[發(fā)明專利]一種基于太赫茲衰減全反射的玉米種子水分含量測定方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110286273.7 | 申請日: | 2021-03-17 |
| 公開(公告)號: | CN113049526B | 公開(公告)日: | 2022-11-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 吳靜珠;李曉琪;劉翠玲;于重重;孫曉榮;余樂 | 申請(專利權(quán))人: | 北京工商大學(xué) |
| 主分類號: | G01N21/3586 | 分類號: | G01N21/3586;G06F17/16;G06F30/20 |
| 代理公司: | 重慶市嘉允啟行專利代理事務(wù)所(普通合伙) 50243 | 代理人: | 胡柯 |
| 地址: | 100048*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 赫茲 衰減 全反射 玉米種子 水分 含量 測定 方法 | ||
1.一種基于太赫茲衰減全反射的玉米種子水分含量測定方法,其特征在于,具體步驟如下:
1)數(shù)據(jù)采集:同批次采集不同水分含量m個玉米種子樣本,并對玉米種子樣本進行水分測定,得到水分含量數(shù)據(jù)xi,在室溫下,采集玉米種子樣本的衰減全反射光譜si,其中i∈m;
2)數(shù)據(jù)預(yù)處理:對步驟1)中采集玉米種子樣本的衰減全反射光譜si進行時域頻域信號的轉(zhuǎn)換及吸光度參數(shù)的提取得到吸光度譜yi,分別采用多元散射校正MSC、標準正態(tài)變換SNV、SG卷積平滑、窗口平滑Smooth的方法對不同水分含量的玉米種子吸光度譜yi進行去噪處理,分別得到預(yù)處理數(shù)據(jù)集Y1i、Y2i、Y3i、Y4i;
3)預(yù)處理數(shù)據(jù)分類:通過SPXY算法結(jié)合水分含量數(shù)據(jù)xi將步驟2)中每個數(shù)據(jù)集Y1i、Y2i、Y3i、Y4i分別劃分訓(xùn)練組與測試組;
4)選取預(yù)處理方法:分別利用步驟3)中Y1i、Y2i、Y3i、Y4i的訓(xùn)練組數(shù)據(jù)及偏最小二乘回歸PLSR法、支持向量機回歸SVR法對Y1i、Y2i、Y3i、Y4i分別構(gòu)建預(yù)測模型,利用Y1i、Y2i、Y3i、Y4i的測試組數(shù)據(jù)對模型進行測試,以相關(guān)系數(shù)R、預(yù)測均方根誤差RMSEP、相對分析誤差RPD評價模型性能,選取最優(yōu)模型對應(yīng)的預(yù)處理數(shù)據(jù)Ypi;
5)提取特征譜區(qū):采用間隔偏最小二乘法iPLS、向后間隔偏最小二乘法biPLS、聯(lián)合間隔偏最小二乘法siPLS、移動窗口偏最小二乘法MWPLS分別篩選步驟4)中最優(yōu)模型對應(yīng)的預(yù)處理數(shù)據(jù)Ypi的特征譜區(qū),分別得到特征譜區(qū)Y1pi、Y2pi、Y3pi、Y4pi;
6)特征譜區(qū)分類:通過SPXY算法結(jié)合水分含量數(shù)據(jù)xi將步驟5)中每個特征譜區(qū)Y1pi、Y2pi、Y3pi、Y4pi分別劃分訓(xùn)練組與測試組;
7)構(gòu)建預(yù)測模型:分別利用步驟6)中Y1pi、Y2pi、Y3pi、Y4pi的訓(xùn)練組數(shù)據(jù)及偏最小二乘回歸PLSR法、支持向量機回歸SVR法分別建立基于太赫茲光譜的玉米種子水分含量預(yù)測模型;
8)選取最優(yōu)模型:利用步驟7)中Y1pi、Y2pi、Y3pi、Y4pi的測試組數(shù)據(jù)對模型進行測試,以相關(guān)系數(shù)R、預(yù)測均方根誤差RMSEP、相對分析誤差RPD評價模型性能,選取最優(yōu)模型對預(yù)測集樣本進行預(yù)測。
2.如權(quán)利要求1所述的一種基于太赫茲衰減全反射的玉米種子水分含量測定方法,其特征在于,步驟2)中數(shù)據(jù)預(yù)處理的具體步驟如下:
2-1)對步驟1)中采集玉米種子樣本的衰減全反射光譜si利用太赫茲光譜分析軟件進行數(shù)據(jù)分析,根據(jù)采集到的參考光譜Eref(ω)和樣本光譜Es(ω),計算得到透射光譜參數(shù)T(ω):
式(1)中,ω為角頻率;
2-2)對吸光度參數(shù)A(ω)進行提取得到吸光度譜yi:
A(ω)=2log10T(ω) (2)
2-3)分別采用多元散射校正MSC、標準正態(tài)變換SNV、SG卷積平滑、窗口平滑Smooth的方法對不同水分含量的玉米種子吸光度譜yi進行去噪處理,分別得到預(yù)處理數(shù)據(jù)集Y1i、Y2i、Y3i、Y4i。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





