[發明專利]一種玻片盤探測裝置、玻片盤自動探測設備

在審

• 申請號: 202110271271.0
• 申請日: 2021-03-12
• 公開（公告）號: CN115078740A
• 公開（公告）日: 2022-09-20
• 發明（設計）人: 張大慶
• 申請（專利權）人: 平湖萊頓光學儀器制造有限公司
• 主分類號: G01N35/00
• 分類號: G01N35/00;G01B11/00;G01V8/10
• 代理公司: 上海三和萬國知識產權代理事務所(普通合伙) 31230
• 代理人: 周建華

本申請的目的是提供一種玻片盤探測裝置、玻片盤自動探測設備，包括柜體、探測組件以及升降組件；探測組件包括第一探測件以及第一固定件，第一探測件通過第一固定件可前后移動地設置在柜體的后側板上；升降組件安裝于后側板，升降組件包括傳送裝置以及第二固定件，第二固定件上設置有與第一探測件相匹配的第一探測裝置，第一探測裝置用于探測第一探測件的存在，傳送裝置用于帶動第二固定件上下移動。當柜體內有玻片盤插入時，設置在柜體后側板上對應的第一探測件被頂出，可通過第一探測組件感應到被頂出的第一探測件，進而自動探測出柜體內插入的玻片盤。

技術領域

本申請涉及顯微鏡技術領域，尤其涉及一種玻片盤探測裝置、玻片盤自動探測設備。

背景技術

當用顯微鏡觀察細胞時，應用薄薄的易碎透明小片，這個小片就是玻片。在光學上，用于產生相位差的一種類似玻璃材料的薄片。由于玻片在使用過程中需要避免其受到污染，因此在使用的過程中應盡可能地避免接觸玻片。

現有技術中通常采用玻片架來放置玻片，通過玻片架來分層放置玻片，避免玻片與玻片之間的接觸污染。而玻片架通常包括多層，使用者在插入玻片盤時需要注意哪一層已經插入了玻片盤。

發明內容

本申請的一個目的是提供一種玻片盤探測裝置、玻片盤自動探測設備。

根據本申請的一個方面，本申請提供了一種玻片盤探測裝置，包括柜體、探測組件以及升降組件；

所述探測組件包括第一探測件以及第一固定件，所述第一探測件通過所述第一固定件可前后移動地設置在所述柜體的后側板上；

所述升降組件安裝于所述后側板，所述升降組件包括傳送裝置以及第二固定件，所述第二固定件上設置有與所述第一探測件相匹配的第一探測裝置，所述第一探測裝置用于探測所述第一探測件的存在，所述傳送裝置用于帶動所述第二固定件上下移動。

在一些實施例中，所述柜體內水平設置有一層或多層托盤結構，所述托盤結構用于放置水平插入到所述柜體內的玻片盤。

在一些實施例中，所述后側板在每層所述托盤結構的對應位置設置有通孔，所述第一探測件可前后移動地穿插在所述通孔內。

在一些實施例中，所述第一固定件包括伸縮件以及連接板，所述伸縮件的一端通過第一連接件連接所述第一探測件的一端，所述伸縮件的另一端連接所述連接板的一端。

在一些實施例中，所述連接板為L型連接板，所述L型連接板的長邊板上設置有限位孔，所述第一連接件穿過所述限位孔，所述第一連接件的一端連接所述伸縮件，所述第一連接件的另一端設置在所述第一探測件的一端。

在一些實施例中，所述伸縮件為拉伸彈簧。

在一些實施例中，所述第一探測裝置包括光電限位器以及與所述光電限位器電連接的電路板，所述光電限位器設置在所述第二固定件的一側，所述電路板設置在所述第二固定件的另一側，所述電路板與所述光電限位器電連接，通過所述光電限位器探測所述第一探測件的存在。

在一些實施例中，所述傳送裝置包括傳送件以及電機，所述第二固定件設置在所述傳送件上，所述傳送件的一端連接所述電機。

在一些實施例中，所述傳送件包括上下設置在所述柜體上的兩個漲緊輪以及設置在所述漲緊輪上的同步帶，所述第二固定件設置在所述同步帶上。

在一些實施例中，位于所述柜體上部的漲緊輪的左右兩側設置有固定座，所述固定座通過導桿與所述漲緊輪連接。

在一些實施例中，所述柜體的后側板上設置有第二探測裝置，所述第二固定件靠近所述傳送裝置的一側設置有第二探測件，所述第二探測裝置用于探測所述第二探測件的存在。

在一些實施例中，所述第二探測裝置包括上下設置在所述柜體后側板上的三個光電限位器，以及與所述三個光電限位器電連接的電路板，所述電路板安裝于所述柜體上。