[發明專利]一種超導全張量磁梯度探頭及超導全張量磁梯度測量系統

在審

• 申請號: 202110251821.2
• 申請日: 2021-03-08
• 公開（公告）號: CN113030798A
• 公開（公告）日: 2021-06-25
• 發明（設計）人: 張樹林;王永良;張國鋒;宓現強;謝曉明
• 申請（專利權）人: 中國科學院上海微系統與信息技術研究所
• 主分類號: G01R33/022
• 分類號: G01R33/022;G01R33/035
• 代理公司: 上海光華專利事務所(普通合伙) 31219
• 代理人: 林麗麗

1.一種超導全張量磁梯度探頭，其特征在于，所述超導全張量磁梯度探頭包括：固定支架，安裝于所述固定支架上的3個平面梯度計及2個軸向梯度計；其中，第1個所述平面梯度計用于測量Gxy和Gyx中的任一平面梯度分量，第2個所述平面梯度計用于測量Gxz和Gzx中的任一平面梯度分量，第3個所述平面梯度計用于測量Gyz和Gzy中的任一平面梯度分量，2個所述軸向梯度計用于測量Gxx、Gyy和Gzz中的任兩個軸向梯度分量。

2.根據權利要求1所述的超導全張量磁梯度探頭，其特征在于，第1個所述平面梯度計以法向朝X方向、切向朝Y方向的固定方式，安裝于所述固定支架上，用以測量Gxy；或第1個所述平面梯度計以法向朝Y方向、切向朝X方向的固定方式，安裝于所述固定支架上，用以測量Gyx。

3.根據權利要求1所述的超導全張量磁梯度探頭，其特征在于，第2個所述平面梯度計以法向朝X方向、切向朝Z方向的固定方式，安裝于所述固定支架上，用以測量Gxz；或第2個所述平面梯度計以法向朝Z方向、切向朝X方向的固定方式，安裝于所述固定支架上，用以測量Gzx。

4.根據權利要求1所述的超導全張量磁梯度探頭，其特征在于，第3個所述平面梯度計以法向朝Y方向、切向朝Z方向的固定方式，安裝于所述固定支架上，用以測量Gyz；或第3個所述平面梯度計以法向朝Z方向、切向朝Y方向的固定方式，安裝于所述固定支架上，用以測量Gzy。

5.根據權利要求1所述的超導全張量磁梯度探頭，其特征在于，2個所述軸向梯度計中，一個以法向、切向均朝X方向的固定方式，另一個以法向、切向均朝Y方向的固定方式，安裝于所述固定支架上，用以測量Gxx和Gyy；或2個所述軸向梯度計中，一個以法向、切向均朝X方向的固定方式，另一個以法向、切向均朝Z方向的固定方式，安裝于所述固定支架上，用以測量Gxx和Gzz；或2個所述軸向梯度計中，一個以法向、切向均朝Y方向的固定方式，另一個以法向、切向均朝Z方向的固定方式，安裝于所述固定支架上，用以測量Gyy和Gzz。

6.根據權利要求1-5任一項所述的超導全張量磁梯度探頭，其特征在于，所述平面梯度計采用線繞平面梯度線圈接超導量子干涉器件實現，或采用集成平面梯度計實現。

7.根據權利要求1-5任一項所述的超導全張量磁梯度探頭，其特征在于，所述軸向梯度計采用線繞軸向梯度線圈接超導量子干涉器件實現。

8.一種超導全張量磁梯度測量系統，其特征在于，所述超導全張量磁梯度測量系統包括：如權利要求1-7任一項所述的超導全張量磁梯度探頭。