[發(fā)明專利]一種基于比色陣列技術的爆炸物探測方法

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• 申請日: 2021-03-11
• 公開（公告）號: CN112903673A
• 公開（公告）日: 2021-06-04
• 發(fā)明（設計）人: 竇新存;朱建成;李宏剛;馬金龍;祖佰祎;李毓姝
• 申請（專利權）人: 中國科學院新疆理化技術研究所
• 主分類號: G01N21/78
• 分類號: G01N21/78;G01N21/01
• 代理公司: 烏魯木齊中科新興專利事務所(普通合伙) 65106
• 代理人: 張莉

1.一種基于比色陣列技術的爆炸物探測方法，其特征在于，該方法涉及的探測儀是由采樣模塊（1）、圖像采集模塊（2）、ARM板卡（3）、FPGA板卡（4）、液晶顯示屏（5）、鋰電池（6）、電源開關（7）組成；所述采樣模塊（1）是由采樣口（8）、滑蓋（9）、微動開關a（10）、密封蓋板（11）、電機（12）、芯片卡槽（13）、微納比色傳感芯片（14）、微動開關b（15）、真空泵（16）、機架（23）、齒輪（24）、氣密軟管（25）和采樣腔體（26）組成，在機架（23）上分別固定電機（12）和齒輪（24），在電機（12）上設有密封蓋板（11）和芯片卡槽（13），微納比色傳感芯片（14）嵌入芯片卡槽（13）內，真空泵（16）通過氣密軟管（25）與采樣腔體（26）連接，在機架（23）的一端設有采樣口（8）；

所述圖像采集模塊（2）是由標準白色LED環(huán)形光源（18）、大靶面雙遠心鏡頭（19）及高速工業(yè)相機（20）組成，標準白色LED環(huán)形光源（18）、大靶面雙遠心鏡頭（19）和高速工業(yè)相機（20）固定在一條軸線上，并固定在探測儀的上端；

在探測儀的下端分別設有ARM板卡（3）、FPGA板卡（4）和鋰電池（6），FPGA板卡（4）設在ARM板卡（3）的上部，在ARM板卡（3）的一端設有4G模組（21），ARM板卡（3）的另一端設有SD卡存儲區(qū)（22），鋰電池（6）通過ARM板卡（3）控制；

在探測儀的上端分別設有采樣按鈕（17）、液晶顯示屏（5）和微動開關a（10），液晶顯示屏（5）通過MIPI接口與ARM板卡（3）連接；電源開關（7）和滑蓋（9）分別設在探測儀的外殼上；具體操作按下列步驟進行：

a、長按電源開關（7）3s，等待爆炸物氣氛探測儀啟動；

b、打開探測儀前段滑蓋（9），微動開關a（10）檢測到信號，按照液晶顯示屏（5）提示并點擊是的圖標，電機（12）將芯片卡槽（13）旋轉至與圖像采集模塊（2）同一條軸線處，撕掉微納比色傳感芯片（14）上層保護膜，并將微納比色傳感芯片（14）插入芯片卡槽（13）中，按照液晶顯示屏（5）提示并點擊完成的圖標，將滑蓋（9）閉合；

c、將探測儀采樣口（8）指向待測區(qū)域，進行吸氣采樣，采樣結束后電機（12）將芯片卡槽（13）和微納比色傳感芯片（14）旋轉至與圖像采集模塊（2）同一條軸線處，微動開關b（15）檢測旋轉到位后圖像采集模塊（2）進行圖像采集，并對圖像數據預處理及算法識別，檢測結果通過液晶顯示屏（5）顯示檢測結果，如未檢測到可疑物，液晶顯示模塊（5）顯示未檢出危爆品；如檢測到可疑物，液晶顯示屏（5）顯示檢測到炸藥或易制爆原料名稱；

d、檢測結果、時間、地理信息通過4G模組（21）上傳至相應的后臺服務器。

2.根據權利要求1所述的一種基于比色陣列技術的爆炸物探測方法，其特征在于，該方法所述的采樣模塊（1）中的電機（12）將芯片卡槽（13）通過齒輪（24）旋轉至特定角度及采樣模塊（1）中采樣腔體（26）的曲面及圓角處理，使載有晶簇微粒的氣流在腔體中保留更長時間。

3.根據權利要求1所述的一種基于比色陣列技術的爆炸物探測方法，其特征在于，該方法中所述的采樣模塊（1）根據系統設置分為一鍵模式和半自動模式。

4.根據權利要求3所述的一種基于比色陣列技術的爆炸物探測方法，其特征在于，一鍵模式為按下采樣按鈕（17）后松開，真空泵（16）進行吸氣采樣，吸氣采樣時間為系統設置默認時間。

5.根據權利要求3所述的一種基于比色陣列技術的爆炸物探測方法，其特征在于，半自動模式為按下采樣按鈕（17）不松開，真空泵（16）進行吸氣采樣，松開采樣按鈕（17），真空泵（16）結束吸氣采樣，采樣時間可自由控制。