[發(fā)明專利]一種雙界面智能卡模塊開短路的測試裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110264836.2 | 申請日： | 2021-03-11 |
| 公開（公告）號： | CN113030703A | 公開（公告）日： | 2021-06-25 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 吳競;劉紅倫;趙韻 | 申請（專利權(quán)）人： | 上海伊諾爾信息電子有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/28 | 分類號： | G01R31/28;G01R1/04;G01R1/067;G01R31/52 |
| 代理公司： | 上海申匯專利代理有限公司 31001 | 代理人： | 徐俊 |
| 地址： | 201112 上海市閔行區(qū)*** | 國省代碼： | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 界面 智能卡 模塊 短路 測試 裝置 | ||
【權(quán)利要求書】：
1.一種雙界面智能卡模塊開短路的測試裝置，包括接觸面上測試針板和電性能測試箱，所述接觸面上測試針板設(shè)有上測試探針，上測試探針的探針數(shù)量與智能卡的接觸觸點(diǎn)數(shù)量相同并一一對應(yīng)，探針前端連通對應(yīng)接觸觸點(diǎn)，探針后端電性連接至電性能測試箱，其特征在于，還包括非接測下試針板，所述非接測下試針板設(shè)有下試探針，下試探針的探針數(shù)量與智能卡的非接觸觸點(diǎn)數(shù)量相同并一一對應(yīng)；所述上測試探針中的一個(gè)探針設(shè)有探針引出接口并電性連接至下試探針的所有探針。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種雙界面智能卡模塊開短路的測試裝置，其特征在于，所述智能卡為雙界面6pin模塊，所述探針引出接口為C6接口。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種雙界面智能卡模塊開短路的測試裝置，其特征在于，所述智能卡為雙界面8pin模塊，所述探針引出接口為C8接口。
下載完整專利技術(shù)內(nèi)容需要扣除積分，VIP會員可以免費(fèi)下載。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息，商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于上海伊諾爾信息電子有限公司，未經(jīng)上海伊諾爾信息電子有限公司許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作，請聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/202110264836.2/1.html，轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
