[發明專利]目標跟蹤方法及裝置、智能設備和計算機存儲介質在審
| 申請號: | 202110262505.5 | 申請日: | 2021-03-10 |
| 公開(公告)號: | CN113052019A | 公開(公告)日: | 2021-06-29 |
| 發明(設計)人: | 孫爽 | 申請(專利權)人: | 南京創維信息技術研究院有限公司 |
| 主分類號: | G06K9/00 | 分類號: | G06K9/00;G06K9/62 |
| 代理公司: | 深圳市世紀恒程知識產權代理事務所 44287 | 代理人: | 胡海國 |
| 地址: | 210012 江蘇省南京*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 目標 跟蹤 方法 裝置 智能 設備 計算機 存儲 介質 | ||
1.一種目標跟蹤方法,其特征在于,所述方法包括:
采集圖像,對所述圖像進行目標檢測,得到包括第一前景掩膜的檢測框;
對所述第一前景掩膜進行跟蹤,得到包括第二前景掩膜的跟蹤框;
根據所述檢測框的第一面積以及所述跟蹤框的第二面積確定目標跟蹤置信度;
根據所述目標跟蹤置信度確定跟蹤結果。
2.如權利要求1所述的目標跟蹤方法,其特征在于,所述根據所述檢測框的第一面積以及所述跟蹤框的第二面積確定目標跟蹤置信度的步驟包括:
獲取所述第一面積與所述第二面積的交集,以及所述第一面積與所述第二面積的并集;
獲取所述交集與所述并集的比值,并根據所述比值確定所述目標跟蹤置信度。
3.如權利要求1所述的目標跟蹤方法,其特征在于,所述根據所述目標跟蹤置信度確定跟蹤結果的步驟包括:
獲取所述第一前景掩膜的第三面積以及所述第二前景掩膜的第四面積;
根據所述第一前景掩膜的第三面積以及所述第二前景掩膜的第四面積確定參考置信度;
根據所述參考置信度、所述目標跟蹤置信度以及預設閾值確定跟蹤結果。
4.如權利要求3所述的目標跟蹤方法,其特征在于,所述根據所述第一前景掩膜的第三面積以及所述第二前景掩膜的第四面積確定參考置信度的步驟包括:
獲取所述第三面積與所述第四面積的交集,以及所述第三面積與所述第四面積的并集;
獲取所述交集與所述并集的比值,并根據所述比值確定所述參考置信度。
5.如權利要求3所述的目標跟蹤方法,其特征在于,所述根據所述參考置信度、所述目標跟蹤置信度以及預設閾值確定跟蹤結果的步驟包括:
獲取第一子閾值與所述目標跟蹤置信度之間的交集,所述預設閾值包括第一子閾值以及第二子閾值;
比對所述交集、所述參考置信度以及所述第二子閾值,根據比對結果確定所述跟蹤結果,其中,在所述交集大于所述參考置信度且小于所述第二子閾值時,確定跟蹤結果為跟蹤目標沒有丟失。
6.如權利要求1所述的目標跟蹤方法,其特征在于,所述對所述第一前景掩膜進行跟蹤,得到包括第二前景掩膜的跟蹤框的步驟之后,還包括:
獲取第一前景掩膜的第一特征與第二前景掩膜的第二特征,所述第一特征與所述第二特征均包括尺度特征以及方向特征中的至少一種;
若所述第一特征與所述第二特征相匹配,執行所述根據所述檢測框的第一面積以及所述跟蹤框的第二面積確定目標跟蹤置信度的步驟。
7.如權利要求1所述的目標跟蹤方法,其特征在于,所述根據所述目標跟蹤置信度確定跟蹤結果的步驟之后,還包括:
采用所述跟蹤框對所述檢測框進行校正,根據校正的檢測框重置所述跟蹤框對應的所述第二前景掩膜。
8.一種目標跟蹤裝置,其特征在于,所述裝置包括:
檢測模塊,用于采集圖像,對所述圖像進行目標檢測,得到包括第一前景掩膜的檢測框;
跟蹤模塊,用于對所述第一前景掩膜進行跟蹤,得到包括第二前景掩膜的跟蹤框;
計算模塊,用于根據所述檢測框的第一面積以及所述跟蹤框的第二面積確定目標跟蹤置信度;
判斷模塊,用于根據所述目標跟蹤置信度確定跟蹤結果。
9.一種智能設備,其特征在于,所述智能設備包括存儲器、處理器以及存儲在所述存儲器并可在所述處理器上運行的目標跟蹤程序,所述目標跟蹤程序被所述處理器執行時實現如權利要求1-7任一項所述的目標跟蹤方法的各個步驟。
10.一種計算機存儲介質,其特征在于,所述計算機存儲介質存儲有目標跟蹤程序,所述目標跟蹤程序被處理器執行時實現如權利要求1-7任一項所述的目標跟蹤方法的各個步驟。
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