[發(fā)明專利]一種直線位移測(cè)量裝置和方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110289414.0 | 申請(qǐng)日: | 2021-03-18 |
| 公開(公告)號(hào): | CN113029001B | 公開(公告)日: | 2022-02-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 于海 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)科學(xué)院長(zhǎng)春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所 |
| 主分類號(hào): | G01B11/02 | 分類號(hào): | G01B11/02 |
| 代理公司: | 長(zhǎng)春中科長(zhǎng)光知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 22218 | 代理人: | 高一明;郭婷 |
| 地址: | 130033 吉林省長(zhǎng)春*** | 國(guó)省代碼: | 吉林;22 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 直線 位移 測(cè)量 裝置 方法 | ||
1.一種直線位移測(cè)量裝置,其特征在于,包括:滑動(dòng)導(dǎo)軌、與所述滑動(dòng)導(dǎo)軌可滑動(dòng)連接的讀數(shù)頭和固定在所述滑動(dòng)導(dǎo)軌上位于所述讀數(shù)頭測(cè)量區(qū)域之間標(biāo)尺光柵;
所述滑動(dòng)導(dǎo)軌與所述標(biāo)尺光柵延伸方向平行且與所述標(biāo)尺光柵的編碼標(biāo)線面垂直;
所述讀數(shù)頭通過(guò)識(shí)別所述標(biāo)尺光柵上的所述編碼標(biāo)線獲取橫向位移量X以及縱向位移變化量ΔY;
根據(jù)所述橫向位移量X以及縱向位移變化量ΔY計(jì)算得到消除余弦誤差后的測(cè)量位移量D;
所述讀數(shù)頭包括:橫向傳感器、與所述橫向傳感器垂直的縱向傳感器、處理電路、平行光源和支架;
所述平行光源通過(guò)所述支架與所述處理電路連接;
所述橫向傳感器和所述縱向傳感器位于所述處理電路的下側(cè)面,與所述平行光源形成對(duì)射關(guān)系;
所述處理電路用于接收所述橫向傳感器與所述縱向傳感器的圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行細(xì)分運(yùn)算、譯碼運(yùn)算以及測(cè)量位移量D的計(jì)算;
所述支架與所述滑動(dòng)導(dǎo)軌可滑動(dòng)連接;
所述標(biāo)尺光柵上包含有N條橫向編碼標(biāo)線和兩條相互平行的縱向識(shí)別標(biāo)線;
所述橫向編碼標(biāo)線是一組同軸等間距,沿所述標(biāo)尺光柵延伸方向豎直排列的矩形透光標(biāo)線,用于實(shí)現(xiàn)對(duì)橫向位移量X的測(cè)量;
所述縱向識(shí)別標(biāo)線平行于所述標(biāo)尺光柵延伸方向且垂直于所述橫向編碼標(biāo)線,用于實(shí)現(xiàn)對(duì)縱向位移變化量ΔY的測(cè)量。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的直線位移測(cè)量裝置,其特征在于,所述橫向編碼標(biāo)線包括寬標(biāo)線和窄標(biāo)線;所述寬標(biāo)線代表編碼元“1”,所述窄標(biāo)線代表編碼元“0”,按照偽隨機(jī)序列編碼的排列組合,實(shí)現(xiàn)絕對(duì)式編碼。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的直線位移測(cè)量裝置,其特征在于,所述寬標(biāo)線的寬度不大于L/N;所述窄標(biāo)線的寬度不大于L/2N,L為所述標(biāo)尺光柵的橫向測(cè)量長(zhǎng)度。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的直線位移測(cè)量裝置,其特征在于,兩個(gè)所述縱向識(shí)別標(biāo)線的間隔中心與所述縱向傳感器的中心重合,使其能夠在縱向傳感器上完整成像;兩條所述縱向識(shí)別標(biāo)線之間的間隔為M·L/N,M為不為零的整數(shù)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的直線位移測(cè)量裝置,其特征在于,M=4。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的直線位移測(cè)量裝置,其特征在于,所述縱向識(shí)別標(biāo)線的寬度不大于1mm。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的直線位移測(cè)量裝置,其特征在于,還包括與所述讀數(shù)頭連接,將計(jì)算處理得到的所述測(cè)量位移量D進(jìn)行輸出的傳輸電纜。
8.一種直線位移測(cè)量方法,其特征在于,包括:
S1、識(shí)別利用如權(quán)利要求1-7中任意一項(xiàng)所述的直線位移測(cè)量裝置采集到的寬標(biāo)線和窄標(biāo)線代表的編碼值,得到所述橫向位移量X的譯碼值A(chǔ);
S2、以所述橫向傳感器的中心點(diǎn)為零點(diǎn)建立坐標(biāo)系,獲取所述橫向位移量X的細(xì)分值B,由此得到所述橫向位移量X;
S3、以縱向傳感器的中心點(diǎn)為零點(diǎn)建立坐標(biāo)系,獲取縱向位移量Y,以此獲取所述縱向位移變化量ΔY:
ΔY=Y(jié)-Y0 (1)
其中,Y0為所述橫向位移量X=0時(shí),計(jì)算得到的縱向位移;
S4、利用下式計(jì)算消除余弦誤差后的測(cè)量位移量D:
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國(guó)科學(xué)院長(zhǎng)春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所,未經(jīng)中國(guó)科學(xué)院長(zhǎng)春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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