[發明專利]一種緊縮場極化偏轉角的檢測方法及裝置

有效

• 申請號: 202110274462.2
• 申請日: 2021-03-15
• 公開（公告）號: CN113063991B
• 公開（公告）日: 2022-10-21
• 發明（設計）人: 姜涌泉;莫崇江
• 申請（專利權）人: 北京環境特性研究所
• 主分類號: G01R29/00
• 分類號: G01R29/00
• 代理公司: 北京格允知識產權代理有限公司 11609
• 代理人: 張莉瑜

1.一種緊縮場極化偏轉角的檢測方法，其特征在于，包括如下步驟：

S1、在緊縮場靜區內，對極化敏感標準目標進行單頻點轉角RCS測量，獲取RCS實測曲線；

S2、根據所述極化敏感標準目標的尺寸，在仿真軟件中創建模型，用平面波代替緊縮場饋源，進行與步驟S1中的測量條件相對應的單頻點轉角RCS仿真，且在仿真過程中，通過改變平面波的極化方向角度，獲取多條不同極化方向角度下的RCS仿真曲線；

S3、將所述RCS實測曲線分別與各條不同極化方向角度下的RCS仿真曲線進行比較，找到與所述RCS實測曲線最接近的RCS仿真曲線；

S4、若所述RCS實測曲線與該最接近的RCS仿真曲線之間的偏差不超過設定閾值，則得到緊縮場饋源的極化偏轉角等于該最接近的RCS仿真曲線對應的極化方向角度；否則返回步驟S2，并提高仿真的精度。

2.根據權利要求1所述的緊縮場極化偏轉角的檢測方法，其特征在于，還包括如下步驟：

S5、若該最接近的RCS仿真曲線對應的極化方向角度不為0°，則參照極化方向角度繞軸旋轉緊縮場饋源，并返回步驟S1進行復測，直至所述RCS實測曲線與極化方向角度為0°的RCS仿真曲線之間的偏差不超過設定閾值。

3.根據權利要求2所述的緊縮場極化偏轉角的檢測方法，其特征在于，還包括如下步驟：

S6、根據緊縮場的測量周期及使用頻次，定期返回步驟S1進行復測。

4.根據權利要求1所述的緊縮場極化偏轉角的檢測方法，其特征在于：

所述極化敏感標準目標為三面角反射器。

5.根據權利要求4所述的緊縮場極化偏轉角的檢測方法，其特征在于：

所述步驟S1中，對極化敏感標準目標進行單頻點轉角RCS測量時，將所述三面角反射器置于緊縮場靜區內，調整所述三面角反射器的姿態，使所述三面角反射器的角反口面垂直于來波方向，RCS測量系統調至設定頻點，并設置轉臺的旋轉角度，測量對應的RCS數據。

6.根據權利要求5所述的緊縮場極化偏轉角的檢測方法，其特征在于：

所述步驟S1中，設置轉臺的旋轉角度，測量對應的RCS數據時，轉臺的掃角范圍為±45°，掃描間隔為0.5°。

7.根據權利要求1所述的緊縮場極化偏轉角的檢測方法，其特征在于：

所述步驟S2中，通過改變平面波的極化方向角度，獲取多條不同極化方向角度下的RCS仿真曲線時，設置平面波的極化方向角度范圍為0～90°，仿真精度設為間隔0.5°；

所述步驟S4中，若所述RCS實測曲線與該最接近的RCS仿真曲線之間的偏差超過設定閾值，則返回步驟S2，并將仿真精度設為間隔0.1°。

8.一種緊縮場極化偏轉角的檢測裝置，其特征在于，包括：

實測模塊，用于獲取極化敏感標準目標在緊縮場靜區內進行單頻點轉角RCS測量的RCS實測曲線；

仿真模塊，用于根據所述極化敏感標準目標的尺寸，在仿真軟件中創建模型，以平面波代替緊縮場饋源，進行與單頻點轉角RCS測量條件相對應的單頻點轉角RCS仿真，且在仿真過程中，通過改變平面波的極化方向角度，獲取多條不同極化方向角度下的RCS仿真曲線；

比較模塊，用于將所述RCS實測曲線分別與各條不同極化方向角度下的RCS仿真曲線進行比較，找到與所述RCS實測曲線最接近的RCS仿真曲線；

評估模塊，用于評估所述RCS實測曲線與該最接近的RCS仿真曲線之間的偏差，若偏差不超過設定閾值，則得到緊縮場饋源的極化偏轉角等于該最接近的RCS仿真曲線對應的極化方向角度；否則調用所述仿真模塊，并提高仿真的精度。