[發明專利]顯示面板及顯示裝置

有效

• 申請號: 202110283854.5
• 申請日: 2021-03-17
• 公開（公告）號: CN113113451B
• 公開（公告）日: 2022-07-26
• 發明（設計）人: 蔡振飛
• 申請（專利權）人: 武漢華星光電半導體顯示技術有限公司
• 主分類號: H01L27/32
• 分類號: H01L27/32;H01L23/544
• 代理公司: 深圳紫藤知識產權代理有限公司 44570
• 代理人: 徐世俊

本申請公開一種顯示面板及顯示裝置，顯示面板具有至少一彎折區，顯示面板包括基板以及交叉設置于基板上的多條第一檢測走線和多條第二檢測走線。多條第一檢測走線和多條第二檢測走線位于不同層，并位于彎折區。多條第一檢測走線沿第一方向排布，多條第一檢測走線的第一端相連，多條第二檢測走線沿第二方向排布，多條第二檢測走線的第一端相連，第二方向和第一方向相交。其中，任意兩條第一檢測走線的第二端輸出第一檢測信號，任意兩條第二檢測走線的第二端輸出第二檢測信號，通過第一檢測信號和第二檢測信號檢測位于彎折區的裂紋的位置。本申請能夠有效檢測顯示面板中的彎折區是否產生裂紋，并判斷裂紋的位置。

技術領域

本申請涉及顯示技術領域，具體涉及一種顯示面板及顯示裝置。

背景技術

目前，主動矩陣有機發光二極管(Active-matrix organic light-emittingdiode,AMOLED)顯示面板因對比度高，可視角度廣、響應速度快以及可彎折等特點有望取締液晶顯示面板成為下一代顯示器的主流選擇。而隨著科技的進步與制程的發達，顯示面板領域有很大的革新，可彎折顯示面板更是其中具有十足潛力的新寵兒。

目前的可彎折顯示面板技術發展迅速，在顯示面板進行彎折信賴性測試時，由于顯示面板受到反復的彎折應力，會出現信號線斷裂的情況，進而導致顯示異常，解析人員通常利用光學顯微(Optical Microscope,OM)區觀察裂紋的發生位置和程度，但是由于一些裂紋非常微小，很難在顯微鏡下觀察到，并且裂紋往往發生在薄膜晶體管的底部膜層，表面膜層并未發生明顯異常，很難在OM下觀察到。

因此，如何發現顯示面板中裂紋發生的位置以及開裂的程度，以便更好的追根溯源，是亟需解決的技術問題。

發明內容

本申請提供一種顯示面板及顯示裝置，能夠有效檢測顯示面板中的彎折區是否產生裂紋，并判斷裂紋的位置。

本申請提供一種顯示面板，所述顯示面板具有至少一彎折區，所述顯示面板包括：

基板；

多條第一檢測走線，設置于所述基板上，并位于所述彎折區，多條所述第一檢測走線沿第一方向排布，多條所述第一檢測走線的第一端相連；

多條第二檢測走線，設置于所述基板上，并位于所述彎折區，多條所述第二檢測走線沿第二方向排布，所述第二方向和所述第一方向相交，多條所述第二檢測走線的第一端相連，所述第二檢測走線與所述第一檢測走線位于不同層，且交叉設置；

其中，相鄰兩條所述第一檢測走線的第二端輸出第一檢測信號，相鄰兩條所述第二檢測走線的第二端輸出第二檢測信號，通過所述第一檢測信號和所述第二檢測信號檢測位于所述彎折區的裂紋的位置。

可選的，在本申請的一些實施例中，每一所述第一檢測走線的寬度相同，且相鄰所述第一檢測走線之間的間距相同，和/或，每一所述第二檢測走線的寬度相同，且相鄰所述第二檢測走線之間的間距相同。

可選的，在本申請的一些實施例中，所述顯示面板具有至少一彎折軸，多條所述第一檢測走線設置在所述彎折軸上，多條所述第二檢測走線對稱設置于所述彎折軸的兩側。

可選的，在本申請的一些實施例中，所述所述顯示面板還包括：

第一絕緣層，設置于所述基板上；

第一柵極圖案，設置于所述第一絕緣層遠離所述基板的一側；

第二絕緣層，設置于所述第一柵極圖案遠離所述基板的一側；

第二柵極圖案，設置于所述第二絕緣層遠離所述基板的一側；

層間介質層，設置于所述第二柵極圖案遠離所述基板的一側；

源漏極圖案，設置于所述層間介質層遠離所述基板的一側；