[發明專利]檢測煙葉葉尖鋸齒程度的方法、系統及計算機可讀存儲介質在審
| 申請號: | 202110292777.X | 申請日: | 2021-03-18 |
| 公開(公告)號: | CN113052811A | 公開(公告)日: | 2021-06-29 |
| 發明(設計)人: | 蔣文駿;茆宇忠;張偉;陳豐 | 申請(專利權)人: | 上海威士頓信息技術股份有限公司 |
| 主分類號: | G06T7/00 | 分類號: | G06T7/00;G06T7/13;G06F17/14 |
| 代理公司: | 上海思捷知識產權代理有限公司 31295 | 代理人: | 王宏婧 |
| 地址: | 200052 上海市長寧區*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 檢測 煙葉 葉尖 鋸齒 程度 方法 系統 計算機 可讀 存儲 介質 | ||
1.一種檢測煙葉葉尖鋸齒程度的方法,其特征在于,包括:
采集煙葉圖像,所述煙葉圖像為將煙葉以葉基在圖像左側、葉尖在圖像右側的方式放置于拍攝倉進行拍攝所得的灰度圖像;
對所述煙葉圖像進行煙葉輪廓檢測,生成煙葉輪廓點集;
從所述煙葉輪廓點集中找出上部葉尖輪廓點和下部葉尖輪廓點;
對所述上部葉尖輪廓點和所述下部葉尖輪廓點分別進行擬合差值及等間隔采樣處理,得到上部等間隔采樣點集和下部等間隔采樣點集;
對所述上部等間隔采樣點集和所述下部等間隔采樣點集分別進行n階傅里葉頻域變換,得到上部頻域特征向量和下部頻域特征向量;
將所述上部頻域特征向量和所述下部頻域特征向量中前i階的頻域特征值,組合作為所述煙葉的葉尖鋸齒狀的特征向量,i為小于n的正整數。
2.根據權利要求1所述的檢測煙葉葉尖鋸齒程度的方法,其特征在于,所述上部葉尖輪廓點指所述煙葉中位于葉尖上部的輪廓點,所述下部葉尖輪廓點指所述煙葉中位于葉尖下部的輪廓點。
3.根據權利要求1所述的檢測煙葉葉尖鋸齒程度的方法,其特征在于,所述從所述煙葉輪廓點集中找出上部葉尖輪廓點和下部葉尖輪廓點包括:
確定上部葉基起始點、下部葉基起始點、上部葉尖結束點和下部葉尖結束點;
找出所述煙葉輪廓點集中從所述上部葉基起始點到所述上部葉尖結束點的點,組合為上部輪廓點集;
找出所述煙葉輪廓點集中從所述下部葉基起始點到所述下部葉尖結束點的點,組合為下部輪廓點集;
將所述上部輪廓點集中靠近葉尖的點確定為上部葉尖輪廓點,將所述下部輪廓點集中靠近葉尖的點確定為下部葉尖輪廓點。
4.根據權利要求3所述的檢測煙葉葉尖鋸齒程度的方法,其特征在于,所述確定上部葉基起始點、下部葉基起始點、上部葉尖結束點和下部葉尖結束點包括:
對所述煙葉圖像進行最寬截面檢測,找出所述煙葉的輪廓最寬截面;
向所述輪廓最寬截面的左右兩側,找出葉基起始截面和葉尖起始截面;
將所述葉基起始截面與煙葉輪廓的上部交點和下部交點,確定為上部葉基起始點和下部葉基起始點;
將所述葉尖起始截面與煙葉輪廓的上部交點和下部交點,確定為上部葉尖結束點和下部葉尖結束點。
5.根據權利要求1所述的檢測煙葉葉尖鋸齒程度的方法,其特征在于,所述對所述上部葉尖輪廓點和所述下部葉尖輪廓點分別進行擬合差值及等間隔采樣處理,得到上部等間隔采樣點集和下部等間隔采樣點集包括:
對所述上部葉尖輪廓點和所述下部葉尖輪廓點分別進行多項式擬合,得到上部葉尖輪廓曲線和下部葉尖輪廓曲線;
計算所述上部葉尖輪廓點與所述上部葉尖輪廓曲線、所述下部葉尖輪廓點與所述下部葉尖輪廓曲線之間的差值,得到上部葉尖差值點和下部葉尖差值點;
對所述上部葉尖差值點和所述下部葉尖差值點分別進行多項式擬合,得到上部差值點曲線和下部差值點曲線;
對所述上部差值點曲線和所述下部差值點曲線進行等間隔采樣,得到上部等間隔采樣點集和下部等間隔采樣點集。
6.一種檢測煙葉葉尖鋸齒程度的系統,其特征在于,包括:
攝像頭,用于采集煙葉圖像,所述煙葉圖像為將煙葉以葉基在圖像左側、葉尖在圖像右側的方式放置于拍攝倉進行拍攝所得的灰度圖像;
圖像處理裝置,用于對所述煙葉圖像進行煙葉輪廓檢測,生成煙葉輪廓點集;
所述圖像處理裝置,還用于從所述煙葉輪廓點集中找出上部葉尖輪廓點和下部葉尖輪廓點;
所述圖像處理裝置,還用于對所述上部葉尖輪廓點和所述下部葉尖輪廓點分別進行擬合差值及等間隔采樣處理,得到上部等間隔采樣點集和下部等間隔采樣點集;
所述圖像處理裝置,還用于對所述上部等間隔采樣點集和所述下部等間隔采樣點集分別進行n階傅里葉頻域變換,得到上部頻域特征向量和下部頻域特征向量;
所述圖像處理裝置,還用于將所述上部頻域特征向量和所述下部頻域特征向量中前i階的頻域特征值,組合作為所述煙葉的葉尖鋸齒狀的特征向量,i為小于n的正整數。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于上海威士頓信息技術股份有限公司,未經上海威士頓信息技術股份有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202110292777.X/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





