[發明專利]硬盤性能測試方法、裝置、計算機設備和存儲介質

在審

• 申請號: 202110266499.0
• 申請日: 2021-03-11
• 公開（公告）號: CN113035266A
• 公開（公告）日: 2021-06-25
• 發明（設計）人: 張迎華;辛云龍;蒲嘉鵬;王天春;王宇軒;王瑞
• 申請（專利權）人: 曙光信息產業（北京）有限公司
• 主分類號: G11C29/56
• 分類號: G11C29/56
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 景懷宇

1.一種硬盤性能測試方法，其特征在于，所述方法包括：

在待檢測硬盤與服務器通過工裝隔離連接的情況下，獲取多個待檢測硬盤對應的性能基準值；

在所述多個待檢測硬盤插入所述服務器的情況下，獲取預設風扇轉速下各所述待檢測硬盤的性能測試值；

根據各所述待檢測硬盤的性能測試值和對應的性能基準值，確定各所述待檢測硬盤的性能信息。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲取多個待檢測硬盤對應的性能基準值，包括：

按照預設的采集次數與采集間隔，獲取所述待檢測硬盤的多個初始性能基準值；所述初始性能基準值為在所述待檢測硬盤與服務器通過工裝隔離連接的情況下，所述待檢測硬盤執行讀寫操作所產生的性能數據；

根據所述多個初始性能基準值，確定所述待檢測硬盤的性能基準值。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述根據所述多個初始性能基準值，確定所述待檢測硬盤的性能基準值，包括：

從所述待檢測硬盤的多個初始性能基準值中，按照采集次序，剔除第一個初始性能基準值和最后一個初始性能基準值；

計算所述待檢測硬盤的所有剩余初始性能基準值的平均值作為所述待檢測硬盤的性能基準值。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

根據所有所述待檢測硬盤的性能基準值，計算所有所述待檢測硬盤的總平均性能基準值；

計算所述總平均性能基準值與各所述待檢測硬盤的性能基準值的差值；

若當前待檢測硬盤的差值處于預設的第一差值范圍內，則確定所述當前待檢測硬盤正常；

若當前待檢測硬盤的差值處于所述第一差值范圍之外，則確定所述當前待檢測硬盤異常。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲取預設風扇轉速下的各所述待檢測硬盤的性能測試值，包括：

通過基板管理控制器BMC控制所述服務器的風扇轉速分別達到不同的所述預設風扇轉速；

在不同的所述預設風扇轉速下，分別獲取各所述待檢測硬盤的性能測試值。

6.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據各所述待檢測硬盤的性能基準值和性能測試值，確定各所述待檢測硬盤的性能信息，包括：

根據各所述待檢測硬盤在不同的所述預設風扇轉速下的性能測試值和性能基準值，計算各所述待檢測硬盤在不同所述預設風扇轉速下的性能降低比；

根據所述性能降低比，確定各所述待檢測硬盤的性能信息。

7.根據權利要求6所述的方法，其特征在于，所述根據所述性能降低比，確定各所述待檢測硬盤的性能信息，包括：

若所述待檢測硬盤的性能降低比處于所述預設風扇轉速對應的閾值范圍內，則確定在所述預設風扇轉速下，所述待檢測硬盤的性能良好；

若所述待檢測硬盤的性能降低比處于所述預設風扇轉速對應的閾值范圍之外，則確定在所述預設風扇轉速下，各所述待檢測硬盤的性能差。

8.根據權利要求1-6中任一項所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

調用掃描工具對所有所述待檢測硬盤的扇區進行壞塊檢測；

若所述待檢測硬盤的扇區存在壞塊情況，則更換所述待檢測硬盤，并返回執行調用掃描工具對所有所述待檢測硬盤的扇區進行壞塊檢測步驟，直到檢測到所有所述待檢測硬盤的扇區均不存在壞塊的情況下，執行所述獲取各所述待檢測硬盤對應的性能基準值的步驟。

9.一種硬盤性能測試裝置，其特征在于，所述裝置包括：

第一獲取模塊，用于在待檢測硬盤與服務器通過工裝隔離連接的情況下，獲取多個待檢測硬盤對應的性能基準值；

第二獲取模塊，用于在所述多個待檢測硬盤插入所述服務器的情況下，獲取預設風扇轉速下各所述待檢測硬盤的性能測試值；

確定模塊，用于根據各所述待檢測硬盤的性能測試值和對應的性能基準值，確定各所述待檢測硬盤的性能信息。