[發明專利]一種3C產品外殼檢測篩分機構

有效

• 申請號: 202110243412.8
• 申請日: 2019-06-26
• 公開（公告）號: CN113058867B
• 公開（公告）日: 2022-03-01
• 發明（設計）人: 魏亞東
• 申請（專利權）人: 東莞理工學院
• 主分類號: B07C5/34
• 分類號: B07C5/34;B07C5/36
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明涉及一種3C產品外殼檢測篩分機構，包括機架，所述的機架上設置輸送槽，所述的輸送槽中部開設有檢測凹口，所述的檢測凹口內設置有與外殼配合的平整檢測裝置，所述的輸送槽的尾部開設有能夠使外殼穿過的篩分口，并設置有與篩分口配合的篩分擋料塊，所述的篩分口的下方配合有篩分裝置；本發明的目的是提供一種3C產品外殼檢測篩分機構，在輸送槽內設置平整檢測裝置，并通過篩分口配合篩分裝置能夠將平整檢測裝置檢測后的產品按照檢測結構進行篩分出料，極大的提高了整體加工的效率。

原案申請號：2019105579691

原案申請日：2019年6月26日。

技術領域

本發明涉及3C產品加工領域，尤其涉及一種3C產品外殼檢測篩分機構。

背景技術

所謂3C產品，就是計算機(Computer)、通信(Communication)和消費類電子產品(ConsumerElectronics)三者結合，也稱信息家電，手機是一種常見的3C產品，其外殼大多為金屬材料，通過鑄造成型而成，對于初步成型的產品，需要對其進行一定的檢測，其中外殼外側的平整度檢測是一項重要的檢測，通過平整度檢測將其分為合格產品，可以通過打磨成合格產品和不合格產品，因此需要對檢測后的產品進行篩分處理，現有的篩分大多都是采用人工進行，無法與平整檢測裝置實現一體化加工，進而效率不高。

發明內容

本發明的目的是提供一種3C產品外殼檢測篩分機構，在輸送槽內設置平整檢測裝置，并通過篩分口配合篩分裝置能夠將平整檢測裝置檢測后的產品按照檢測結構進行篩分出料，極大的提高了整體加工的效率。

為了實現以上目的，本發明采用的技術方案為：一種3C產品外殼檢測篩分機構，包括機架，所述的機架上設置輸送槽，所述的輸送槽中部開設有檢測凹口，所述的檢測凹口內設置有與外殼配合的平整檢測裝置，所述的輸送槽的尾部開設有能夠使外殼穿過的篩分口，并設置有與篩分口配合的篩分擋料塊，所述的篩分口的下方配合有篩分裝置。

優選的，所述的篩分裝置包括設置在機架上且位于篩分口下方的篩分筒，所述的篩分筒內設置有三層篩分出料塊，且每層篩分出料塊上均開設有與篩分口位置及大小均對應的篩分落料口，所述的篩分筒內設置有豎直走向的篩分接料氣缸，所述的篩分接料氣缸上連接有可穿入到篩分口的篩分接料塊，所述的篩分筒的側部設置有出料推動座，所述的出料推動座上設置有三個出料推動氣缸，每個出料推動氣缸連接有可穿入到篩分筒內的出料推動塊，且三個出料推動塊分別與三層篩分接料塊的高度一致。

優選的，所述的平整檢測裝置包括設置在檢測凹口內的檢測安裝塊，所述的檢測安裝塊配合有可反應升降幅度的檢測升降裝置，所述的檢測安裝塊的上部陣列開設有檢測孔，所述的檢測孔內通過檢測彈簧連接有檢測柱，所述的檢測柱的上端為弧形，且弧形最高點設置有第一接觸感應器，所述的輸送槽上部設置有上框架，所述的上框架上設置有檢測攔截氣缸和檢測壓料氣缸，所述的檢測攔截氣缸下方連接有使外殼與平整檢測裝置位置對接的檢測攔截塊，所述的檢測壓料氣缸連接有與外殼配合的檢測壓料塊。

優選的，所述的檢測升降裝置包括設置在檢測凹口內且與檢測安裝塊連接的檢測升降氣缸，所述的檢測安裝塊的下方設置有磁柵尺，所述的檢測凹口內設置有與磁柵尺配合的磁柵讀頭，所述的磁柵尺不少于兩組，且關于檢測安裝塊的中心對稱設置。

優選的，所述的檢測壓料塊的下方設置有與外殼側板配合的第二接觸感應器，且第二接觸感應器的數量和位置與外殼的側板一一對應。

優選的，所述的檢測壓料塊遠離檢測攔截塊的一端還設置有豎直板，豎直板內開設在有上大下小階梯狀的高度檢測活動孔，所述的高度檢測活動孔內配合有高度檢測活動柱，高度檢測活動柱的上端為與高度檢測活動孔上部大口徑的部位配合的塊體，所述的高度檢測活動柱的下部設置有高度檢測活動塊，所述的高度檢測活動塊的下方設置有第三接觸感應器。