[發(fā)明專利]用于圖像處理電路的異常檢測方法及系統(tǒng)

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• 申請日: 2021-03-04
• 公開（公告）號: CN112995656A
• 公開（公告）日: 2021-06-18
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 雷志杰;仇志強
• 申請（專利權(quán)）人: 黑芝麻智能科技（上海）有限公司
• 主分類號: H04N17/00
• 分類號: H04N17/00
• 代理公司: 廣州華進聯(lián)合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 羅婷婷

1.一種用于圖像處理電路的異常檢測方法，其特征在于，包括：

生成測試圖像，所述測試圖像遵循預(yù)定的圖像配置規(guī)則；

將所述測試圖像提供給圖像處理電路；

將用于處理所述測試圖像的第一圖像處理參數(shù)提供給所述圖像處理電路，其中所述第一圖像處理參數(shù)是預(yù)先確定的；以及

對經(jīng)處理的測試圖像進行檢測，以判定所述圖像處理電路是否存在異常，其中所述經(jīng)處理的測試圖像為所述圖像處理電路基于所述第一圖像處理參數(shù)對所述測試圖像進行處理后輸出的圖像。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，生成測試圖像包括在所述圖像處理電路的上電復(fù)位期間，基于預(yù)先確定的圖像配置參數(shù)生成所述測試圖像。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，

生成測試圖像包括在第一正常圖像已由所述圖像處理電路處理，但第二正常圖像尚未到達所述圖像處理電路時，基于圖像配置參數(shù)生成所述測試圖像，其中所述圖像配置參數(shù)是根據(jù)所述預(yù)定的圖像配置規(guī)則以及所述第一正常圖像到達所述圖像處理電路的到達時間和所述第二正常圖像到達所述圖像處理電路的預(yù)期到達時間之間的時間間隔來配置的；

并且其中，將用于處理所述測試圖像的第一圖像處理參數(shù)提供給所述圖像處理電路包括將所述圖像處理電路的圖像處理參數(shù)從用于處理所述第一正常圖像的第二圖像處理參數(shù)切換為所述第一圖像處理參數(shù)。

4.根據(jù)權(quán)利要求2或3所述的方法，其特征在于，所述圖像配置參數(shù)包括所述測試圖像的水平尺寸與垂直尺寸、所述測試圖像的幀開始標志和幀結(jié)束標志的位置、所述經(jīng)處理的測試圖像的水平消隱間隔、以及與所述測試圖像的數(shù)據(jù)流相關(guān)聯(lián)的初始值。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，對經(jīng)處理的測試圖像進行檢測包括：

檢查所述經(jīng)處理的測試圖像是否違反所述預(yù)定的圖像配置規(guī)則，并且在所述經(jīng)處理的測試圖像違反所述預(yù)定的圖像配置規(guī)則的情況下，判定所述圖像處理電路存在異常。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述預(yù)定的圖像配置規(guī)則包括：圖像的幀開始標志須設(shè)置在圖像的幀結(jié)束標志之前、圖像的水平尺寸和垂直尺寸須為8或16的整數(shù)倍、以及圖像的水平消隱間隔須保持不變。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，

所述圖像處理電路包括多個并行處理單元；

將測試圖像提供給圖像處理電路包括將所述測試圖像提供給所述圖像處理電路的每一并行處理單元；

所述經(jīng)處理的測試圖像包括經(jīng)由每一并行處理單元處理后獲得的多個經(jīng)處理的測試圖像；

并且，對所述圖像處理電路的輸出圖像進行檢測包括：將所述多個經(jīng)處理的測試圖像進行比較，并且當所述多個經(jīng)處理的測試圖像不一致時，判定所述圖像處理電路存在異常。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，對所述圖像處理電路的輸出圖像進行檢測包括：

計算所述經(jīng)處理的測試圖像的循環(huán)冗余校驗值；

將所述循環(huán)冗余校驗值與預(yù)期的循環(huán)冗余校驗值進行比較，其中所述預(yù)期的循環(huán)冗余校驗值是基于所述測試圖像和所述第一圖像處理參數(shù)確定的；以及

在所述循環(huán)冗余校驗值與所述預(yù)期的循環(huán)冗余校驗值不一致的情況下，判定所述圖像處理電路存在異常。