[發明專利]一種定量分析鈾含量的方法

有效

• 申請號: 202110267903.6
• 申請日: 2021-03-11
• 公開（公告）號: CN113063770B
• 公開（公告）日: 2022-06-28
• 發明（設計）人: 王祥麗;王燕伶;司宇
• 申請（專利權）人: 中國原子能科學研究院
• 主分類號: G01N21/71
• 分類號: G01N21/71
• 代理公司: 北京英創嘉友知識產權代理事務所(普通合伙) 11447
• 代理人: 董琳

1.一種定量分析鈾含量的方法，其特征在于，包括以下步驟：

使用定標樣本進行誘導擊穿光譜分析，并分別建立多個特征波長的標準曲線；所述多個特征波長包括547.5nm的第一特征波長，548.01nm的第二特征波長，548.219nm的第三特征波長和597.60nm的第四特征波長；

對待測樣本進行誘導擊穿光譜分析，并根據所述標準曲線得到所述多個特征波長分別對應的多個待定鈾含量；

取所述多個待定鈾含量的平均值作為所述待測樣本的測量鈾含量。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述使用定標樣本進行誘導擊穿光譜分析，并建立多個特征波長的標準曲線，包括：

對每個所述定標樣本：進行誘導擊穿光譜分析，分別得到所述第一特征波長對應的第一定標光譜強度、所述第二特征波長對應的第二定標光譜強度、所述第三特征波長對應的第三定標光譜強度，以及所述第四特征波長對應的第四定標光譜強度；

根據所有所述定標樣本的鈾含量和第一定標光譜強度，確定鈾含量與所述第一定標光譜強度之間的第一標準曲線；根據所有所述定標樣本的鈾含量和第二定標光譜強度，確定鈾含量與所述第二定標光譜強度之間的第二標準曲線；根據所有所述定標樣本的鈾含量和第三定標光譜強度，確定鈾含量與所述第三定標光譜強度之間的第三標準曲線；并且，根據所有所述定標樣本的鈾含量和第四定標光譜強度，確定鈾含量與所述第四定標光譜強度之間的第四標準曲線。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述對待測樣本進行誘導擊穿光譜分析，并根據所述標準曲線得到所述多個特征波長分別對應的多個待定鈾含量，包括：

對待測樣本進行誘導擊穿光譜分析，獲得所述待測樣本在所述第一特征波長處的第一光譜強度、在所述第二特征波長處的第二光譜強度、在所述第三特征波長處的第三光譜強度、在所述第四特征波長處的第四光譜強度；

根據所述第一光譜強度與所述第一標準曲線確定第一待定鈾含量，根據所述第二光譜強度與所述第二標準曲線確定第二待定鈾含量，根據所述第三光譜強度與所述第三標準曲線確定第三待定鈾含量，并且根據所述第四光譜強度與所述第四標準曲線確定第四待定鈾含量。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述定標樣本為采用含鈾溶液浸漬后的采樣濾膜；所述含鈾溶液包含硝酸鈾酰和/或含肼的四價鈾溶液。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述采樣濾膜厚度為0.5-2.5mm、孔徑為0.1-10μm。

6.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述定標樣本的鈾含量為4-40μg/cm2。

7.根據權利要求6所述的方法，其特征在于，所述定標樣本的鈾含量為4-28μg/cm2。

8.根據權利要求6所述的方法，其特征在于，任意兩個所述定標樣本的鈾含量差值的最小值為5-10μg/cm2。

9.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述待測樣本為含鈾氣體的采樣濾膜樣本；所述待測樣本的鈾含量范圍為4-40μg/cm2。

10.根據權利要求9所述的方法，其特征在于，所述待測樣本的鈾含量范圍為4-28μg/cm2。

11.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述誘導擊穿光譜分析的分析條件包括：延遲時間為0.3-2μs。

12.根據權利要求11所述的方法，其特征在于，所述延遲時間為0.5μs。