[發(fā)明專利]激光波長調(diào)制測量裝置及其測量方法、測量系統(tǒng)

在審

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• 申請日: 2021-03-15
• 公開（公告）號: CN113049227A
• 公開（公告）日: 2021-06-29
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 劉紅弟;張夢影;黃治家;劉健;成學(xué)平
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳市杰普特光電股份有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02;G01R31/00
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 張洋

1.一種激光波長調(diào)制測量裝置，其特征在于，包括控制器、電源、波形發(fā)生器、激光器驅(qū)動板、待測激光器、單模光纖、干涉儀以及數(shù)據(jù)采集器；

其中，所述控制器分別與所述電源、所述波形發(fā)生器、所述干涉儀以及所述數(shù)據(jù)采集器電連接，所述電源向所述激光器驅(qū)動板輸入驅(qū)動電流信號，所述波形發(fā)生器向所述激光器驅(qū)動板輸入三角波調(diào)制信號；所述激光器驅(qū)動板用于將經(jīng)過所述三角波調(diào)制信號調(diào)制的驅(qū)動電信號輸入至所述待測激光器，以驅(qū)動所述待測激光器發(fā)射激光束并通過所述單模光纖進(jìn)入所述干涉儀；所述干涉儀用于將所述待測激光器發(fā)射的激光束進(jìn)行干涉；所述數(shù)據(jù)采集器用于采集和記錄所述干涉儀的干涉信號；所述控制器用于對所述數(shù)據(jù)采集器所采集的干涉信號進(jìn)行處理和分析。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的激光波長調(diào)制測量裝置，其特征在于，所述激光波長調(diào)制測量裝置還包括分別與所述干涉儀連接和所述控制器電連接的光功率計，所述光功率計用于檢測耦合到所述單模光纖的激光束的光強(qiáng)和激光束耦合到所述單模光纖的效率，并傳輸至所述控制器。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的激光波長調(diào)制測量裝置，其特征在于，所述激光波長調(diào)制測量裝置還包括設(shè)于所述待測激光器和所述單模光纖的輸入端之間的準(zhǔn)直鏡，所述準(zhǔn)直鏡用于對所述待測激光器發(fā)射的激光束進(jìn)行準(zhǔn)直。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的激光波長調(diào)制測量裝置，其特征在于，所述激光波長調(diào)制測量裝置還包括設(shè)于所述準(zhǔn)直鏡與所述單模光纖的輸入端之間的物鏡，所述物鏡用于對自所述待測激光器發(fā)射的激光束進(jìn)行聚焦，并將激光束耦合到所述單模光纖。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的激光波長調(diào)制測量裝置，其特征在于，所述待測激光器為半導(dǎo)體激光器。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的激光波長調(diào)制測量裝置，其特征在于，所述數(shù)據(jù)采集器為數(shù)據(jù)采集卡或者示波器。

7.一種激光波長調(diào)制測量系統(tǒng)，其特征在于，包括如權(quán)利要求1至6中任意一項所述的激光波長調(diào)制測量裝置。

8.一種激光波長調(diào)制測量方法，其特征在于，采用如權(quán)利要求1至6中任意一項所述的激光波長調(diào)制測量裝置，所述測量方法包括：

分別調(diào)節(jié)電源向激光器驅(qū)動板輸入的驅(qū)動電流信號，以及波形發(fā)生器向所述激光器驅(qū)動板輸入的三角波調(diào)制信號；

將經(jīng)過所述三角波調(diào)制信號調(diào)制的驅(qū)動電流信號通過激光器驅(qū)動板輸入至待測激光器，以驅(qū)動所述待測激光器發(fā)射激光束；

對所述待測激光器發(fā)射的激光束進(jìn)行干涉處理；

采集和記錄所述激光束的干涉信號；

對所述干涉信號進(jìn)行處理和分析，以得到所述激光束的波長隨驅(qū)動電流信號對應(yīng)的驅(qū)動電流值的變化情況。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的激光波長調(diào)制測量方法，其特征在于，所述采集和記錄所述干涉儀的干涉信號，包括：

采集和記錄所述干涉儀的至少兩個周期的干涉信號。

10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的激光波長調(diào)制測量方法，其特征在于，在所述對所述待測激光器發(fā)射的激光束進(jìn)行干涉處理之前，所述方法還包括：

檢測所述激光束的光強(qiáng)。