[發明專利]一種適用于薄油層水平井油層對比方法

在審

• 申請號: 202110266411.5
• 申請日: 2021-03-11
• 公開（公告）號: CN112727441A
• 公開（公告）日: 2021-04-30
• 發明（設計）人: 魏淑燕;劉性全;劉云燕;潘國輝;范彩匣;高慧英;卜春明
• 申請（專利權）人: 大慶油田有限責任公司;中國石油天然氣股份有限公司
• 主分類號: E21B47/00
• 分類號: E21B47/00;E21B49/00
• 代理公司: 大慶知文知識產權代理有限公司 23115
• 代理人: 朱培杰

1.一種適用于薄油層水平井油層對比方法，其特征在于包括以下步驟：

(一)、水平井測井曲線校正，

①針對水平井伽馬曲線與深淺電阻率曲線均不對應，應用以下公式進行電阻率校正：

式中：R_h—電阻率；R_sh—純泥巖地層的隨鉆電阻率；R_sd—純砂巖地層的隨鉆電阻率；H_sh—純泥巖地層厚度；H_sd—純砂巖地層厚度；θ—地層面法線與井軸的夾角；

②針對水平井伽馬曲線與深電阻率曲線對應，與淺電阻率曲線不對應，對電阻率進行校正，電阻率加權平均校正公式為：

式中：Rt—地層真電阻率；R_測-測量電阻率；

(二)、對校正后的測井曲線進行校直和長度校正，

①水平井測井曲線校直，

②水平井測井曲線長度校正，假定水平井與直井鉆遇相同地層，對于沿地層傾向鉆進的水平井段，校直后水平井測井曲線長于直井測井曲線，對水平井測井曲線校直后進行壓縮，校正比例為：

對于水平井鉆井方向與地層傾向相反的水平井段，曲線校直后進行拉伸，校正比例為：

式中：α—地層傾角，度；h—地層厚度，m；β—水平井井斜角，度；l₁—直井深測井曲線長度，m；l₂—水平井垂深測井曲線長度，m；l₃—水平井AB水平井段長度，m；

(三)、依據測井曲線旋回對比的方法，結合直井的油層對比方法初步劃分水平井油層界限；

(四)、井震聯合校正水平井油層分層，

①通過建立直井地震反射層與地質層位對應關系，將地質層位G層作為區域標志層，地質分層H層作為輔助標志層；

②水平井油層分層校正；

(五)、水平井油層分層驗證：依次進行地質模型驗證、砂體驗證及動靜態資料驗證。

2.根據權利要求1所述的適用于薄油層水平井油層對比方法，其特征在于：所述步驟(一)中，針對水平井伽馬曲線與深電阻率曲線對應，與淺電阻率曲線不對應，真電阻率具體校正方法如下：

a.根據測量電阻率R_測，在下述真電阻率校正公式中選取與R_測接近的兩個測量電阻R_測1、R_測2及其對應的兩個公式；

b.將圍巖距離代入a中的兩個公式，求取對應的兩個真電阻率R_t1、R_t2；

c.將兩個真電阻率R_t1、R_t2加權平均求取測量電阻率對應的真電阻率Rt；

真電阻率校正公式為：

當電阻測量值為0.5Ω·m時，Rt＝0.8734ln(h)+0.5119；h0.97，

當電阻測量值為0.8Ω·m時，Rt＝1.0524ln(h)+0.8478；h0.96；

當電阻測量值為1.5Ω·m時，Rt＝1.2294ln(h)+1.6839；h1.01；

當電阻測量值為4Ω·m時，Rt＝-2.352ln(h)+4.5813；h1.22；

當電阻測量值為8Ω·m時，Rt＝-4.561ln(h)+10.626；h1.87；

當電阻測量值為10Ω·m時，Rt＝-6.679ln(h)+14.251；h1.91；

當電阻測量值為20Ω·m時，Rt＝-14.55ln(h)+33.039；h2.4；

當電阻測量值為30Ω·m時，Rt＝-22.88ln(h)+53.964；h3；

當電阻測量值為40Ω·m時，Rt＝-29.46ln(h)+73.875；h3.3；

當電阻測量值為50Ω·m時，Rt＝-37.83ln(h)+96.05；h3.5；

其中h—純砂巖地層與圍巖距離。

3.根據權利要求2所述的適用于薄油層水平井油層對比方法，其特征在于：所述步驟(二)中，水平井測井曲線校直，根據水平井井眼軌跡數據，建立水平井井眼軌跡測量深度與垂直深度間對應關系，將水平井測量深度環境下的測井曲線投影到垂直深度；常規及階梯水平井，將測井曲線整體校直。