[發(fā)明專利]一種芯片自動(dòng)測試機(jī)內(nèi)測試通道信號傳輸時(shí)間的校準(zhǔn)方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110283521.2 | 申請日: | 2021-03-17 |
| 公開(公告)號: | CN113064060A | 公開(公告)日: | 2021-07-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 魏津;張經(jīng)祥;吳艷平 | 申請(專利權(quán))人: | 勝達(dá)克半導(dǎo)體科技(上海)有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/3183 | 分類號: | G01R31/3183;G01R1/04 |
| 代理公司: | 上海專益專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 31381 | 代理人: | 方燕娜;王雯婷 |
| 地址: | 201799 上海市*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 芯片 自動(dòng) 測試 通道 信號 傳輸 時(shí)間 校準(zhǔn) 方法 | ||
1.一種芯片自動(dòng)測試機(jī)內(nèi)測試通道信號傳輸時(shí)間的校準(zhǔn)方法,包括自動(dòng)測試機(jī)、AC-cal載具板、Odd-Even載具板,其特征在于:具體校準(zhǔn)方法如下:
(1)在自動(dòng)測試機(jī)上安裝AC-cal載具板;
(2)通過軟件對AC-cal載具板上的端口通道進(jìn)行配置,分別是1個(gè)接收信號通道及127個(gè)發(fā)送信號通道;
(3)發(fā)送信號通道發(fā)射周期為100ns的時(shí)鐘信號;
(4)接收信號通道以50ps的步長,在上升沿或者下降沿左右32步長的范圍去搜索發(fā)送信號的上升沿或者下降沿的變化時(shí)刻,記錄為Tx1;
(5)選取接收信號通道的最大時(shí)刻為Tb,其余接收信號通道與最大接收信號通道的差?Tx= Txn-Tb用于補(bǔ)償,n為通道數(shù);
(6)將?Tx的補(bǔ)償數(shù)據(jù)補(bǔ)償在自動(dòng)測試機(jī)系統(tǒng)內(nèi);
(7)如果步驟(6)中的?Tx的補(bǔ)償數(shù)據(jù)為最后一次補(bǔ)償,補(bǔ)償數(shù)據(jù)后,再次進(jìn)行步驟(4),若Tx2在(-150ps,+150ps)的范圍內(nèi),即為通過,否則為不通過;
(8)在自動(dòng)測試機(jī)上安裝Odd-Even載具板;
(9)通過軟件對Odd-Even載具板上的端口通道進(jìn)行配置,配置奇數(shù)通道為發(fā)送信號通道,與奇數(shù)通道連接的偶數(shù)通道為接收信號通道;
(10)設(shè)定偶數(shù)的接收信號通道的固定的時(shí)刻去捕捉信號的上升沿、下降沿的變化時(shí)刻;
(11)奇數(shù)的發(fā)送信號通道發(fā)射周期為100ns的時(shí)鐘信號,每個(gè)周期的上升沿或者下降沿以100ps后移,直到接收信號通道捕捉到發(fā)送信號通道的上升沿或者下降沿的變化,并記錄該時(shí)刻為Tx1’;
(12)配置偶數(shù)通道為發(fā)送信號通道,與偶數(shù)通道連接的奇數(shù)通道為接收信號通道,重復(fù)步驟(11),并記錄時(shí)刻為Tx1’;
(13)選取輸出信號部分通道的最大時(shí)刻為Tb’,其余輸出信號部分通道與最大輸出信號部分通道的差?Tx’= Txn’-Tb’用于補(bǔ)償,n為通道數(shù);
(14)將?Tx’的補(bǔ)償數(shù)據(jù)補(bǔ)償在自動(dòng)測試機(jī)系統(tǒng)內(nèi);
(15)如果步驟(14)中的?Tx’的補(bǔ)償數(shù)據(jù)為最后一次補(bǔ)償,補(bǔ)償數(shù)據(jù)后,再次進(jìn)行步驟(11)及步驟(12),若Tx2’在(-150ps,+150ps)的范圍內(nèi),即為通過,否則為不通過;
(16)繼續(xù)重復(fù)步驟(1),至少3次后結(jié)束。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種芯片自動(dòng)測試機(jī)內(nèi)測試通道信號傳輸時(shí)間的校準(zhǔn)方法,其特征在于:所述的AC-cal載具板上的每個(gè)端口的一端分別通過線路與自動(dòng)測試機(jī)相應(yīng)的端口連接,并且AC-cal載具板上的每個(gè)端口的另一端通過線路匯聚一起。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種芯片自動(dòng)測試機(jī)內(nèi)測試通道信號傳輸時(shí)間的校準(zhǔn)方法,其特征在于:所述的AC-cal載具板上有128個(gè)通道。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種芯片自動(dòng)測試機(jī)內(nèi)測試通道信號傳輸時(shí)間的校準(zhǔn)方法,其特征在于:所述的Odd-Even載具板上的端口通過線路依次兩兩連接。
5.根據(jù)權(quán)利要求1或4所述的一種芯片自動(dòng)測試機(jī)內(nèi)測試通道信號傳輸時(shí)間的校準(zhǔn)方法,其特征在于:所述的Odd-Even載具板上有128個(gè)通道。
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