[發(fā)明專利]碳酸鹽巖礦物組分的確定方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110266668.0 | 申請日: | 2021-03-11 |
| 公開(公告)號: | CN113153259A | 公開(公告)日: | 2021-07-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 張正玉;侯克均;吳見萌;葛祥;劉忠明;繆祥禧;樊靖宇;黎澤剛;王志文;許志東;趙翔 | 申請(專利權(quán))人: | 中石化石油工程技術(shù)服務(wù)有限公司;中石化經(jīng)緯有限公司;中石化經(jīng)緯有限公司西南測控公司 |
| 主分類號: | E21B47/00 | 分類號: | E21B47/00;E21B49/00;G06F30/20 |
| 代理公司: | 北京聿宏知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11372 | 代理人: | 吳大建;陳敏 |
| 地址: | 100029 北京*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 碳酸鹽 礦物 組分 確定 方法 裝置 設(shè)備 存儲 介質(zhì) | ||
本申請?zhí)峁┑囊环N碳酸鹽巖礦物組分的確定方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì),包括:獲取目標(biāo)井的測井?dāng)?shù)據(jù),其中,所述測井?dāng)?shù)據(jù)包括:聲波測井?dāng)?shù)據(jù)、第一電阻率測井?dāng)?shù)據(jù)、第一核磁測井?dāng)?shù)據(jù)、伽馬測井?dāng)?shù)據(jù);將所述第一電阻率測井?dāng)?shù)據(jù)和所述第一核磁測井?dāng)?shù)據(jù)輸入至預(yù)先建立的目標(biāo)擬中子數(shù)據(jù)計算模型中確定第一擬中子數(shù)據(jù),其中,所述目標(biāo)擬中子數(shù)據(jù)計算模型基于多組目標(biāo)樣本測井?dāng)?shù)據(jù)訓(xùn)練得到,每組目標(biāo)樣本測井?dāng)?shù)據(jù)包括:第一補償中子數(shù)據(jù)、第二電阻率測井?dāng)?shù)據(jù)和第二核磁測井?dāng)?shù)據(jù);基于所述聲波測井?dāng)?shù)據(jù)、所述第一擬中子數(shù)據(jù)和所述伽馬測井?dāng)?shù)據(jù)確定所述目標(biāo)井的地層的礦物組分含量。
技術(shù)領(lǐng)域
本申請涉及石油開發(fā)與勘探技術(shù)領(lǐng)域,特別地涉及一種碳酸鹽巖礦物組分的確定方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)。
背景技術(shù)
在石油天然氣領(lǐng)域,計算地層碳酸鹽巖礦物組分的方法有很多,其中在測井方面主要有常規(guī)綜合和元素俘獲等技術(shù),常規(guī)測井方法包括PE法、基于復(fù)雜礦物組分的補償中子曲線-密度測井曲線(CNL-DEN)交會法或聲波測井曲線-補償中子曲線(AC-CNL)交會法、基于巖心的回歸模型等方法。元素俘獲測井主要測量地層元素含量,采用氧化物的閉合模型得到鎂和鈣元素的含量,以此計算各種礦物組分含量,目前該技術(shù)在國內(nèi)主要由斯倫貝謝公司提供服務(wù),不銷售儀器設(shè)備和解釋軟件。因此,對于碳酸鹽巖地層,國內(nèi)通用的方法仍是采用CNL-DEN交會法或聲波測井曲線-補償中子曲線AC-CNL交會法計算地層的礦物含量,但是不管是CNL-DEN或AC-CNL交會法都需要采集補償中子曲線,而對于部分復(fù)雜井或水平井,僅采集了伽馬、聲波、雙側(cè)向電阻率等曲線時,就不能計算礦物組分。
發(fā)明內(nèi)容
針對上述問題,本申請?zhí)峁┮环N碳酸鹽巖礦物組分的確定方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)。
本申請?zhí)峁┝艘环N碳酸鹽巖礦物組分的確定方法,包括:
