[發明專利]一種工業相機暗角校正方法在審
| 申請號： | 202110271960.1 | 申請日： | 2021-03-12 |
| 公開（公告）號： | CN112991211A | 公開（公告）日： | 2021-06-18 |
| 發明（設計）人： | 易天格;宋偉銘;周中亞;劉敏;高曉陽 | 申請（專利權）人： | 中國大恒（集團）有限公司北京圖像視覺技術分公司;北京大恒圖像視覺有限公司 |
| 主分類號： | G06T5/00 | 分類號： | G06T5/00;G06T7/13 |
| 代理公司： | 北京律譜知識產權代理事務所(普通合伙) 11457 | 代理人： | 黃云鐸 |
| 地址： | 100084 北京市海淀區蘇*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 工業 相機 校正 方法 | ||
1.一種工業相機暗角校正方法，其特征在于，所述方法包括：
步驟1，根據設定的最小柵格寬度和標定圖像中像素點的像素灰度值，依次確定所述標定圖像的關鍵行和關鍵列，根據所述關鍵行和所述關鍵列組成柵格；
步驟2，根據預設鄰域半軸長L、所述標定圖像的行數和列數，確定所述柵格中各個柵格點的鄰域范圍，并計算所述柵格中相關點組在所述鄰域范圍內的鄰域均值，其中，所述相關點組包括四個相鄰的柵格點；
步驟3，根據所述鄰域均值，計算所述待校正圖像中各像素點對應的暗角校正系數，并根據所述暗角校正系數對待校正圖像進行暗角校正。
2.如權利要求1所述的工業相機暗角校正方法，其特征在于，所述步驟1中所述確定所述標定圖像的關鍵行，具體包括：
步驟11，根據所述最小柵格寬度和所述標定圖像的列數，在所述標定圖像中選取第一參考點集合；
步驟12，根據所述第一參考點集合中各個像素點的行坐標，計算第一坐標矩陣，并根據各個所述像素點的像素灰度值計算第一像素矩陣；
步驟13，根據所述第一坐標矩陣和所述第一像素矩陣，計算第一參數矩陣，并選取所述第一參數矩陣中的第一元素，記作行間隔參數；
步驟14，根據所述行間隔參數和所述標定圖像的行數，依次計算所述標定圖像的行間隔和行區間數量，并根據所述行間隔和所述行區間數量，確定所述關鍵行。
3.如權利要求2所述的工業相機暗角校正方法，其特征在于，所述步驟1中所述確定所述標定圖像的關鍵列，具體包括：
步驟15，在所述標定圖像中，選取相鄰兩個所述關鍵行中的像素點作為第二參考點集合；
步驟16，根據所述第二參考點集合中各個像素點的列坐標，計算第二坐標矩陣，并根據各個所述像素點的像素灰度值計算第二像素矩陣；
步驟17，根據所述第二坐標矩陣Bi和所述第二像素矩陣，計算第二參數矩陣，并選取所述第二參數矩陣中的第一元素，記作列間隔參數；
步驟18，根據所述列間隔參數和所述標定圖像的列數，依次計算所述標定圖像的列間隔和列區間數量，并根據所述列間隔和所述列區間數量，確定所述關鍵列。
4.如權利要求2所述的工業相機暗角校正方法，其特征在于，所述步驟14中，計算所述標定圖像的行間隔，之后還包括：
根據所述最小柵格寬度和最大柵格寬度，對所述行間隔進行修正，根據修正后的行間隔，計算所述行區間數量。
5.如權利要求3所述的工業相機暗角校正方法，其特征在于，所述步驟18中，計算所述標定圖像的列間隔，之后還包括：
根據所述最小柵格寬度和最大柵格寬度，對所述列間隔進行修正，根據修正后的列間隔，計算所述列區間數量。
6.如權利要求1所述的工業相機暗角校正方法，其特征在于，所述步驟2中，所述鄰域范圍至少包括上邊界、下邊界、左邊界、右邊界，所述鄰域均值avgm,n,l的取值由所述鄰域范圍內、所述標定圖像中各像素點的像素灰度值H(r,c)確定，所述鄰域均值avgm,n,l的計算公式為：
式中，c為所述標定圖像中像素點的行坐標，r為所述標定圖像中像素點的列坐標，所述H(r,c)為所述標定圖像中第c行第r列的像素點的像素灰度值，dup.(m,n,l)為所述上邊界，ddown.(m,n,l)為所述下邊界，dleft.(m,n,l)為所述左邊界，dright.(m,n,l)為所述右邊界。
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