測(cè)試信號(hào)。基于上述設(shè)置，可以改善現(xiàn)有技術(shù)中難以對(duì)顯示區(qū)驅(qū)動(dòng)晶體管和顯示區(qū)發(fā)光器件進(jìn)行有效測(cè)試的問(wèn)題。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請(qǐng)涉及測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，具體而言，涉及一種顯示面板、器件性能測(cè)試方法和顯示設(shè)備。

背景技術(shù)

對(duì)于包括有機(jī)電致發(fā)光器件(Organic Light-Emitting Diode，OLED)和晶體管器件的顯示面板，在有機(jī)電致發(fā)光器件基于晶體管器件的驅(qū)動(dòng)進(jìn)行發(fā)光顯示的過(guò)程中，有機(jī)電致發(fā)光器件和晶體管器件的器件性能會(huì)發(fā)生變化，從而影響顯示器件的壽命。因而，需要對(duì)有機(jī)電致發(fā)光器件和晶體管器件的器件性能進(jìn)行測(cè)試，但是，基于現(xiàn)有的測(cè)試技術(shù)，難以有效地對(duì)有機(jī)電致發(fā)光器件和晶體管器件的器件性能進(jìn)行測(cè)試。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于此，本申請(qǐng)的目的在于提供一種顯示面板、器件性能測(cè)試方法和顯示設(shè)備，以改善現(xiàn)有技術(shù)中難以對(duì)顯示區(qū)驅(qū)動(dòng)晶體管和顯示區(qū)發(fā)光器件進(jìn)行有效測(cè)試的問(wèn)題。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本申請(qǐng)實(shí)施例采用如下技術(shù)方案：

一種顯示面板，所述顯示面板包括顯示區(qū)域和測(cè)試區(qū)域，所述顯示區(qū)域包括顯示區(qū)驅(qū)動(dòng)晶體管和顯示區(qū)發(fā)光器件，所述顯示區(qū)發(fā)光器件基于所述顯示區(qū)驅(qū)動(dòng)晶體管的驅(qū)動(dòng)進(jìn)行發(fā)光顯示，所述測(cè)試區(qū)域包括：

與所述顯示區(qū)驅(qū)動(dòng)晶體管對(duì)應(yīng)設(shè)置的測(cè)試區(qū)驅(qū)動(dòng)晶體管，所述測(cè)試區(qū)驅(qū)動(dòng)晶體管包括第一高電位端、第一低電位端和第一柵極端，所述第一高電位端與高電平信號(hào)源電連接，所述第一柵極端與柵極驅(qū)動(dòng)信號(hào)源電連接；

與所述顯示區(qū)發(fā)光器件對(duì)應(yīng)設(shè)置的測(cè)試區(qū)發(fā)光器件，所述測(cè)試區(qū)發(fā)光器件包括第一陽(yáng)極和第一陰極，所述第一陽(yáng)極與所述第一低電位端電連接，所述第一陰極與低電平信號(hào)源電連接；

其中，在對(duì)所述測(cè)試區(qū)驅(qū)動(dòng)晶體管和所述測(cè)試區(qū)發(fā)光器件進(jìn)行測(cè)試時(shí)，所述第一高電位端、所述第一低電位端、所述第一柵極端、所述第一陽(yáng)極和所述第一陰極中的至少一個(gè)與信號(hào)探測(cè)設(shè)備電連接，所述信號(hào)探測(cè)設(shè)備用于采集電連接位置的測(cè)試信號(hào)，以對(duì)所述測(cè)試區(qū)驅(qū)動(dòng)晶體管和所述測(cè)試區(qū)發(fā)光器件進(jìn)行測(cè)試。

在本申請(qǐng)實(shí)施例較佳的選擇中，在上述顯示面板中，所述測(cè)試區(qū)域還包括：

測(cè)試焊盤，所述測(cè)試焊盤與所述第一高電位端、所述第一低電位端、所述第一柵極端、所述第一陽(yáng)極和所述第一陰極中的至少一個(gè)電連接；

其中，在對(duì)所述測(cè)試區(qū)驅(qū)動(dòng)晶體管和所述測(cè)試區(qū)發(fā)光器件進(jìn)行測(cè)試時(shí)，所述信號(hào)探測(cè)設(shè)備與所述測(cè)試焊盤電連接。

在本申請(qǐng)實(shí)施例較佳的選擇中，在上述顯示面板中，所述顯示區(qū)發(fā)光器件包括多個(gè)第一發(fā)光器件，所述多個(gè)第一發(fā)光器件中存在至少兩種顏色不同的發(fā)光器件，所述顯示區(qū)驅(qū)動(dòng)晶體管包括多個(gè)第一驅(qū)動(dòng)晶體管，每一個(gè)所述第一驅(qū)動(dòng)晶體管用于對(duì)所述多個(gè)第一發(fā)光器件中的其中一個(gè)進(jìn)行驅(qū)動(dòng)；

其中，所述測(cè)試區(qū)發(fā)光器件包括多個(gè)第二發(fā)光器件，所述多個(gè)第二發(fā)光器件中存在與所述第一發(fā)光器件的至少兩種顏色對(duì)應(yīng)的發(fā)光器件，所述測(cè)試區(qū)驅(qū)動(dòng)晶體管包括多個(gè)第二驅(qū)動(dòng)晶體管，每一個(gè)所述第二驅(qū)動(dòng)晶體管用于對(duì)所述多個(gè)第二發(fā)光器件中的其中一個(gè)進(jìn)行驅(qū)動(dòng)。

在本申請(qǐng)實(shí)施例較佳的選擇中，在上述顯示面板中，所述顯示面板還包括陽(yáng)極初始化信號(hào)源，所述測(cè)試區(qū)域還包括：