[發(fā)明專利]物體的三維信息獲取方法及裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110244233.6 | 申請(qǐng)日: | 2021-03-05 |
| 公開(公告)號(hào): | CN113028989B | 公開(公告)日: | 2022-08-16 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 不公告發(fā)明人 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 蘇州天準(zhǔn)軟件有限公司;蘇州天準(zhǔn)科技股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01B11/00 | 分類號(hào): | G01B11/00;G01B11/25 |
| 代理公司: | 上海華誠(chéng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31300 | 代理人: | 徐穎聰 |
| 地址: | 215000 江蘇省蘇*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 物體 三維 信息 獲取 方法 裝置 | ||
本發(fā)明提供一種物體的三維信息獲取方法及裝置,其中,三維信息獲取方法包括:步驟S1,對(duì)待測(cè)量物體投射相移條紋圖和格雷碼條紋圖;步驟S2,捕捉制后的所述相移條紋圖和所述格雷碼條紋圖;步驟S3,解碼得到相位圖和格雷碼碼值圖;步驟S4,將所述相位圖以及所述格雷碼碼值圖中的像素點(diǎn)分類為第一像素點(diǎn)或第二像素點(diǎn);步驟S5,確定第一像素點(diǎn)和第二像素點(diǎn)的相位階數(shù),從而得到相位階數(shù)圖,根據(jù)所述相位階數(shù)圖解析所述相位圖,從而得到解包相位圖;步驟S6,通過(guò)所述解包相位圖,獲取待測(cè)量物體的三維信息。根據(jù)本發(fā)明的三維信息獲取方法,能夠準(zhǔn)確地獲取物體的三維信息,成本低且穩(wěn)定性高。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及三維傳感領(lǐng)域,具體涉及一種物體的三維信息獲取方法及裝置。
背景技術(shù)
光學(xué)三維傳感技術(shù)是通過(guò)特定的光學(xué)結(jié)構(gòu),通過(guò)主動(dòng)發(fā)射具有某種特性的光信號(hào),被接收裝置捕捉后,對(duì)信號(hào)進(jìn)行分析并獲取其三維信息的對(duì)歐幾里得世界感知的重要手段。主要的代表技術(shù)有基于光的干涉的干涉儀,基于三角測(cè)量原理的,基于飛行時(shí)間的TOF等。
干涉儀由于其高昂的研制成本和苛刻的測(cè)試環(huán)境,納米級(jí)的精度,一般用于實(shí)驗(yàn)室,作為精密計(jì)量的裝置。飛行時(shí)間法,主要分為dTOF和iTOF。其中dTOF的核心芯片為SPAD(Single Photon Avalanche Diode單光子雪崩二極管),直接計(jì)算光子的到達(dá)時(shí)間來(lái)確定距離的遠(yuǎn)近。而iTOF主要是利用信號(hào)的調(diào)制解調(diào),其信號(hào)載體為時(shí)間本身,通過(guò)解調(diào)來(lái)間接獲得飛行時(shí)間,異曲同工解決了對(duì)于距離的感知。TOF具有感知距離遠(yuǎn),結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單的特點(diǎn),但其精度較低,一般在mm級(jí),無(wú)法用于精密的工業(yè)測(cè)量領(lǐng)域。
基于三角測(cè)量原理的技術(shù),一般分為點(diǎn),線和面結(jié)構(gòu)光。點(diǎn)激光顧名思義,是通過(guò)打出去一個(gè)點(diǎn),對(duì)該點(diǎn)返回的信號(hào)被相機(jī)CCD/CMOS捕捉后,通過(guò)投射,相機(jī)和空間點(diǎn)組成的三角形進(jìn)行幾何求解。線激光則是通過(guò)投射打出一個(gè)扇面,該扇面在物體上體現(xiàn)為一條被物體表面調(diào)制的輪廓,輪廓線同樣被相機(jī)捕捉,通過(guò)提取激光線中心像素坐標(biāo),同樣構(gòu)成相機(jī),投影,空間點(diǎn)的三角關(guān)系,得到物體表面該點(diǎn)的空間坐標(biāo)。而面結(jié)構(gòu)光技術(shù),則是打出去一個(gè)面,相對(duì)于點(diǎn)和線激光,其具有一次成像范圍廣,速度快,數(shù)據(jù)稠密等特點(diǎn)。按照行業(yè)分,消費(fèi)級(jí)領(lǐng)域一般使用由VCSEL為代表的散斑結(jié)構(gòu)光,和工業(yè)領(lǐng)域以美國(guó)德州儀器(TexasInstrument,簡(jiǎn)稱TI)公司的數(shù)字投影技術(shù)。
但是,目前獲取的三維信息中的邊緣信息并不準(zhǔn)確,導(dǎo)致三維信息精度不高,不能滿足客戶高精度需求。
發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此,本發(fā)明提供一種物體的三維信息獲取方法及裝置,能夠準(zhǔn)確地獲取物體的三維信息,成本低且穩(wěn)定性高。
為解決上述技術(shù)問(wèn)題,一方面,本發(fā)明提供物體的三維信息獲取方法,包括如下步驟:
步驟S1,對(duì)待測(cè)量物體投射相移條紋圖和格雷碼條紋圖,以由待測(cè)量物體對(duì)所述相移條紋圖和所述格雷碼條紋圖進(jìn)行調(diào)制;
步驟S2,捕捉經(jīng)所述待測(cè)量物體調(diào)制后的所述相移條紋圖和所述格雷碼條紋圖;
步驟S3,對(duì)捕捉到的經(jīng)調(diào)制后的所述相移條紋圖進(jìn)行解碼,得到相位圖,對(duì)捕捉到的經(jīng)調(diào)制后的所述格雷碼條紋圖進(jìn)行解碼,得到格雷碼碼值圖,其中,所述相位圖中的像素點(diǎn)的位置與所述格雷碼碼值圖中的像素點(diǎn)的位置一一對(duì)應(yīng);
步驟S4,將所述相位圖以及所述格雷碼碼值圖中的像素點(diǎn)分類為第一像素點(diǎn)或第二像素點(diǎn),所述第一像素點(diǎn)位于所述格雷碼碼值圖的非邊緣區(qū)域、所述格雷碼碼值圖的跳邊沿區(qū)域或所述相位圖的跳邊沿區(qū)域,所述第二像素點(diǎn)為所述格雷碼碼值圖或所述相位圖中除了所述第一像素點(diǎn)外的其他像素點(diǎn);
步驟S5,根據(jù)所述第一像素點(diǎn)在所述格雷碼碼值圖中的數(shù)值確定第一像素點(diǎn)的相位階數(shù),通過(guò)空域的信息對(duì)所述第二像素點(diǎn)進(jìn)行矯正得到第二像素點(diǎn)的相位階數(shù),根據(jù)所述第一像素點(diǎn)和所述第二像素點(diǎn)的相位階數(shù)得到相位階數(shù)圖,根據(jù)所述相位階數(shù)圖解析所述相位圖,從而得到解包相位圖;
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于蘇州天準(zhǔn)軟件有限公司;蘇州天準(zhǔn)科技股份有限公司,未經(jīng)蘇州天準(zhǔn)軟件有限公司;蘇州天準(zhǔn)科技股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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