[發明專利]結構檢測線圈和用于制造結構檢測線圈的方法

在審

• 申請號: 202110253611.7
• 申請日: 2021-03-09
• 公開（公告）號: CN113488306A
• 公開（公告）日: 2021-10-08
• 發明（設計）人: 克里斯托夫·希爾德布蘭特;簡·阿切恩
• 申請（專利權）人: 舍弗勒技術股份兩合公司
• 主分類號: H01F5/00
• 分類號: H01F5/00;G01N27/90
• 代理公司: 北京東方億思知識產權代理有限責任公司 11258
• 代理人: 柳春雷

1.結構檢測線圈(100)，包括至少一個用于容納繞線束的繞組模(1)以及用于形成線圈繞組的多個繞線束，其中，所述繞組模(1)構造成沿著縱軸線(L)延伸的空心體，所述空心體具有用于容納檢測體的空腔(11)，并且所述繞組模(1)具有至少一個敞口的端部(12、13)，

其中，所述繞組模(1)的垂直于所述縱軸線(L)延伸的橫截面沿著所述縱軸線(L)變化，并且所述線圈繞組形成沿著共同的縱軸線(L)的至少一個發射線圈(5a、5b)和至少一個接收線圈(6)。

2.根據權利要求1所述的結構檢測線圈(100)，其中，所述繞組模(1)在增材制造工藝中制成。

3.根據前述權利要求中任一項所述的結構檢測線圈(100)，其中，沿著所述縱軸線(L)構造分別用于容納繞線束的至少兩個區段(14、15)，所述區段沿軸向并排相鄰地布置在所述繞組模(1)的外側(16)上，并且所述區段(14、15)通過至少一個繞線腔限制部(17、17a、17b)彼此隔開。

4.根據權利要求3所述的結構檢測線圈(100)，其中，所述繞線腔限制部(17、17a、17b)構造成凸緣狀并且垂直于所述縱軸線(L)遠離地從所述繞組模(1)的整個外周延伸。

5.根據權利要求3至4中任一項所述的結構檢測線圈(100)，其中，所述繞線腔限制部(17、17a、17b)與所述繞組模(1)一件式地構造。

6.根據前述權利要求中任一項所述的結構檢測線圈(100)，其中，所述繞組模(1)在軸向端部處具有定位輔助件(18、19)。

7.根據權利要求6所述的結構檢測線圈(100)，其中，所述定位輔助體(18、19)與所述繞組模(1)一件式地構造。

8.根據權利要求6或7所述的結構檢測線圈(100)，其中，所述定位輔助件(18、19)構造成凸緣狀并且垂直于所述縱軸線(L)遠離地從所述繞組模(1)的整個外周延伸。

9.用于制造根據前述權利要求中任一項所述的結構檢測線圈(100)的方法，所述方法具有以下的方法步驟：

-借助增材制造工藝制造所述繞組模(1)；

-將繞線束形式的線圈繞組布置到所述繞組模(1)上；

-將所述繞組模(1)預定位在殼體(2)中，尤其對中地預定位在所述殼體中；

-用灌封材料(4)填充所述繞組模的外側(16)和所述殼體(2)之間的內部空間(3)。