[發明專利]測量數據分析方法、裝置、介質及電子設備

在審

• 申請號: 202110267883.2
• 申請日: 2021-03-11
• 公開（公告）號: CN115086970A
• 公開（公告）日: 2022-09-20
• 發明（設計）人: 譚鈺山;蒙波;何延;周文金
• 申請（專利權）人: 中國電信股份有限公司
• 主分類號: H04W16/18
• 分類號: H04W16/18;H04W16/24
• 代理公司: 北京律智知識產權代理有限公司 11438
• 代理人: 孫寶海;闞梓瑄

1.一種測量數據分析方法，其特征在于，包括：

確定測量數據集合中各測量數據對應的采樣點，得到采樣點集合；

在柵格化的預設區域中定位所述采樣點集合中各采樣點所屬的柵格；

根據所述采樣點集合中各采樣點所對應的小區生成所述預設區域中各柵格的小區覆蓋結果。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在柵格化的預設區域中定位所述采樣點集合中各采樣點所屬的柵格，包括：

根據柵格編號規則和柵格化參數定位所述采樣點集合中各采樣點所屬的柵格；其中，所述柵格化參數至少包括柵格尺寸和柵格度數。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，根據所述采樣點集合中各采樣點所對應的小區生成所述預設區域中各柵格的小區覆蓋結果，包括：

根據預設頻段對應的篩選規則確定從所述各柵格中篩選目標柵格；

確定所述目標柵格中對應于不同小區的采樣點的數量和所述目標柵格中的總采樣點數量；

根據所述對應于不同小區的采樣點的數量相對于所述總采樣點數量的占比生成所述目標柵格的小區覆蓋結果；

其中，所述小區覆蓋結果包括無重疊覆蓋或預設強度的重疊覆蓋，所述預設強度用于表征重疊覆蓋程度。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在柵格化的預設區域中定位所述采樣點集合中各采樣點所屬的柵格之后，所述方法還包括：

根據預設篩選規則從所述各柵格中篩選目標柵格；

對所述目標柵格進行聚類并根據聚類結果去除所述目標柵格中的噪點柵格，得到多簇待處理柵格；

根據每簇待處理柵格中的柵格數量以及柵格中心坐標確定基站坐標；

將所述基站坐標與工程坐標進行比對，并根據比對結果確定方位角中心點；

根據所述方位角中心點分析計算小區方位角并輸出。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，根據比對結果確定方位角中心點，包括：

若比對結果表示所述基站坐標與所述工程坐標之間的距離大于預設距離，則將所述基站坐標確定為所述方位角中心點；

若所述比對結果表示所述距離小于等于所述預設距離，則將所述工程坐標確定為所述方位角中心點；

根據獲取到的工程參數數據核對所述小區坐標正確性，并根據核對結果確定小區方位角，作為小區接反和越區的判定依據。

6.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在柵格化的預設區域中定位所述采樣點集合中各采樣點所屬的柵格之后，所述方法還包括：

根據所述測量數據集合中各測量數據中的無線資源利用率確定不同小區對應的容量；其中，所述容量用于表征小區一天內的忙閑程度；

根據所述不同小區對應的容量對所述預設區域中的小區進行區別化標記。

7.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在柵格化的預設區域中定位所述采樣點集合中各采樣點所屬的柵格之后，所述方法還包括：

確定所述預設區域中各小區的當前忙碌時長；

根據所述預設區域中各柵格的采樣點、所述采樣點集合中各采樣點所對應的小區以及所述預設區域中各小區的當前忙碌時長計算所述預設區域中各柵格的當前忙碌時長。

8.一種測量數據分析裝置，其特征在于，包括：

采樣點獲取單元，用于確定測量數據集合中各測量數據對應的采樣點，得到采樣點集合；

采樣點定位單元，用于在柵格化的預設區域中定位所述采樣點集合中各采樣點所屬的柵格；

小區覆蓋結果確定單元，用于根據所述采樣點集合中各采樣點所對應的小區生成所述預設區域中各柵格的小區覆蓋結果。

9.一種計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，其特征在于，所述計算機程序被處理器執行時實現權利要求1-7任一項所述的方法。

10.一種電子設備，其特征在于，包括：

處理器；以及

存儲器，用于存儲所述處理器的可執行指令；

其中，所述處理器配置為經由執行所述可執行指令來執行權利要求1-7任一項所述的方法。