[發明專利]參考平面標定方法、障礙物檢測方法以及距離檢測裝置

有效

• 申請號: 202110252162.4
• 申請日: 2021-03-08
• 公開（公告）號: CN113050073B
• 公開（公告）日: 2023-02-28
• 發明（設計）人: 胡洪偉
• 申請（專利權）人: 上海炬佑智能科技有限公司
• 主分類號: G01S7/497
• 分類號: G01S7/497
• 代理公司: 深圳市嘉勤知識產權代理有限公司 44651
• 代理人: 董琳

1.一種參考平面標定方法，其特征在于，包括以下步驟：

提供距離檢測設備，所述距離檢測設備具有傳感陣列以獲取距離信息，所述傳感陣列包括陣元；所述距離檢測設備包括傳感陣列、ToF發射單元以及光學器件；

獲取所述光學器件與所述參考平面的位置關系；

構建參考平面中各點與所述傳感陣列中的各個陣元的對應關系，并根據所述參考平面中各點與對應的陣元的空間幾何關系，獲取所述參考平面中各點的標準距離信息；所述參考平面對應至待測平面的理想平坦狀態，以便使用所述參考平面的標準距離信息來獲取待測平面的障礙物情況；

所述光學器件包括透鏡，所述位置關系包括所述透鏡的中心點相對于所述參考平面的高度；根據所述參考平面中各點與對應的陣元的空間幾何關系獲取所述參考平面中各點的標準距離信息時，獲取所述傳感陣列中的各個陣元相對于所述參考平面的高度，并根據所述透鏡的焦距將所述參考平面中各點對應至所述傳感陣列中的各個不同高度的陣元。

2.根據權利要求1所述的參考平面標定方法，其特征在于，所述透鏡的中心點與所述傳感陣列的中心行等高，依照以下等式獲取所述標準距離信息：

其中，Depth(y)為所述傳感陣列上一陣元y獲取到的標定距離，ToF_Height為所述透鏡的中心點相對于所述參考平面的高度，Fy為所述透鏡的焦距在平行于參考平面的方向上的分量，v(y)為所述陣元y在所述傳感陣列中相對于所述傳感陣列中心行的高度。

3.一種障礙物檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：

提供參考平面的標準距離信息，所述標準距離信息依據權利要求1至2任一項所述的標定方法獲取；

采用所述距離檢測設備獲取待測平面中各點的實測距離信息，所述參考平面為所述待測平面的理想平坦狀態；

比較所述標準距離信息以及所述實測距離信息，并根據比較結果判斷所述待測平面是否有障礙物。

4.根據權利要求3所述的障礙物檢測方法，其特征在于，根據比較結果判斷所述待測平面是否有障礙物時，若存在點的實測距離信息小于對應的標準距離信息，則判定所述待測平面存在障礙物，否則，則判定所述待測平面無障礙物。

5.根據權利要求3所述的障礙物檢測方法，其特征在于，還包括以下步驟：給實測距離信息小于標準距離信息的點賦予第一特征值，并給其余點賦予第二特征值。

6.根據權利要求3所述的障礙物檢測方法，其特征在于，所述距離檢測設備包括ToF模組。

7.一種距離檢測裝置，其特征在于，包括：

ToF模組，用于獲取距離信息；

控制器，連接至所述ToF模組，用于執行控制程序，以實現如權利要求3至6任一項所述的障礙物檢測方法；

存儲器，連接至所述控制器，并存儲有所述控制程序對應的程序代碼。