[發(fā)明專利]一種繼承性大變形電阻應(yīng)變片測(cè)試結(jié)構(gòu)及測(cè)試方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202110257987.5
• 申請(qǐng)日: 2021-03-09
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN112880548A
• 公開(kāi)（公告）日: 2021-06-01
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 葉曉明;陳柏林;郭琪;傅翔
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 葉曉明;重慶大恒工程設(shè)計(jì)有限公司
• 主分類號(hào): G01B7/16
• 分類號(hào): G01B7/16
• 代理公司: 北京盛凡智榮知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11616
• 代理人: 鄭豐平

1.一種繼承性大變形電阻應(yīng)變片測(cè)試結(jié)構(gòu)，其特征在于：在測(cè)試點(diǎn)布置多個(gè)不同長(zhǎng)度的電阻應(yīng)變片Y_i，每個(gè)電阻應(yīng)變片通過(guò)導(dǎo)線（2）外接測(cè)試儀器（3）；在測(cè)試區(qū)L兩端設(shè)兩個(gè)固結(jié)區(qū)（1），將電阻應(yīng)變片Y_i兩端固結(jié)在測(cè)試對(duì)象（4）上，或者先將電阻應(yīng)變片Y_i固結(jié)在測(cè)試載體（5）上，再將測(cè)試載體（5）固結(jié)在測(cè)試對(duì)象(4)上；在測(cè)試區(qū)L范圍內(nèi)，第一個(gè)電阻應(yīng)變片Y₁的長(zhǎng)度為L(zhǎng)₁=L，其它電阻應(yīng)變片Y_i的長(zhǎng)度為L(zhǎng)_i-1＜L_i≤L_i-1(1+δ)（i=2,...,i,...n)，i表示電阻應(yīng)變片編號(hào)，n≥2為應(yīng)變片數(shù)量，δ表示電阻應(yīng)變片有效測(cè)試應(yīng)變量。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的繼承性大變形電阻應(yīng)變片測(cè)試結(jié)構(gòu)，其特征在于：根據(jù)測(cè)試變形量最大值確定電阻應(yīng)變片Y_i的數(shù)量n。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的繼承性大變形電阻應(yīng)變片測(cè)試結(jié)構(gòu)，其特征在于：每個(gè)電阻應(yīng)變片Y_i有共同的固結(jié)區(qū)（1），固結(jié)區(qū)（1）之間的初始凈間距為L(zhǎng)。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的繼承性大變形電阻應(yīng)變片測(cè)試結(jié)構(gòu)，其特征在于：測(cè)試載體（5）的材料、形狀、尺寸根據(jù)測(cè)試對(duì)象與環(huán)境確定。

5.如權(quán)利要求1-4任一項(xiàng)所述繼承性大變形電阻應(yīng)變片測(cè)試結(jié)構(gòu)的測(cè)試方法，其步驟包括：

將電阻應(yīng)變片Y_i組固結(jié)在測(cè)試對(duì)象（4）上，或通過(guò)測(cè)試載體（5）固結(jié)在測(cè)試對(duì)象（4）上；

電阻應(yīng)變片Y_i通過(guò)導(dǎo)線（2）外接測(cè)試儀器（3）；

變形測(cè)試過(guò)程中，首先通過(guò)第一個(gè)電阻應(yīng)變片Y₁測(cè)試變形量；當(dāng)?shù)谝粋€(gè)電阻應(yīng)變片Y₁失效時(shí)，第二個(gè)電阻應(yīng)變片Y₂進(jìn)入測(cè)試狀態(tài)；當(dāng)?shù)诙€(gè)電阻應(yīng)變片Y₂失效時(shí)，第三個(gè)電阻應(yīng)變片Y₃進(jìn)入測(cè)試狀態(tài)；……；以此類推，直到完成大變形測(cè)試；

變形測(cè)試結(jié)果為：應(yīng)變片Y_i數(shù)據(jù)疊加Y_i起始點(diǎn)同一時(shí)間點(diǎn)的Y_i-1末端數(shù)據(jù)。