[發(fā)明專利]一種基于單片機(jī)設(shè)計(jì)的微歐電阻測(cè)試模塊

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• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202110282309.4
• 申請(qǐng)日: 2021-03-16
• 公開（公告）號(hào): CN113009236A
• 公開（公告）日: 2021-06-22
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 吳少華;高亮
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 東莞市明信技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G01R27/14
• 分類號(hào): G01R27/14
• 代理公司: 深圳快馬專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) 44362
• 代理人: 趙亮

本發(fā)明公開了一種基于單片機(jī)設(shè)計(jì)的微歐電阻測(cè)試模塊，屬于電阻測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，包括一個(gè)電壓轉(zhuǎn)換電路和一個(gè)analog電路，接通電壓轉(zhuǎn)換電路和analog電路，模塊的內(nèi)部自動(dòng)產(chǎn)生三個(gè)檔位的恒流源，電流在analog電路中流經(jīng)被測(cè)電阻時(shí)，在電阻兩端形成電壓值，所述的analog電路中還包括24位ADC，即24位模數(shù)轉(zhuǎn)換器、MCU微控制器、LCD顯示屏以及RS485/232接口。該基于單片機(jī)設(shè)計(jì)的微歐電阻測(cè)試模塊，體積較小，操作簡(jiǎn)單，使用方便，可以精準(zhǔn)的測(cè)量微歐級(jí)電阻，對(duì)一些稀有材質(zhì)阻值測(cè)試有著重要意義，同時(shí)，可以在LCD顯示屏上直觀顯示測(cè)試結(jié)果，還可以通過串口在其他設(shè)備上做二次開發(fā)。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明屬于電阻測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，具體為一種基于單片機(jī)設(shè)計(jì)的微歐電阻測(cè)試模塊。

背景技術(shù)

現(xiàn)代的電子產(chǎn)品對(duì)功能和性能都有極高的要求，一些特殊材質(zhì)的導(dǎo)通阻值要求更小，如果使用常規(guī)加壓求流測(cè)量電阻的方法，測(cè)試精度太差，也無法測(cè)量微歐級(jí)別的電阻。使用微歐級(jí)測(cè)量?jī)x表，一般體積較大，只適用于實(shí)驗(yàn)室測(cè)試，不能靈活應(yīng)用到我們實(shí)際的測(cè)試環(huán)境中。針對(duì)微歐級(jí)電阻的測(cè)量，現(xiàn)在市面上使用的都是測(cè)量型儀器儀表，體積大，不方便我們?cè)趯?shí)際測(cè)試的使用。

現(xiàn)有技術(shù)中，市面上現(xiàn)在使用微歐測(cè)量?jī)x表，采用開爾文4線法，通過恒流源的方式，檢測(cè)被測(cè)物兩端的電壓。從而計(jì)算其阻值，該測(cè)量方法，精度高，可以測(cè)量出微歐級(jí)別電阻。但是這種儀表一般體積較大，使用不方便，也不利于我們?cè)跍y(cè)量系統(tǒng)中做二次開發(fā)。

為此，我們需要開發(fā)一種微歐電阻測(cè)試模塊，具備體積小，方便使用的優(yōu)點(diǎn)，并可以在測(cè)試系統(tǒng)中進(jìn)行二次開發(fā)。

發(fā)明內(nèi)容

針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的不足，本發(fā)明提供了一種基于單片機(jī)設(shè)計(jì)的微歐電阻測(cè)試模塊，以解決上述背景技術(shù)中提出的問題。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供如下技術(shù)方案：一種基于單片機(jī)設(shè)計(jì)的微歐電阻測(cè)試模塊，包括一個(gè)電壓轉(zhuǎn)換電路和一個(gè)analog電路，接通電壓轉(zhuǎn)換電路和analog電路，模塊的內(nèi)部自動(dòng)產(chǎn)生三個(gè)檔位的恒流源，電流在analog電路中流經(jīng)被測(cè)電阻時(shí)，在電阻兩端形成電壓值，所述的analog電路中還包括24位ADC，即24位模數(shù)轉(zhuǎn)換器、MCU微控制器、LCD顯示屏以及RS485/232接口。

進(jìn)一步優(yōu)化本技術(shù)方案，所述電阻測(cè)試的方式選擇開爾文四線連接方式，通過恒流源進(jìn)行微歐電阻的測(cè)量。

進(jìn)一步優(yōu)化本技術(shù)方案，所述的微歐電阻測(cè)試模塊外掛有一個(gè)UART口，所述MCU微控制器通過UART口與核心板擴(kuò)展的RS485/232接口進(jìn)行接口通信。

進(jìn)一步優(yōu)化本技術(shù)方案，所述analog電路中還配置有低噪聲，高共模抑制比的儀表運(yùn)放，用于對(duì)電壓進(jìn)行放大。

進(jìn)一步優(yōu)化本技術(shù)方案，所述LCD顯示屏選用型號(hào)為L(zhǎng)CD12864的LCD顯示屏，具有4位/8位并行、2線或3線串行多種接口方式，顯示分辨率為128×64,內(nèi)置8192個(gè)16*16點(diǎn)漢字，和128個(gè)16*8點(diǎn)ASCII字符集。

進(jìn)一步優(yōu)化本技術(shù)方案，所述的微歐電阻測(cè)試模塊的參數(shù)包括：工作電壓電流：12V1A；測(cè)范圍量：1uR-2K；恒流源電流：10uA-1A共6個(gè)量程；分辨率：1uR；測(cè)量精度：20歐以內(nèi)±1％，20歐-2K可以達(dá)到0.1％。

進(jìn)一步優(yōu)化本技術(shù)方案，所述模塊內(nèi)部自動(dòng)產(chǎn)生的三個(gè)檔位的恒流源分別為UA級(jí)別恒流源、MA級(jí)別恒流源以及A級(jí)別恒流源。

進(jìn)一步優(yōu)化本技術(shù)方案，所述MCU微控制器為STARM32位Cortex-M3單片機(jī)，最高工作頻率72MHz，單周期乘法和除法器，內(nèi)部SRAM64K字節(jié)，具有2路I2C接口，支持SMBus/PMBus。

進(jìn)一步優(yōu)化本技術(shù)方案，所述的微歐電阻測(cè)試模塊經(jīng)24位ADC采集后，將電壓數(shù)據(jù)傳遞至MUC控制器中，由MUC控制器提供調(diào)試指令。