[發(fā)明專利]一種光源不均勻性測(cè)試方法及系統(tǒng)

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202110255044.9
• 申請(qǐng)日: 2021-03-09
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN115046735A
• 公開(kāi)（公告）日: 2022-09-13
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 陳海;張學(xué)軍
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 蘇州晶曜光電科技有限公司
• 主分類號(hào): G01M11/02
• 分類號(hào): G01M11/02
• 代理公司: 上海尚象專利代理有限公司 31335
• 代理人: 徐炫

本發(fā)明提供一種光源不均勻性測(cè)試方法及系統(tǒng)，所述方法包括步驟1：將監(jiān)控電池固定在第64號(hào)點(diǎn)，移動(dòng)標(biāo)準(zhǔn)電池測(cè)試第1號(hào)點(diǎn)到第33號(hào)點(diǎn)，記錄標(biāo)準(zhǔn)電池和監(jiān)控電池的測(cè)試數(shù)據(jù)；步驟2：將標(biāo)準(zhǔn)電池放置在第33號(hào)點(diǎn)，移動(dòng)監(jiān)控電池到第8號(hào)點(diǎn)，記錄標(biāo)準(zhǔn)電池和監(jiān)控電池的測(cè)試數(shù)據(jù)；步驟3：將監(jiān)控電池固定在第8號(hào)點(diǎn)，移動(dòng)標(biāo)準(zhǔn)電池測(cè)試第34號(hào)點(diǎn)到第64號(hào)點(diǎn)，記錄標(biāo)準(zhǔn)電池和監(jiān)控電池的測(cè)試數(shù)據(jù)；步驟4：計(jì)算第1號(hào)點(diǎn)到第33號(hào)點(diǎn)的不均勻性光強(qiáng)；步驟5：利用第33號(hào)點(diǎn)的光強(qiáng)換算出監(jiān)控電池在第8號(hào)點(diǎn)，在測(cè)量第1號(hào)點(diǎn)的時(shí)刻的光強(qiáng)；步驟6：計(jì)算第34號(hào)點(diǎn)到第64號(hào)點(diǎn)不均勻性光強(qiáng)。本發(fā)明解決了現(xiàn)有測(cè)試方法在很多情況難以用監(jiān)控電池進(jìn)行光強(qiáng)修正，進(jìn)而難以精確測(cè)試不均勻性指標(biāo)的問(wèn)題。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及光源不均勻性測(cè)試領(lǐng)域，特別是涉及一種光源不均勻性測(cè)試方法及系統(tǒng)。

背景技術(shù)

在研發(fā)、生產(chǎn)過(guò)程中會(huì)用到很多種光源，其中，光源的不均勻性是一項(xiàng)非常重要的指標(biāo)，該指標(biāo)需要定期進(jìn)行計(jì)量檢測(cè)。對(duì)于太陽(yáng)能電池測(cè)試行業(yè)所用的太陽(yáng)能模擬器，包括穩(wěn)態(tài)太陽(yáng)能模擬器和瞬態(tài)太陽(yáng)能模擬器，標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定要測(cè)試8*8＝64個(gè)點(diǎn)的光強(qiáng)，它的不均勻性的計(jì)算方法(Max-Min)/(Max+Min)，一般按照百分比來(lái)表示，其中，Max是64個(gè)點(diǎn)中光強(qiáng)最高值，Min是64個(gè)點(diǎn)中光強(qiáng)最低值。標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，不均勻性在2％以內(nèi)為A級(jí)光源。

測(cè)試光強(qiáng)一般用封裝后的太陽(yáng)能電池片，稱為標(biāo)準(zhǔn)電池。標(biāo)準(zhǔn)電池的短路電流和光強(qiáng)成正比。通過(guò)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)電池的短路電流，就可以知道這個(gè)測(cè)試點(diǎn)的光強(qiáng)，典型的標(biāo)準(zhǔn)電池WPVS(World Photovoltaic Scale)，太陽(yáng)電池面積為20mm*20mm。測(cè)試64個(gè)點(diǎn)的光強(qiáng)并不是同時(shí)的，要一個(gè)個(gè)測(cè)試。然而光源每時(shí)每刻所提供的光強(qiáng)并不相同，也就是不穩(wěn)定的，所以在測(cè)試64個(gè)點(diǎn)的均勻性的同時(shí)，也引入了不穩(wěn)定度測(cè)試誤差。