獲取目標(biāo)井的測井?dāng)?shù)據(jù),其中,所述測井?dāng)?shù)據(jù)包括:聲波測井?dāng)?shù)據(jù)、第一電阻率測井?dāng)?shù)據(jù)、第一核磁測井?dāng)?shù)據(jù)、伽馬測井?dāng)?shù)據(jù);
將所述第一電阻率測井?dāng)?shù)據(jù)和所述第一核磁測井?dāng)?shù)據(jù)輸入至預(yù)先建立的目標(biāo)擬中子數(shù)據(jù)計算模型中確定第一擬中子數(shù)據(jù),其中,所述目標(biāo)擬中子數(shù)據(jù)計算模型基于多組目標(biāo)樣本測井?dāng)?shù)據(jù)訓(xùn)練得到,每組目標(biāo)樣本測井?dāng)?shù)據(jù)包括:第一補償中子數(shù)據(jù)、第二電阻率測井?dāng)?shù)據(jù)和第二核磁測井?dāng)?shù)據(jù);
基于所述聲波測井?dāng)?shù)據(jù)、所述第一擬中子數(shù)據(jù)和所述伽馬測井?dāng)?shù)據(jù)確定所述目標(biāo)井的地層的礦物組分含量。
在一些實施例中,所述方法還包括:
獲取第一樣本測井?dāng)?shù)據(jù)集,其中,所述第一樣本測井?dāng)?shù)據(jù)集中包括多組第一樣本測井?dāng)?shù)據(jù),每組第一樣本測井?dāng)?shù)據(jù)至少包括:第一補償中子數(shù)據(jù)、其他測井?dāng)?shù)據(jù),其中,所述其他測井?dāng)?shù)據(jù)至少包括:第二電阻率測井?dāng)?shù)據(jù)和第二核磁測井?dāng)?shù)據(jù);
確定所述第一補償中子數(shù)據(jù)與其他測井?dāng)?shù)據(jù)中各個測井?dāng)?shù)據(jù)之間的相關(guān)性的值;
基于所述相關(guān)性的值確定目標(biāo)樣本測井?dāng)?shù)據(jù),所述目標(biāo)樣本測井?dāng)?shù)據(jù)包括:第一補償中子數(shù)據(jù)、第二電阻率測井?dāng)?shù)據(jù)和第二核磁測井?dāng)?shù)據(jù),其中,所述第一補償中子數(shù)據(jù)與所述第二電阻率測井?dāng)?shù)據(jù)之間的相關(guān)性的值大于相關(guān)性閾值,所述第一補償中子數(shù)據(jù)與第二核磁測井?dāng)?shù)據(jù)之間的相關(guān)性的值大于相關(guān)性閾值;
基于所述目標(biāo)樣本測井?dāng)?shù)據(jù)確定所述目標(biāo)擬中子數(shù)據(jù)計算模型。
在一些實施例中,所述基于所述目標(biāo)樣本測井?dāng)?shù)據(jù)確定所述目標(biāo)擬中子數(shù)據(jù)計算模型,包括:
基于所述目標(biāo)樣本測井?dāng)?shù)據(jù)確定中間擬中子數(shù)據(jù)計算模型;
獲取參考井的第二樣本測井?dāng)?shù)據(jù)集,其中,所述第二樣本測井?dāng)?shù)據(jù)集中包括至少一組第二樣本測井?dāng)?shù)據(jù),所述第二樣本測井?dāng)?shù)據(jù)包括:第三電阻率測井?dāng)?shù)據(jù)、第三核磁測井?dāng)?shù)據(jù)、第二補償中子數(shù)據(jù);
基于所述中間擬中子數(shù)據(jù)計算模型、第三電阻率測井?dāng)?shù)據(jù)、第三核磁測井?dāng)?shù)據(jù)確定第二擬中子數(shù)據(jù);
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中石化石油工程技術(shù)服務(wù)有限公司;中石化經(jīng)緯有限公司;中石化經(jīng)緯有限公司西南測控公司,未經(jīng)中石化石油工程技術(shù)服務(wù)有限公司;中石化經(jīng)緯有限公司;中石化經(jīng)緯有限公司西南測控公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
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