[發明專利]一種兩維相控陣微波前端校準網絡及方法

有效

• 申請號: 202110268054.6
• 申請日: 2021-03-12
• 公開（公告）號: CN113014294B
• 公開（公告）日: 2023-02-07
• 發明（設計）人: 劉俊;武華鋒;李輝;楊莉;王元源;席安安
• 申請（專利權）人: 西安電子工程研究所
• 主分類號: H04B7/0404
• 分類號: H04B7/0404;H04B7/01
• 代理公司: 西安凱多思知識產權代理事務所(普通合伙) 61290
• 代理人: 劉新瓊

1.一種兩維相控陣微波前端校準方法，其采用的校準網絡包括一個功放網絡、1個校準通道、N個N通道的線陣、N個耦合器；所述的線陣包括N個天線輻射單元、N個TR組件、一個變頻通道和一個數模/模數變換，每個天線輻射單元連接一個TR組件、N個TR組件連接一個變頻通道，變頻通道連接數模/模數變換；每個線陣的第一個通道連接一個耦合器；所述的耦合器通過開關分別連接功分網絡和吸收負載；所述的校準通道連接功分網絡；特征在于步驟如下：

步驟1：對TR組件N組線陣內部N通道單獨標定，形成N組TR組件的初始幅相差數據對天線陣列的N組線陣內部N通道單獨標定，形成N組天線陣列的初始幅相差數據對天線陣列的校準通道進行標定，得到校準網絡初始的N路幅相差數據

步驟2：將TR組件的初始幅相差數據和天線陣列的初始幅相差數據對應通道依次相加得到N組線陣內配平的初始控制碼

步驟3：近場測試，對N組線陣內部N通道的初始控制碼進行驗證和修正，保證完全配平，修正后的控制碼

步驟4：線陣間的實時校準，以第一通道為參考，通過控制校準通道開關，依次得到各線陣間的幅相差數據

步驟5：將近場測試得到的控制碼每個線陣減去陣列天線校準通道初始的N路幅相差數據和線陣間的實時校準得到的線陣間的幅相差數據之和，得到一個完整的N*N陣列初始幅相配平控制碼以此作為生成方向圖的初始幅相控制碼。

2.根據權利要求1所述的兩維相控陣微波前端校準方法，其特征在于步驟1采用矢量網絡分析儀進行幅相差標定。

3.根據權利要求1所述的兩維相控陣微波前端校準方法，其特征在于所述的N為8。

4.根據權利要求1所述的兩維相控陣微波前端校準方法，其特征在于所述的TR組件為瓦片式TR組件。

5.根據權利要求1所述的兩維相控陣微波前端校準方法，其特征在于所述的耦合器為帶狀線耦合器。

6.根據權利要求1所述的兩維相控陣微波前端校準方法，其特征在于所述的開關為吸收式單刀雙擲開關。