[發明專利]貨架布局檢測方法、裝置及計算機可讀存儲介質在審
| 申請號： | 202110261769.9 | 申請日： | 2021-03-10 |
| 公開（公告）號： | CN112883955A | 公開（公告）日： | 2021-06-01 |
| 發明（設計）人： | 羅鳳鳴;李勇基;杜晨光 | 申請（專利權）人： | 洛倫茲(北京)科技有限公司 |
| 主分類號： | G06K9/20 | 分類號： | G06K9/20;G06K9/46;G06K9/62;G06Q30/06 |
| 代理公司： | 北京薈英捷創知識產權代理事務所(普通合伙) 11726 | 代理人： | 張陽 |
| 地址： | 100096 北京市海淀區清河小營西*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 貨架 布局 檢測 方法 裝置 計算機 可讀 存儲 介質 | ||
1.一種貨架布局檢測方法，其特征在于，包括：
獲取圖像傳感器采集的目標貨架的目標圖像；其中，所述目標圖像包括深度圖像和RGB圖像；
基于所述深度圖像中的深度信息對所述目標圖像中的目標貨架進行貨架分層，得到貨架分層結果；
基于所述貨架分層結果對所述目標貨架進行價簽檢測，得到價簽檢測結果；
基于所述貨架分層結果及所述價簽檢測結果確定所述目標貨架的貨架布局。
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述目標圖像還包括IR圖，所述基于所述深度圖像中的深度信息對所述目標圖像中的目標貨架進行貨架分層，得到貨架分層結果的步驟，包括：
獲取所述圖像傳感器的內參，基于所述圖像傳感器的內參對所述深度圖像進行深度值校正；
對深度值校正后的所述深度圖像、所述RGB圖像及所述IR圖中的目標貨架進行形狀校正，得到校正深度圖像、校正RGB圖像及校正IR圖；
基于所述校正深度圖像、校正RGB圖像及校正IR圖對所述目標貨架進行貨架分層，得到貨架分層結果。
3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述圖像傳感器的內參對所述深度圖像進行深度值校正的步驟，包括：
基于所述圖像傳感器的內參及所述深度圖像中各像素點的深度值，將所述深度圖像中的各像素點轉換為點云數據；
基于所述點云數據確定地面圖像對應的點云數據所在平面的法向量，得到地面法向量；
基于所述地面法向量及標準坐標系確定點云數據的旋轉軸和旋轉角，根據所述旋轉軸和所述旋轉角確定羅德里格旋轉矩陣；
基于所述羅德里格旋轉矩陣確定所述點云數據在所述標準坐標系下的點云坐標，基于所述點云坐標確定所述深度圖像各像素點校正后的深度值。
4.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述圖像傳感器的光軸與所述目標貨架成預設角度；所述對深度值校正后的所述深度圖像、所述RGB圖像及所述IR圖中的目標貨架進行形狀校正，得到校正深度圖像、校正RGB圖像及校正IR圖的步驟，包括：
獲取深度值校正后的所述深度圖像、所述RGB圖像及所述IR圖中所述目標貨架的各角點坐標；
基于各所述角點坐標確定所述目標貨架的區域圖像，基于透視變換將所述區域圖像中的目標貨架由斜視圖像校正為正視圖像，得到校正深度圖像、校正RGB圖像及校正IR圖。
5.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述校正深度圖像、校正RGB圖像及校正IR圖對所述目標貨架進行貨架分層，得到貨架分層結果的步驟，包括：
基于所述圖像傳感器的內參及外參對所述校正深度圖像、所述校正RGB圖像及所述校正IR圖進行圖像配準，得到融合圖像；其中，所述融合圖像包括各像素點的顏色信息、深度值及反射強度；
獲取所述融合圖像中各像素點的深度值；
基于所述融合圖像中各像素點的深度值確定所述融合圖像中各個貨架層的位置信息。
6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，所述貨架分層結果包括各貨架層的位置信息；所述基于所述貨架分層結果對所述目標貨架進行價簽檢測，得到價簽檢測結果的步驟，包括：
基于滑動窗口對所述融合圖像中所述目標貨架的各貨架層進行價簽檢測，并基于各像素點的顏色信息、深度值及反射強度從各滑動窗口中篩選得到所述貨架層上各價簽的價簽窗口；
計算各層貨架層上所述價簽窗口的中心點的縱坐標平均值，基于所述縱坐標平均值剔除非貨架層上的價簽窗口，得到各貨架層上的價簽窗口位置。
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