按照太陽(yáng)能模擬器的設(shè)計(jì)，光斑面積上的每個(gè)點(diǎn)的光均是來(lái)自同一個(gè)發(fā)光源，大部分模擬器用氙燈作為發(fā)光源，也就是說(shuō)整個(gè)光斑區(qū)域上的每個(gè)點(diǎn)的光強(qiáng)不穩(wěn)定變化是同時(shí)的、一致的、成正比的。為了消除不穩(wěn)定性對(duì)不均勻性測(cè)試的干擾，傳統(tǒng)的方法是在所檢測(cè)的有效光斑區(qū)域外的光斑范圍內(nèi)，放置一個(gè)監(jiān)控電池，用于監(jiān)控光強(qiáng)的變化，請(qǐng)參閱圖1，a為標(biāo)準(zhǔn)電池，b為監(jiān)控電池，通過(guò)監(jiān)控電池b的光強(qiáng)變化，計(jì)算出在測(cè)試第2，3…點(diǎn)位置在測(cè)試第1點(diǎn)位置時(shí)的光強(qiáng)，這樣所有測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試就相當(dāng)于同時(shí)進(jìn)行的，就能有效消除不穩(wěn)定性的干擾。

同時(shí)讀取標(biāo)準(zhǔn)電池a和監(jiān)控電池b的讀數(shù)，如果1到64號(hào)測(cè)試點(diǎn)的標(biāo)準(zhǔn)電池a讀數(shù)為m1，m2，m3，…m64，當(dāng)時(shí)的監(jiān)控電池b讀數(shù)為n1，n2，n3，…n64，將2號(hào)到64號(hào)點(diǎn)測(cè)試時(shí)的光源光強(qiáng)換算到測(cè)試1號(hào)點(diǎn)的光強(qiáng)水平，用于計(jì)算64個(gè)點(diǎn)的不均勻光強(qiáng)分別為：m1，m2*n1/n2，m3*n1/n3，m4*n1/n4…m64*n1/n64。

傳統(tǒng)的方法存在以下缺陷：

1.部分太陽(yáng)能模擬器已經(jīng)安裝在生產(chǎn)線上，光斑周圍有測(cè)試夾具，沒(méi)有空間放置監(jiān)控電池。

2.大部分太陽(yáng)能模擬器的光斑面積只比有效檢測(cè)面積大一點(diǎn)點(diǎn)，監(jiān)控電池也有一定尺寸，有效面積外光斑區(qū)域內(nèi)不足以放置監(jiān)控電池。

由于以上原因，就導(dǎo)致了在很多情況難以用監(jiān)控電池做光強(qiáng)修正，進(jìn)而精確測(cè)試不均勻性指標(biāo)。

發(fā)明內(nèi)容

鑒于以上所述現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn)，本發(fā)明的目的在于提供一種光源不均勻性測(cè)試方法，用于解決現(xiàn)有技術(shù)中在很多情況難以用監(jiān)控電池進(jìn)行光強(qiáng)修正，進(jìn)而難以精確測(cè)試不均勻性指標(biāo)的問(wèn)題。

本發(fā)明提供一種光源不均勻性測(cè)試方法，所述方法包括以下步驟：

步驟1：將監(jiān)控電池固定在第一測(cè)試點(diǎn)，移動(dòng)標(biāo)準(zhǔn)電池測(cè)試第1號(hào)點(diǎn)到第33號(hào)點(diǎn)，并且記錄標(biāo)準(zhǔn)電池的測(cè)試數(shù)據(jù)分別為m1，m2，……，m33，監(jiān)控電池的測(cè)試數(shù)據(jù)分別為n1，n2，……，n33；