[發明專利]靜態隨機存取存儲器的糾錯電路的驗證方法

在審

• 申請號: 202110241055.1
• 申請日: 2021-03-04
• 公開（公告）號: CN115019862A
• 公開（公告）日: 2022-09-06
• 發明（設計）人: 楊志強;蔡佳佳;陳彬;邱棟
• 申請（專利權）人: 瑞昱半導體股份有限公司
• 主分類號: G11C16/34
• 分類號: G11C16/34
• 代理公司: 北京市君合律師事務所 11517
• 代理人: 畢長生;魏宇明

1.一種靜態隨機存取存儲器的糾錯電路的驗證方法，包括：

將一原始數據通過一糾錯編碼程序以輸出一第一數據；

依據一埋錯遮罩獲得一第二數據；

將所述第一數據與所述第二數據進行一位運算，得到一第三數據；

將所述第三數據寫入至一靜態存儲器中的一測試目標區以成為一第四數據；

從所述測試目標區讀取所述第四數據；

將所述第四數據輸入一糾錯譯碼程序以輸出一第五數據及一錯誤信息；以及

根據所述第五數據、所述原始數據、所述錯誤信息與所述第二數據，獲得一驗證結果。

2.根據權利要求1所述的靜態隨機存取存儲器的糾錯電路的驗證方法，其特征在于，將所述原始數據通過所述糾錯編碼程序以輸出所述第一數據的步驟包括：將具有一原始位長度的所述原始數據調制為具有一運算位長度的所述第一數據。

3.根據權利要求2所述的靜態隨機存取存儲器的糾錯電路的驗證方法，其特征在于，依據所述埋錯遮罩獲得所述第二數據的步驟包括：

依據所述運算位長度設定所述埋錯遮罩的一位長度；

在所述埋錯遮罩中選擇至少一埋錯位；以及

將一錯誤數據寫入所述至少一埋錯位以獲得所述第二數據。

4.根據權利要求3所述的靜態隨機存取存儲器的糾錯電路的驗證方法，其特征在于，依據所述埋錯遮罩獲得所述第二數據的步驟還包括：

重復在所述埋錯遮罩中選擇其他位作為所述至少一埋錯位，直至所述埋錯遮罩的特定位均曾被選擇。

5.根據權利要求4所述的靜態隨機存取存儲器的糾錯電路的驗證方法，其特征在于，重復在所述埋錯遮罩中選擇其他位作為所述至少一埋錯位的步驟包括：

以所述至少一埋錯位為起點并偏移一第一遞增距離，獲得新的所述至少一埋錯位。

6.根據權利要求4所述的靜態隨機存取存儲器的糾錯電路的驗證方法，其特征在于，重復在所述埋錯遮罩中選擇其他位作為所述至少一埋錯位的步驟包括：隨機選取所述埋錯遮罩中未曾被選過的其他位來獲得新的所述至少一埋錯位。

7.根據權利要求3、4、5或6所述的靜態隨機存取存儲器的糾錯電路的驗證方法，其特征在于，將所述第三數據寫入所述靜態存儲器中的所述測試目標區以成為所述第四數據的步驟包括：

從所述靜態存儲器中選擇一存儲器地址；以及

以所述存儲器地址為所述測試目標區的一起始地址，所述測試目標區的位長度相同于所述第三數據的位長度。

8.根據權利要求7所述的靜態隨機存取存儲器的糾錯電路的驗證方法，其特征在于，將所述第三數據寫入所述靜態存儲器中的所述測試目標區以成為所述第四數據的步驟還包括：

從所述測試目標區中選擇一地址區段，所述地址區段的位長度相同于所述第三數據的所述位長度；以及

將所述第三數據寫入所述地址區段以成為所述第四數據。

9.根據權利要求3、4、5或6所述的靜態隨機存取存儲器的糾錯電路的驗證方法，其特征在于，將所述第三數據寫入所述靜態存儲器中的所述測試目標區以成為所述第四數據的步驟還包括：

獲得所述靜態存儲器的一起始地址與一結束地址；以及

將所述起始地址至所述結束地址做為所述測試目標區，所述測試目標區的位長度大于或等于所述第三數據的位長度。

10.根據權利要求8所述的靜態隨機存取存儲器的糾錯電路的驗證方法，其特征在于，將所述第三數據寫入所述靜態存儲器中的所述測試目標區以成為所述第四數據的步驟還包括：

重復在所述測試目標區中選擇其他位置的另一地址區段，直至所述測試目標區的特定地址均曾被選擇。