[發明專利]一種用于光學試驗檢測的高精度磨機

有效

• 申請號: 202110290180.1
• 申請日: 2021-03-18
• 公開（公告）號: CN112658883B
• 公開（公告）日: 2021-06-22
• 發明（設計）人: 周健
• 申請（專利權）人: 天津和順云科技有限公司;安徽建筑大學
• 主分類號: B24B13/00
• 分類號: B24B13/00;B24B37/00;B24B37/11;B24B37/27;B24B37/34;B24B47/20;B24B47/22;G01N1/28
• 代理公司: 天津盈佳知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 12224
• 代理人: 孫寶蕓

本發明屬于光學試驗設備技術領域，公開了一種用于光學試驗檢測的高精度磨機，包括：打磨臺，且在打磨臺的中間位置處安裝有負吸固定組件，所述負吸固定組件的兩側均設有可轉動的絲桿，且每個絲桿上均套設有兩個移動板；夾料組件，可拆卸的放置于打磨臺頂部，且所述夾料組件包括對稱的兩個夾板、以及對稱連接于兩個夾板之間的兩個夾緊彈簧；所述夾料組件放置于打磨臺頂部時，夾板與絲桿垂直，且兩個移動板限定于兩個夾板之間；可升降的打磨組件，且所述打磨組件在下降時，驅動兩個絲桿同步轉動；綜上，基于夾料組件的設置，能有效避免在上下料過程中直接接觸元件檢測面，從而最大程度的保證了精磨后檢測面的精度和潔凈程度。

技術領域

本發明屬于光學試驗設備技術領域，具體涉及一種用于光學試驗檢測的高精度磨機。

背景技術

具體在進行玻璃、金屬等光學元件的性能檢測時(例如：金屬的金相檢測、玻璃的表面元素檢測)，需要將光學元件的檢測面打磨至需要的精度，由此則需要用到相應的磨機。

但是，對于現有的試驗用磨機而言，大多通過人手直接進行光學元件的上下料，由此在上下料過程中則難以避免的出現人手與檢測面之間的接觸，特別是對于體積較小、精度要求較高的光學元件而言，人手的直接接觸極易造成檢測面的污染，甚至影響檢測面精度，進而影響試驗檢測的準確性。

發明內容

鑒于此，為解決上述背景技術中所提出的問題，本發明的目的在于提供一種用于光學試驗檢測的高精度磨機。

為實現上述目的，本發明提供如下技術方案：一種用于光學試驗檢測的高精度磨機，包括：

打磨臺，且在所述打磨臺的中間位置處安裝有負吸固定組件，在所述負吸固定組件的兩側均設有可轉動的絲桿，且每個所述絲桿上均套設有兩個移動板；

夾料組件，可拆卸的放置于所述打磨臺頂部，且所述夾料組件包括對稱的兩個夾板、以及對稱連接于兩個夾板之間的兩個夾緊彈簧；兩個所述夾緊彈簧分別靠近夾板的兩端，且所述夾料組件用于將待打磨的光學元件夾緊固定于兩個夾板之間的中間部位；所述夾料組件放置于打磨臺頂部時，夾板與絲桿垂直，且兩個移動板限定于兩個夾板之間；

可升降的打磨組件，且所述打磨組件在下降時，驅動兩個絲桿同步轉動，所述絲桿轉動時，驅動其上的兩個移動板沿絲桿中間向兩端相反移動，并解鎖夾料組件；所述移動板移動至絲桿端部時，打磨組件與待打磨的光學元件接觸。

優選的，在所述打磨臺頂部對稱固定有兩個限位板，所述限位板與絲桿平行設置，且兩個所述限位板之間的距離與夾板長度相等；所述夾料組件放置于打磨臺頂部時，垂直限定于兩個限位板之間。

優選的，在兩個所述夾板的中間位置處均開設有V型槽，且將待打磨的光學元件夾緊限定于兩個V型槽之間。

優選的，所述負吸固定組件包括負壓發生器和可轉動的多孔負吸盤；在兩個所述移動板驅動夾料組件解鎖后，所述負壓發生器驅使多孔負吸盤產生負壓，負吸固定待打磨的光學元件。

優選的，在所述打磨臺頂部的中間位置處開設有通孔，在所述打磨臺內部安裝有升降氣缸，所述升降氣缸用于驅動多孔負吸盤上下升降，且多孔負吸盤在上下升降時可穿過通孔。

優選的，所述負壓發生器為圓柱形結構；所述升降氣缸的頂端固定有升降環，且所述升降環套設于負壓發生器上；所述多孔負吸盤的底部焊接有連接套，所述連接套套設于負壓發生器外側，并可轉動的支撐于升降環頂部。

優選的，所述連接套的內壁上對稱開設有兩個滑槽，且兩個滑槽之間滑動配合有一倒置的U型架，所述U型架底部位于負壓發生器頂部下方，且在所述負壓發生器頂部的中間位置處安裝有驅動電機，所述驅動電機通過U型架驅動連接套及多孔負吸盤轉動。

優選的，在所述打磨臺的一側安裝有兩個可轉動齒輪，且兩個齒輪分別與兩個絲桿同軸裝配；所述打磨組件至少包括兩個可升降的齒板，且兩個齒板分別與兩個齒輪嚙合連接。