[發(fā)明專利]基于一種材料的寬譜段紫外成像儀光學系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202110294069.X
• 申請日: 2021-03-19
• 公開（公告）號: CN113050257B
• 公開（公告）日: 2022-03-01
• 發(fā)明（設計）人: 李寒霜;李博;林冠宇;顧國超
• 申請（專利權）人: 中國科學院長春光學精密機械與物理研究所
• 主分類號: G02B13/14
• 分類號: G02B13/14;G02B17/08;G02B5/20;G02B1/00;G03B11/00
• 代理公司: 長春眾邦菁華知識產權代理有限公司 22214
• 代理人: 張偉

本發(fā)明公開了一種基于一種材料的寬譜段紫外成像儀光學系統(tǒng)，屬于紫外探測技術領域，用于解決現有技術中寬譜段紫外成像儀光學系統(tǒng)中透鏡材料均在兩種以上，且透鏡不完全為球面，導致透鏡加工、檢測及光機裝調的難度大，成本高的技術問題，本發(fā)明包括間隔地設置在光學系統(tǒng)中心軸線上的第一透鏡和第二透鏡；依次布設在所述第一透鏡和所述第二透鏡之間的折?反射鏡組和濾光片；以及設置在所述第二透鏡遠離所述濾光片側的探測器；其中，所述第一透鏡、所述第二透鏡以及所述折?反射鏡組的鏡片材料均相同，且所述鏡片均為球面，本發(fā)明具有成像質量高，加工、檢測及光機裝調難度小，生產成本低的有益效果。

技術領域

本發(fā)明涉及紫外探測技術領域，尤其涉及一種基于一種材料的寬譜段紫外成像儀光學系統(tǒng)。

背景技術

紫外探測技術作為一項成熟的技術，已廣泛應用于空間大氣遙感探測、天文紫外星體觀測、環(huán)境監(jiān)測、海洋溢油污染監(jiān)測、武器告警、武器預警以及電力巡線等領域，其對軍事應用及人類的生產生活具有重要意義；

光學系統(tǒng)是紫外成像探測系統(tǒng)的核心部分，直接決定了紫外成像探測系統(tǒng)的性能優(yōu)劣，由于紫外波段可供選擇的光學透鏡材料較少，尤其是考慮到實際應用中光學材料的理化性能、加工性能及抗輻射性能，因此，紫外波段光學系統(tǒng)色差的校正相比可見/紅外波段光學系統(tǒng)色差的校正難度增大；

現有技術中，已有的紫外成像儀光學系統(tǒng)，尤其是寬譜段紫外成像儀光學系統(tǒng)，光學透鏡材料均在兩種或兩種以上，且透鏡不完全為球面，導致透鏡加工、檢測及光機裝調的難度大，而多種透鏡材料，也會相應的增加成本；

所以，如何解決現有技術中寬譜段紫外成像儀光學系統(tǒng)中光學透鏡材料均在兩種或兩種以上情況，且透鏡不完全是球面，導致透鏡加工、檢測及光機裝調的難度大、成本高的問題，成為了本領域技術人員亟需解決的重要技術問題。

發(fā)明內容

本發(fā)明的目的是克服現有技術存在的缺陷，提供一種基于一種材料的寬譜段紫外成像儀光學系統(tǒng)，該光學系統(tǒng)中所有透鏡均采用相同材質，且所有透鏡均為球面，降低了生產成本且易于光機加工、裝調，根據寬譜段紫外成像儀光學系統(tǒng)口徑、焦距要求并結合高靈敏度大動態(tài)紫外成像探測器的性能指標，采用折-反射式光學系統(tǒng)結構，達到了良好的成像質量，同時滿足紫外成像儀小型輕量化的要求。

為了實現上述目的，本發(fā)明提供如下技術方案：

本發(fā)明公開的基于一種材料的寬譜段紫外成像儀光學系統(tǒng)，包括：

間隔地設置在該光學系統(tǒng)中心軸線上的第一透鏡和第二透鏡；

依次布設在所述第一透鏡和所述第二透鏡之間的折-反射鏡組和濾光片；以及

設置在所述第二透鏡遠離所述濾光片側的探測器；

其中，所述第一透鏡、所述第二透鏡以及所述折-反射鏡組的鏡片材料均相同，且所述鏡片均為球面。

進一步的，所述折-反射鏡組包括至少兩個折-反射鏡。

進一步的，所述折-反射鏡組包括第一折-反射鏡和第二折-反射鏡；

所述濾光片遠離所述第二透鏡側設置有所述第一折-反射鏡，且所述第一折-反射鏡中心位置開設有所述第二折-反射鏡折返光線能夠通過的通孔；

所述第一透鏡位于所述濾光片側設置有第二折-反射鏡。

進一步的，所述濾光片為平板濾光片。

進一步的，所述第一透鏡為彎月型透鏡。

進一步的，所述第一透鏡、所述第二透鏡以及所述折-反射鏡組的鏡片材料均為熔融石英。

進一步的，該光學系統(tǒng)的光譜范圍為210-400nm的寬譜段紫外成像儀光學系統(tǒng)。