[發明專利]全光整形器、全光整形器的參數確定方法及裝置

有效

• 申請號: 202110242152.2
• 申請日: 2021-03-04
• 公開（公告）號: CN113050289B
• 公開（公告）日: 2022-04-08
• 發明（設計）人: 孔祥健;徐曉輝;張博;胡毅;羅勇
• 申請（專利權）人: 武漢光迅科技股份有限公司
• 主分類號: G02B27/09
• 分類號: G02B27/09
• 代理公司: 北京派特恩知識產權代理有限公司 11270
• 代理人: 高天華;張穎玲

本發明實施例提供了一種全光整形器、全光整形器的參數確定方法及裝置。所述整形器包括：MZI整形模塊、第一定向耦合器和第二定向耦合器；其中，MZI整形模塊包括：上臂和與上臂并列設置的下臂；所述第一定向耦合器的輸出端分別與MZI整形模塊的輸入端連接，用于將輸入光信號分解為兩路光信號；并通過上臂對所述兩路光信號中的一路光信號進行非線性相移，通過下臂對所述兩路光信號中的一路光信號進行線性相移；第二定向耦合器的輸入端與MZI整形模塊的上臂和下臂連接，用于耦合上臂和下臂輸出的兩路光信號，得到整形后的光信號。

技術領域

本發明涉及光纖通信技術領域，尤其涉及一種全光整形器、全光整形器的參數確定方法及裝置。

背景技術

光纖通信系統中，光信號在傳輸過程中易受到光纖色散、光放大器的ASE噪聲積累以及信道間的相互作用等因素影響，從而導致光信號的劣化，并最終限制了系統和網絡的傳輸速率和距離，為保證信息在網絡中的可靠傳輸，需要及時地對劣化信號進行再生處理。

相關技術中，整形器結構的選取和參數的優化存在一定的限制，并且所述整形器整形的信號是等功率間隔PAM信號，不能實現對每個電平上的整形性能要求。

發明內容

本發明實施例提供一種全光整形器、全光整形器的參數確定方法、裝置、設備及存儲介質。

本發明實施例的技術方案是這樣實現的：

第一方面，本發明實施例提供一種全光整形器，包括：

MZI整形模塊、第一定向耦合器和第二定向耦合器；其中，所述MZI整形模塊包括：上臂和與所述上臂并列設置的下臂；

所述第一定向耦合器的輸出端分別與所述MZI整形模塊的輸入端連接，用于將所述輸入光信號分解為兩路光信號；并通過所述上臂對所述兩路光信號中的一路光信號進行非線性相移，通過所述下臂對所述兩路光信號中的一路光信號進行線性相移；

所述第二定向耦合器的輸入端與所述MZI整形模塊的所述上臂和所述下臂連接，用于耦合所述上臂和所述下臂輸出的兩路光信號，得到整形后的光信號。

可選地，所述全光整形器的再整形微分增益為：

g＝1+a cos x-ax sin x；

其中，所述a為第一系數，0a1；所述x為第一參數，所述x＝bp_in，所述b為第二系數，b0；所述p_in為所述輸入光信號的功率。

可選地，所述MZI整形模塊的所述上臂包括：非線性光纖；所述下臂包括：線性光纖；

所述非線性光纖的幅度透射系數與所述線性光纖的幅度透射系數具有如下關系式：

其中，所述R₁為所述MZI整形模塊上臂的非線性光纖的幅度透射系數；所述R₂為所述MZI整形模塊下臂的線性光纖的幅度透射系數；所述k為第三系數，所述所述ρ₁為所述第一定向耦合器的直通效率，所述ρ₂為所述第二定向耦合器的直通效率；所述MZI整形模塊的相移差與所述輸入光信號的功率具有如下關系式：

其中，所述為所述MZI整形模塊的相移差；所述為所述MZI整形模塊上臂對應的相移；所述為所述MZI整形模塊下臂對應的相移；為所述MZI整形模塊產生的非線性相移差，所述所述m為整數。

第二方面，本發明實施例提供一種全光整形器的參數確定方法，所述全光整形器為上述一個技術方案或多個技術方案所提供的全光整形器，所述方法包括：

確定滿足預設整形條件的所述全光整形器的再整形微分增益；