[發明專利]數據質量識別方法、裝置、計算機設備和存儲介質

在審

• 申請號: 202110250433.2
• 申請日: 2021-03-08
• 公開（公告）號: CN112862355A
• 公開（公告）日: 2021-05-28
• 發明（設計）人: 黃利賢
• 申請（專利權）人: 騰訊科技（深圳）有限公司
• 主分類號: G06Q10/06
• 分類號: G06Q10/06;G06Q30/02
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 李文淵

1.一種數據質量識別方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取目標調查數據；所述目標調查數據包括至少兩個數據平臺采集得到的調查數據；每個數據平臺的調查數據為相應的數據平臺針對同一份調查表對相同用戶群體所采集得到，包括調查指標和所述調查指標對應的統計數據；

根據所述目標調查數據，獲取兩兩數據平臺的各個調查指標的統計數據集合；

對所述兩兩數據平臺的各個調查指標的統計數據集合進行線性回歸處理，得到所述兩兩數據平臺的調查數據的多個質量評估參數；

根據所述兩兩數據平臺的調查數據的多個質量評估參數，確定對所述兩兩數據平臺的調查數據的質量識別結果；

根據對所述兩兩數據平臺的調查數據的質量識別結果，確定對所述目標調查數據的目標質量識別結果。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在根據所述目標調查數據，獲取兩兩數據平臺的各個調查指標的統計數據集合之前，還包括：

對所述目標調查數據中的無效數據進行過濾，得到過濾后的目標調查數據；

所述根據所述目標調查數據，獲取兩兩數據平臺的各個調查指標的統計數據集合，包括：

根據所述過濾后的目標調查數據，獲取兩兩數據平臺的各個調查指標的統計數據集合。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述對所述兩兩數據平臺的各個調查指標的統計數據集合進行線性回歸處理，得到所述兩兩數據平臺的調查數據的多個質量評估參數，包括：

對所述兩兩數據平臺的各個調查指標的統計數據集合進行線性回歸處理，得到所述兩兩數據平臺之間的統計數據的映射關系式；

根據所述兩兩數據平臺的各個調查指標的統計數據集合以及所述映射關系式，得到所述兩兩數據平臺的調查數據的多個預設維度的回歸擬合參數，并將所述多個預設維度的回歸擬合參數作為所述兩兩數據平臺的調查數據的多個質量評估參數。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述兩兩數據平臺的調查數據的多個質量評估參數，確定對所述兩兩數據平臺的調查數據的質量識別結果，包括：

若所述兩兩數據平臺的調查數據的多個質量評估參數均滿足對應的閾值，則確定所述兩兩數據平臺的調查數據的質量識別結果為質量等級相同。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據對所述兩兩數據平臺的調查數據的質量識別結果，確定對所述目標調查數據的目標質量識別結果，包括：

若所述質量識別結果為質量等級相同，則將所述目標質量識別結果確定為質量達標；

若所述質量識別結果為質量等級不相同，則將所述目標質量識別結果確定為質量不達標。

6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，在將所述目標質量識別結果確定為質量不達標之后，還包括：

重新調整所述至少兩個數據平臺的數據采集方式，得到所述至少兩個數據平臺的新的數據采集方式；

獲取通過所述至少兩個數據平臺基于所述新的數據采集方式采集得到的調查數據，得到新的目標調查數據。

7.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，在將所述目標質量識別結果確定為質量達標之后，還包括：

將所述目標調查數據發送至對應的數據解析平臺；所述數據解析平臺用于對所述目標調查數據進行解析，得到對應的數據解析結果。