[發明專利]雷達目標聚類方法、裝置和電子設備

有效

• 申請號: 202110260144.0
• 申請日: 2021-03-10
• 公開（公告）號: CN113030896B
• 公開（公告）日: 2022-08-26
• 發明（設計）人: 王晨紅;邢寒露;石露露;薛高茹;何文彥;秦屹
• 申請（專利權）人: 森思泰克河北科技有限公司
• 主分類號: G01S7/41
• 分類號: G01S7/41;G06K9/62
• 代理公司: 石家莊國為知識產權事務所 13120
• 代理人: 李榮文

1.一種雷達目標聚類方法，其特征在于，包括：

接收第一雷達幀；

根據所述第一雷達幀的點云聚類特征，確定所述第一雷達幀的聚類門限；其中，所述點云聚類特征是第一雷達幀中與真實目標對應的真實點云的點云聚類特征，或者是第一雷達幀中與多徑目標對應的多徑點云的點云聚類特征；

基于所述第一雷達幀的聚類門限和至少一個第二雷達幀的聚類門限，對所述第一雷達幀中與真實目標對應的真實點云進行聚類；所述第二雷達幀為位于所述第一雷達幀之前的雷達幀。

2.如權利要求1所述的雷達目標聚類方法，其特征在于，所述根據所述第一雷達幀的點云聚類特征，確定所述第一雷達幀的聚類門限，包括：

獲取所述第一雷達幀中的目標點云的點數；所述目標點云為所述真實點云或者為與多徑目標對應的多徑點云；

當所述目標點云的點數大于第一預設點數閾值時，將所述第一預設點數閾值對應的第一聚類門限確定為所述第一雷達幀的聚類門限；

當所述目標點云的點數小于或者等于第一預設點數閾值時，將所述第一預設點數閾值對應的第二聚類門限確定為所述第一雷達幀的聚類門限；

所述第一預設點數閾值僅對應有第一聚類門限和第二聚類門限，所述第一聚類門限小于所述第二聚類門限。

3.如權利要求1所述的雷達目標聚類方法，其特征在于，所述根據所述第一雷達幀的點云聚類特征，確定所述第一雷達幀的聚類門限，包括：

按照預設聚類門限對所述第一雷達幀中的目標點云進行聚類；所述目標點云為所述真實點云或者為與多徑目標對應的多徑點云；

在聚類得到多個類別的情況下，獲取所述多個類別的類別中心彼此之間的距離分布特征；

當所述距離分布特征為離散特征時，將所述離散特征對應的第三聚類門限確定為所述第一雷達幀的聚類門限；

當所述距離分布特征為聚集特征時，將所述聚集特征對應的第四聚類門限確定為所述第一雷達幀的聚類門限；

所述第三聚類門限小于所述第四聚類門限。

4.如權利要求3所述的雷達目標聚類方法，其特征在于，所述距離分布特征為所述多個類別的類別中心彼此之間的距離的平均距離；

在所述獲取所述多個類別的類別中心彼此之間的距離分布特征之后，所述方法還包括：

在所述平均距離小于預設距離閾值的情況下，確定所述距離分布特征為離散特征；

在所述平均距離大于或者等于預設距離閾值的情況下，確定所述距離分布特征為聚集特征。

5.如權利要求1所述的雷達目標聚類方法，其特征在于，所述根據所述第一雷達幀的點云聚類特征，確定所述第一雷達幀的聚類門限，包括：

按照預設聚類門限對所述第一雷達幀中的目標點云進行聚類；所述目標點云為所述真實點云或者為與多徑目標對應的多徑點云；

在聚類得到多個類別的情況下，獲取所述多個類別的點云回波強度特征；

當所述多個類別的點云回波強度特征不一致時，將第五聚類門限確定為所述第一雷達幀的聚類門限；

當所述多個類別的點云回波強度特征一致時，將第六聚類門限確定為所述第一雷達幀的聚類門限；

所述第五聚類門限小于所述第六聚類門限。

6.如權利要求5所述的雷達目標聚類方法，其特征在于，在所述獲取所述多個類別的點云回波強度特征之后，所述方法還包括：

獲取所述多個類別的點云回波強度特征的方差；

在所述方差大于預設方差閾值的情況下，確定所述多個類別的點云回波強度特征不一致；

在所述方差小于或者等于預設方差閾值的情況下，確定所述多個類別的點云回波強度特征一致。

7.如權利要求1至6任一項所述的雷達目標聚類方法，其特征在于，所述基于所述第一雷達幀的聚類門限和至少一個第二雷達幀的聚類門限，對所述第一雷達幀中與真實目標對應的真實點云進行聚類，包括：

對所述第一雷達幀的聚類門限和所述至少一個第二雷達幀的聚類門限取平均值，得到平均聚類門限；

按照所述平均聚類門限對所述真實點云進行聚類。