[發(fā)明專利]一種用于CMP清洗單元搬運(yùn)晶圓的機(jī)械手及方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110249046.7 | 申請(qǐng)日: | 2021-03-08 |
| 公開(公告)號(hào): | CN112614802B | 公開(公告)日: | 2021-07-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 沈凌寒;周智鵬;張志軍 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 杭州眾硅電子科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/677 | 分類號(hào): | H01L21/677 |
| 代理公司: | 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227 | 代理人: | 牛亭亭 |
| 地址: | 311305 浙江省杭州*** | 國(guó)省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 用于 cmp 清洗 單元 搬運(yùn) 機(jī)械手 方法 | ||
1.一種用于CMP清洗單元搬運(yùn)晶圓的機(jī)械手,其特征在于,包括布置于清洗單元的上方或下方的X軸滑軌(1)、至少一個(gè)Z軸滑軌(2)、設(shè)置于Z軸滑軌(2)的滑塊上的搬取裝置,所述Z軸滑軌(2)設(shè)置于所述X軸滑軌(1)的滑塊上做水平方向移動(dòng),所述搬取裝置帶有旋轉(zhuǎn)功能以實(shí)現(xiàn)將晶圓放置到清洗單元的旋轉(zhuǎn)甩干機(jī)構(gòu)(6)上;所述搬取裝置為拾取裝置(4),所述拾取裝置(4)上設(shè)有大弧面(401)、小弧面(402)和溝槽(403),所述大弧面(401)的直徑大于晶圓(5)的直徑,所述小弧面(402)的直徑小于晶圓(5)的直徑,所述溝槽(403)用于裝夾晶圓(5),所述溝槽(403)的深度大于晶圓(5)的厚度;所述溝槽(403)周向上設(shè)有弧形開口(404),所述弧形開口(404)用于避開水平方向取放晶圓(5)時(shí)的晶圓(5)托架,所述弧形開口(404)的數(shù)量根據(jù)甩旋轉(zhuǎn)甩干機(jī)構(gòu)(6)的限位柱(7)個(gè)數(shù)以及與所述拾取裝置(4)的位置關(guān)系而變化;所述拾取裝置(4)的開口兩側(cè)均設(shè)有曲面(405)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于CMP清洗單元搬運(yùn)晶圓的機(jī)械手,其特征在于,靠近所述旋轉(zhuǎn)甩干機(jī)構(gòu)(6)一側(cè)的Z軸滑軌(2)的滑塊上設(shè)置有旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)(3),所述搬取裝置與所述旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)(3)連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于CMP清洗單元搬運(yùn)晶圓的機(jī)械手,其特征在于,至少一個(gè)所述Z軸滑軌(2)與對(duì)應(yīng)的X軸滑軌(1)的滑塊獨(dú)立設(shè)置或共享設(shè)置。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于CMP清洗單元搬運(yùn)晶圓的機(jī)械手,其特征在于,所述曲面(405)上設(shè)有角度向外張開的斜口。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的用于CMP清洗單元搬運(yùn)晶圓的機(jī)械手,其特征在于,所述曲面(405)上方還設(shè)有弧形缺口(406)。
6.一種用于CMP清洗單元搬運(yùn)晶圓的方法,應(yīng)用于權(quán)利要求1至5任意一項(xiàng)所述的機(jī)械手,其特征在于,包括以下步驟:
S11:X軸滑軌(1)的滑塊帶動(dòng)遠(yuǎn)離旋轉(zhuǎn)甩干機(jī)構(gòu)(6)一側(cè)的Z軸滑軌(2)滑動(dòng)至最遠(yuǎn)側(cè)工藝腔(10)上方,Z軸滑軌(2)上的滑塊帶動(dòng)搬取裝置將晶圓抓取并傳輸?shù)角逑垂に噮^(qū)第一個(gè)工藝腔(10)內(nèi);
S12:待第一道清洗工藝完成后,搬取裝置向下移動(dòng),完成晶圓垂直方向上的取片,對(duì)應(yīng)Z軸滑軌(2)上的滑塊帶動(dòng)搬取裝置上升到預(yù)設(shè)位置,X軸滑軌(1)上的滑塊驅(qū)動(dòng)對(duì)應(yīng)Z軸滑軌(2)上的搬取裝置,將晶圓放到第二個(gè)工藝腔(10)內(nèi);
S13:按照步驟S11至步驟S12在多個(gè)工藝腔(10)內(nèi)進(jìn)行晶圓傳送,直至完成最后一個(gè)工藝腔(10)的清洗;
S14:緊鄰旋轉(zhuǎn)甩干機(jī)構(gòu)(6)一側(cè)的Z軸滑軌(2)上的滑塊帶動(dòng)搬取裝置向下移動(dòng)至最后一個(gè)工藝腔(10),搬取裝置完成對(duì)晶圓垂直方向上的取片,并利用搬取裝置的旋轉(zhuǎn)功能將晶圓水平放置到旋轉(zhuǎn)甩干機(jī)構(gòu)(6)內(nèi),完成晶圓的清洗過(guò)程。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的用于CMP清洗單元搬運(yùn)晶圓的方法,其特征在于,所述搬取裝置的數(shù)量為1個(gè),步驟S11中所述遠(yuǎn)離旋轉(zhuǎn)甩干機(jī)構(gòu)(6)一側(cè)的Z軸滑軌(2)上的滑塊帶動(dòng)的搬取裝置和步驟S14中所述緊鄰旋轉(zhuǎn)甩干機(jī)構(gòu)(6)一側(cè)的Z軸滑軌(2)上的滑塊帶動(dòng)的搬取裝置為相同結(jié)構(gòu)的搬取裝置。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的用于CMP清洗單元搬運(yùn)晶圓的方法,其特征在于,所述搬取裝置的數(shù)量至少為3個(gè),步驟S14由緊鄰旋轉(zhuǎn)甩干機(jī)構(gòu)(6)一側(cè)的1個(gè)搬取裝置執(zhí)行,步驟S11至步驟S13由除了所述緊鄰旋轉(zhuǎn)甩干機(jī)構(gòu)(6)一側(cè)的1個(gè)搬取裝置外的其他搬取裝置一起執(zhí)行。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
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H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





