[發明專利]激光器壽命老化測試裝置

在審

• 申請號: 202110252251.9
• 申請日: 2021-03-08
• 公開（公告）號: CN113008522A
• 公開（公告）日: 2021-06-22
• 發明（設計）人: 潘華東;郭學文;王俊;錢承
• 申請（專利權）人: 蘇州長光華芯光電技術股份有限公司;蘇州長光華芯半導體激光創新研究院有限公司
• 主分類號: G01M11/00
• 分類號: G01M11/00;G01R31/00
• 代理公司: 北京三聚陽光知識產權代理有限公司 11250
• 代理人: 薛異榮

本發明提供一種激光器壽命老化測試裝置，包括：積分球結構，所述積分球結構具有入光口和出光口；激光器，所述激光器發射的激光適于傳輸至所述入光口；光電轉換電路板，光電轉換電路板適于收集所述出光口的光信號；控制電路板，所述控制電路板與所述光電轉換電路板電學連接；電源體，所述電源體具有電源輸出端和電源控制端，所述電源控制端與所述控制電路板電學連接，所述電源輸出端與所述激光器電學連接。所述激光器壽命老化測試裝置的可靠性得到提高。

技術領域

本發明涉及半導體激光器領域，具體涉及一種激光器壽命老化測試裝置。

背景技術

半導體激光器是以一定的半導體材料做工作物質而產生激光的器件。半導體激光器的老化，是產品出貨前必須經過的一道生產檢驗流程，經過篩選后的半導體激光器才能保證其質量和使用壽命。

目前市場，可供光纖耦合激光器壽命老化測試的系統少之又少，而且無法滿足高功率高電流的光纖耦合激光器壽命老化及過程中的監測及保護機制不夠成熟和完善。因此，迫切需要發明一種能夠提供高功率高電流的光纖耦合激光器壽命老化測試系統，且能實時監測到激光器壽命老化在過程中的狀態，提高激光器壽命老化測試裝置的可靠性。

發明內容

因此，本發明要解決的技術問題在于克服現有技術的激光器壽命老化測試裝置的可靠性較差的問題。

本發明提供一種激光器壽命老化測試裝置，包括：積分球結構，所述積分球結構具有入光口和出光口；激光器，所述激光器發射的激光適于傳輸至所述入光口；光電轉換電路板，光電轉換電路板適于收集所述出光口的光信號；控制電路板，所述控制電路板與所述光電轉換電路板電學連接；電源體，所述電源體具有電源輸出端和電源控制端，所述電源控制端與所述控制電路板電學連接，所述電源輸出端與所述激光器電學連接。

可選的，所述積分球結構包括第一積分半球結構和與第一積分半球結構固定連接的第二積分半球結構，所述第一積分半球結構中具有若干個第一半球槽，所述第二積分半球結構中具有若干個第二半球槽，第一半球槽與第二半球槽相對設置且一一對應；所述入光口位于第一半球槽背向第二半球槽的一側；所述出光口位于所述第二半球槽背向第一半球槽的一側；所述光電轉換電路板設置在第二積分半球結構背向第一積分半球結構的一側。

可選的，所述第一積分半球結構中還具有貫穿第一積分半球結構的第一固定槽，所述第一固定槽位于第一半球槽的側部且與第一半球槽間隔；所述第二積分半球結構中還具有貫穿第二積分半球結構的第二固定槽，所述第二固定槽位于第二半球槽的側部且與第二半球槽間隔，所述第二固定槽與所述第一固定槽貫通；所述激光器壽命老化測試裝置還包括：位于所述第一固定槽和第二固定槽中的連接件。

可選的，所述第一積分半球結構中還具有第一冷卻通道和第一連接通道，所述第一連接通道與所述第一冷卻通道貫通；所述第二積分半球結構中還具有第二冷卻通道和第二連接通道，所述第二連接通道與所述第二冷卻通道貫通；所述第二連接通道與所述第一連接通道相互貫通。

可選的，所述積分球結構還包括：位于所述第一半球槽內壁的第一噴砂層；位于所述第二半球槽內壁的第二噴砂層。

可選的，還包括：限位板，所述限位板中具有限位口；所述光電轉換電路板嵌在所述限位口中，所述限位板與所述積分球結構固定連接。

可選的，還包括：位于所述光電轉換電路板和控制電路板之間的間隔柱。

可選的，還包括：冷卻板；所述激光器位于所述冷卻板上。

可選的，所述冷卻板中設置有散熱道；部分所述散熱道中設置鰭片組，所述鰭片組包括若干間隔的鰭片；所述冷卻板中具有激光器定位孔，所述激光器定位孔位于所述鰭片組的周圍。

可選的，還包括：位于所述冷卻板和所述激光器之間的散熱介質層。

可選的，所述散熱介質層包括導熱硅脂層或石墨片。