[發明專利]一種坡口缺陷檢測方法、計算設備及可讀存儲介質

在審

• 申請號: 202110263930.6
• 申請日: 2021-02-23
• 公開（公告）號: CN113066051A
• 公開（公告）日: 2021-07-02
• 發明（設計）人: 劉堅;索鑫宇;姜潮;孟宇;周飛滔;崔超齊;王有源
• 申請（專利權）人: 湖南大學
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/60;G06T7/62;G06T5/00;G06T5/20;G06N3/04;G06N3/08
• 代理公司: 北京思睿峰知識產權代理有限公司 11396
• 代理人: 謝建云;趙愛軍

1.一種坡口缺陷檢測方法，在計算設備中執行，適于檢測管狀元件端部的環形坡口的缺陷，所述方法包括：

獲取待檢測元件的端部圖像中的環形坡口區域；

將所述環形坡口區域展開成矩形，得到矩形的坡口圖像；

對矩形的坡口圖像進行滑窗切分，得到多個子坡口圖像；

將每個子坡口圖像輸入到訓練好的目標檢測網絡中進行處理，得到有缺陷的子坡口圖像中的缺陷框；

對所述缺陷框進行二值化處理，得到所述缺陷框的二值化圖像；

從所述缺陷框的二值化圖像中獲取缺陷區域的像素坐標。

2.如權利要求1所述的方法，還包括：

將獲取的缺陷區域標注到所述端部圖像的相應位置。

3.如權利要求1或2所述的方法，還包括：

根據缺陷區域的形狀信息和位置信息進行缺陷分類。

4.如權利要求1-3中任意一項所述的方法，其中，在所述對所述缺陷框進行二值化處理的步驟之前，還包括：

當所述缺陷框的高度小于所述子坡口圖像的高度時，將所述缺陷框的高度擴大至所述子坡口圖像的高度。

5.如權利要求1-4中任意一項所述的方法，其中，在所述對所述缺陷框進行二值化處理的步驟中，在不同的閾值下分別對所述缺陷框進行二值化。

6.如權利要求1-5中任意一項所述的方法，其中，所述將所述環形坡口區域展開成矩形的步驟，包括：

獲取所述環形坡口區域的外徑、內徑和圓心坐標；

根據所述環形坡口區域的外徑、內徑和圓心坐標，將所述環形坡口區域展開成矩形。

7.如權利要求1-6中任意一項所述的方法，其中，所述目標檢測網絡包括特征提取模塊、目標檢測模塊和輸出模塊。

8.如權利要求2-7中任意一項所述的方法，其中，在所述將獲取的缺陷區域標注到所述端部圖像的相應位置的步驟中，根據所述缺陷區域的像素坐標，利用極坐標轉換法將所述缺陷區域反推至所述端部圖像中進行標注。

9.一種計算設備，包括：

至少一個處理器；以及

存儲器，存儲有程序指令，其中，所述程序指令被配置為適于由所述至少一個處理器執行，所述程序指令包括用于執行如權利要求1-8中任一項所述方法的指令。

10.一種存儲有程序指令的可讀存儲介質，當所述程序指令被計算設備讀取并執行時，使得所述計算設備執行如權利要求1-8中任一項所述方法。