[發明專利]一種眼圖參考電壓的校準方法及裝置有效
| 申請號： | 202110276674.4 | 申請日： | 2021-03-15 |
| 公開（公告）號： | CN113050012B | 公開（公告）日： | 2023-05-05 |
| 發明（設計）人： | 楊詩洋;劉飛;王頎;霍宗亮;葉甜春 | 申請（專利權）人： | 中國科學院微電子研究所 |
| 主分類號： | G01R35/00 | 分類號： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 北京集佳知識產權代理有限公司 11227 | 代理人： | 姚璐華 |
| 地址： | 100029 北京市朝陽*** | 國省代碼： | 北京;11 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 參考 電壓 校準 方法 裝置 | ||
1.一種眼圖參考電壓的校準方法，其特征在于，所述校準方法包括：
確定眼圖的上邊界和下邊界；
基于所述上邊界和所述下邊界，推算存在目標參考電壓的目標區域；
在所述目標區域內進行掃描，確定所述目標參考電壓；
所述確定眼圖的上邊界，包括：
獲取參考電壓的最大值；
基于所述最大值，判斷所述眼圖的眼寬是否大于第一設定值；
若是，則確定當前參考電壓所表征的電壓值為所述眼圖的上邊界；
若否，則將所述最大值減小第一預設電壓值，重新判斷所述眼圖的眼寬是否大于所述第一設定值；
所述確定眼圖的下邊界，包括：
獲取參考電壓的最小值；
基于所述最小值，判斷所述眼圖的眼寬是否大于第二設定值；
若是，則確定當前參考電壓所表征的電壓值為所述眼圖的下邊界；
若否，則將所述最小值增加第二預設電壓值，重新判斷所述眼圖的眼寬是否大于所述第二設定值。
2.根據權利要求1所述的校準方法，其特征在于，所述基于所述上邊界和所述下邊界，推算存在目標參考電壓的目標區域，包括：
獲取所述上邊界和所述下邊界的中間值；
基于所述中間值，向所述上邊界外擴第一預設值，且向所述下邊界外擴第二預設值，以形成所述目標區域。
3.根據權利要求1所述的校準方法，其特征在于，所述在所述目標區域內進行掃描，確定所述目標參考電壓，包括：
在第一方向上對所述目標區域內的參考電壓進行掃描；
判斷所述眼圖的眼寬是否處于最大值；
若是，則記錄當前參考電壓，即所述目標參考電壓；
若否，則增大或減小當前參考電壓，重新判斷所述眼圖的眼寬是否處于最大值；
其中，所述第一方向為所述上邊界指向所述下邊界的方向，或所述下邊界指向所述上邊界的方向。
4.一種眼圖參考電壓的校準裝置，其特征在于，所述校準裝置包括：
眼圖范圍確定模塊，用于確定眼圖的上邊界和下邊界；
目標區域推算模塊，用于基于所述上邊界和所述下邊界，推算存在目標參考電壓的目標區域；
參考電壓掃描模塊，用于在所述目標區域內進行掃描，確定所述目標參考電壓；
所述眼圖范圍確定模塊具體用于：
獲取參考電壓的最大值；
基于所述最大值，判斷所述眼圖的眼寬是否大于第一設定值；
若是，則確定當前參考電壓所表征的電壓值為所述眼圖的上邊界；
若否，則將所述最大值減小第一預設電壓值，重新判斷所述眼圖的眼寬是否大于所述第一設定值；
所述眼圖范圍確定模塊具體用于：
獲取參考電壓的最小值；
基于所述最小值，判斷所述眼圖的眼寬是否大于第二設定值；
若是，則確定當前參考電壓所表征的電壓值為所述眼圖的下邊界；
若否，則將所述最小值增加第二預設電壓值，重新判斷所述眼圖的眼寬是否大于所述第二設定值。
5.根據權利要求4所述的校準裝置，其特征在于，所述目標區域推算模塊具體用于：
獲取所述上邊界和所述下邊界的中間值；
基于所述中間值，向所述上邊界外擴第一預設值，且向所述下邊界外擴第二預設值，以形成所述目標區域。
6.根據權利要求4所述的校準裝置，其特征在于，所述參考電壓掃描模塊具體用于：
在第一方向上對所述目標區域內的參考電壓進行掃描；
判斷所述眼圖的眼寬是否處于最大值；
若是，則記錄當前參考電壓，即所述目標參考電壓；
若否，則增大或減小當前參考電壓，重新判斷所述眼圖的眼寬是否處于最大值；
其中，所述第一方向為所述上邊界指向所述下邊界的方向，或所述下邊界指向所述上邊界的方向。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中國科學院微電子研究所，未經中國科學院微電子研究所許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/202110276674.4/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇：一種換向旋塞閥
- 下一篇：預測結果標識及其模型訓練方法、裝置及計算機存儲介質
