[發明專利]接近傳感檢測電路、電容校準方法、裝置及電子設備

在審

• 申請號: 202110262476.2
• 申請日: 2021-03-10
• 公開（公告）號: CN113031081A
• 公開（公告）日: 2021-06-25
• 發明（設計）人: 胡雨晨;唐金歡
• 申請（專利權）人: 維沃移動通信有限公司
• 主分類號: G01V3/02
• 分類號: G01V3/02;G01V13/00
• 代理公司: 北京銀龍知識產權代理有限公司 11243
• 代理人: 許靜;曹娜

本申請公開了一種接近傳感檢測電路、電容校準方法、裝置及電子設備，屬于通信技術領域。該接近傳感檢測電路包括：接近傳感器，所述接近傳感器包括檢測端口；檢測支路；檢測支路對應連接檢測端口，檢測支路包括：外部電容和電容調節單元，所述電容調節單元分別連接所述檢測端口和所述外部電容；中央處理單元，所述中央處理單元分別連接所述電容調節單元和所述接近傳感器。本申請通過在檢測支路上增設電容調節單元，使得接近傳感器的外部電容值可調，從而能夠有效地規避用戶使用過程中接近傳感器檢測通路檢測失效的問題，使得接近傳感器的工作范圍更加靈活。

技術領域

本申請涉及通信技術領域，具體涉及一種接近傳感檢測電路、電容校準方法、裝置及電子設備。

背景技術

SAR(Specific Absorption Rate，特殊吸收率)Sensor是專為SAR應用而設計的智能電容式接近傳感器。當用戶使用安裝有SAR Sensor的電子設備過程中，人手接近時，會上報鄰近度。其中關于鄰近度的關鍵指標為useful值，useful值是基于校準offset的實時動態范圍，offset表征Sar Sensor芯片外部容值的靜態工作點。

隨著移動通信技術的不斷發展，電子設備(如手機)的不斷普及。電子設備的產品結構設計與天線匹配的復雜度不斷升級，SAR Sensor芯片檢測通路的外掛電容的總容值設計常常接近于通路靜態工作點上限，從而使得在電子設備套設有保護殼、或者貼有屏幕保護膜或者電子設備表面浸液時，通路靜態電容會超過通過靜態工作點上限，從而導致SARSensor芯片檢測通路檢測失效。

發明內容

本申請實施例的目的是提供一種接近傳感檢測電路、電容校準方法、裝置及電子設備，能夠解決現有SAR Sensor芯片檢測通路存在的檢測失效的問題。

為了解決上述技術問題，本申請是這樣實現的：

第一方面，本申請實施例提供一種接近傳感檢測電路，該方法包括：

接近傳感器，所述接近傳感器包括檢測端口；

檢測支路，所述檢測支路對應連接所述檢測端口，所述檢測支路包括：外部電容和電容調節單元，所述電容調節單元分別連接所述檢測端口和所述外部電容；

中央處理單元，所述中央處理單元分別連接所述電容調節單元和所述接近傳感器。

第二方面，本申請實施例還提供一種電子設備，包括：如第一方面所述的接近傳感檢測電路。

第三方面，本申請實施例提供了一種電容校準方法，包括：

在滿足預設校準條件的情況下，對接近傳感器對應的檢測支路在其校準時刻的總容值進行檢測；

在所述總容值大于第一預設電容閾值的情況下，控制所述檢測支路的電容調節單元，將所述總容值調整至第一電容值，所述第一電容值為滿足接近傳感器校準工作條件對應的電容范圍內的任意值，所述第一預設電容閾值為所述接近傳感器靜態工作點的最大電容值。

第四方面，本申請實施例還提供一種電容校準裝置，包括：

檢測模塊，用于在滿足預設校準條件的情況下，對接近傳感器對應的檢測支路在其校準時刻的總容值進行檢測；

校準模塊，用于在所述總容值大于第一預設電容閾值的情況下，控制所述檢測支路的電容調節單元，將所述總容值調整至第一電容值，所述第一電容值為滿足接近傳感器校準工作條件對應的電容范圍內的任意值，所述第一預設電容閾值為所述接近傳感器靜態工作點的最大電容值。

第五方面，本申請實施例還提供一種電子設備，包括處理器、存儲器及存儲在所述存儲器上并可在所述處理器上運行的程序或指令，所述程序或指令被所述處理器執行時實現如第三方面所述的電容校準方法的步驟。