[發(fā)明專利]基于關(guān)鍵層回滾機(jī)制的卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型容錯方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110258455.3 | 申請日: | 2021-03-10 |
| 公開(公告)號: | CN112766503B | 公開(公告)日: | 2022-09-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 江維;詹瑾瑜;潘唯迦;溫翔宇;周星志;孫若旭;宋子微;廖炘可;范翥峰 | 申請(專利權(quán))人: | 電子科技大學(xué) |
| 主分類號: | G06N3/08 | 分類號: | G06N3/08 |
| 代理公司: | 成都虹盛匯泉專利代理有限公司 51268 | 代理人: | 王偉 |
| 地址: | 611731 四川省成*** | 國省代碼: | 四川;51 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 關(guān)鍵 層回滾 機(jī)制 卷積 神經(jīng)網(wǎng)絡(luò) 模型 容錯 方法 | ||
1.一種基于關(guān)鍵層回滾機(jī)制的卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型容錯方法,其特征在于,包括以下步驟:
S1、尋找關(guān)鍵層,通過對原模型添加參數(shù)λ進(jìn)行訓(xùn)練的方式尋找對分類影響最大的關(guān)鍵節(jié)點(diǎn),依據(jù)關(guān)鍵節(jié)點(diǎn)的分布確定網(wǎng)絡(luò)的關(guān)鍵層分布;
S2、輸入分類圖片,通過卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)對輸入圖片進(jìn)行識別,獲得關(guān)鍵層的輸出特征;并根據(jù)輸出特征得到檢測閾值,用于判定檢測點(diǎn)的輸出是否存在異常;包括以下子步驟:
S21、輸入的分類圖片中包含多個已知類別的圖片,每個類別的圖片樣本數(shù)量相等;
S22、統(tǒng)計所有圖片輸入卷積網(wǎng)絡(luò)后,網(wǎng)絡(luò)層的輸出數(shù)據(jù);
S23、根據(jù)步驟S22統(tǒng)計的輸出數(shù)據(jù),以輸出最大值作為該網(wǎng)絡(luò)層的檢測閾值,若檢測點(diǎn)的輸出大于檢測閾值則該檢測點(diǎn)判定為異常,并回滾到上一個檢測點(diǎn)的位置重新進(jìn)行檢測;否則該檢測點(diǎn)判定為正常;
S3、將硬件約束進(jìn)行建模,利用模擬退火算法求出在滿足硬件條件約束的情況下的檢測點(diǎn)數(shù)量。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于關(guān)鍵層回滾機(jī)制的卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型容錯方法,其特征在于,所述步驟S1包括以下子步驟:
S11、選擇一個卷積結(jié)構(gòu)的網(wǎng)絡(luò)模型,訓(xùn)練模型并獲得原始模型的權(quán)重;
S12、修改原始網(wǎng)絡(luò)模型的結(jié)構(gòu),在每層網(wǎng)絡(luò)中的神經(jīng)元后面添加參數(shù)λ,使用添加的參數(shù)λ表示對應(yīng)層神經(jīng)元的關(guān)鍵程度,參數(shù)λ值越高對應(yīng)神經(jīng)元的關(guān)鍵程度越高;
S13、使用原模型輸出和修改后模型輸出構(gòu)建損失函數(shù),進(jìn)行訓(xùn)練,直至原模型輸出和修改模型的輸出精度誤差小于1%時停止訓(xùn)練,此時添加的參數(shù)λ代表對應(yīng)神經(jīng)元的關(guān)鍵程度;
S14、通過可視化展示步驟S13獲得的參數(shù)λ的大小分布情況,統(tǒng)計每一層中參數(shù)λ大于1的數(shù)量,并按照參數(shù)λ大于1的數(shù)量從大到小對每層網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行排序,得到關(guān)鍵層分布;
S15、對步驟S14中得到的所有關(guān)鍵層進(jìn)行隨機(jī)權(quán)重失效,通過隨機(jī)函數(shù)隨機(jī)選擇神經(jīng)元失效,然后測試模型精度,當(dāng)模型精度小于預(yù)設(shè)閾值時停止操作;獲得模型每一層能容忍失效的神經(jīng)元的比例。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于關(guān)鍵層回滾機(jī)制的卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型容錯方法,其特征在于,所述步驟S3包括以下子步驟:
S31、確定目標(biāo)函數(shù),以模型能夠正常運(yùn)行的概率作為目標(biāo)函數(shù);
P(Normal)是目標(biāo)函數(shù)代表模型正常工作的概率;將模型正確運(yùn)行的概率分解為:無錯誤運(yùn)行+出錯并被當(dāng)前層正確檢測+出錯被后面的層檢測,公式表達(dá)為:
其中k表示網(wǎng)絡(luò)層數(shù),P(li)表示第i層網(wǎng)絡(luò)正確運(yùn)行的概率,P(di)表示第i層的檢測方法正確檢測的概率,m表示出錯所在的網(wǎng)絡(luò)層數(shù),n表示正確檢測所在的網(wǎng)絡(luò)層數(shù);
將上式化簡后得到:
S32、確定約束條件,分析檢測點(diǎn)的時間開銷和空間開銷,主要的影響因素為檢測點(diǎn)所在層的神經(jīng)元數(shù)量、輸出的維度相關(guān);
不同的檢測方法和回滾設(shè)置會會帶來不同的容錯效果和額外系統(tǒng)開銷,將步驟S31得到的目標(biāo)函數(shù)建模為一個約束優(yōu)化問題,公式表示如下:
max P(Normal)
st.T(Cost)LimitTime
S(Cost)LimitSpace
T(Cost)和S(Cost)分別表示時間開銷和空間開銷,LimitTime和LimitSpace分別表示時間開銷和空間開銷的上限值;
檢測方法和回滾的設(shè)置都會帶來時間和空間上的開銷,時間開銷和空間開銷的量化公式如下:
T(di)表示第i層檢測方法需要花費(fèi)的時間,T(li)表示第i層的運(yùn)算時間,T(IO)代表IO讀取帶來的開銷;S(di)和S(li)分別代表檢測方法和回滾時帶來的空間開銷;
S33、采用模擬退火算法對上述約束優(yōu)化問題進(jìn)行求解,得到檢測點(diǎn)的數(shù)量。
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