[發明專利]量子成像方法以及量子成像系統

有效

• 申請號: 202110238748.5
• 申請日: 2021-03-04
• 公開（公告）號: CN113009688B
• 公開（公告）日: 2022-05-03
• 發明（設計）人: 李俊林;楊哲;黃可馨
• 申請（專利權）人: 清華大學
• 主分類號: G02B27/00
• 分類號: G02B27/00;G03H1/08
• 代理公司: 北京英賽嘉華知識產權代理有限責任公司 11204
• 代理人: 王達佐;王艷春

1.一種量子成像方法，其特征在于，所述方法包括：

確定入射光照射至目標物體后形成的信號光相對于時間的第n階導數S⁽ⁿ⁾；

獲取與所述信號光對應的參考光相對于時間的第n階導數I⁽ⁿ⁾(x,y)；以及

根據所述第n階導數S⁽ⁿ⁾和所述第n階導數I⁽ⁿ⁾(x,y)構建所述目標物體的量子成像模型，以獲得所述目標物體的圖像，

其中，根據以下規則構建所述目標物體的圖像的量子成像模型：

…為量子平均，n為任意的正整數，(x,y)為所述參考光的空間坐標。

2.一種量子成像系統，其特征在于，所述系統包括：

熱光源，用于發出光；

分束器，設置于所述光的光路上，用于將所述光分為第一分光和第二分光；

桶探測器，設置于所述第一分光的光路上，用于收集所述第一分光照射目標物體后形成的信號光；

面陣列探測器，設置于所述第二分光的光路上，用于收集與所述信號光對應的所述第二分光；以及

信號處理模塊，獲取所述信號光相對于時間的第n階導數，獲取所述第二分光相對于時間的第n階導數，并根據所述信號光相對于時間的第n階導數和所述第二分光相對于時間的第n階導數進行計算，以獲得所述目標物體的圖像，

其中，根據以下規則構建所述目標物體的圖像的量子成像模型：

…為量子平均，n為任意的正整數。

3.一種量子成像系統，其特征在于，所述系統包括：

調制熱光源，用于發出入射光；

桶探測器，設置于所述入射光的光路上，用于收集所述入射光照射目標物體后形成的信號光；以及

信號處理模塊，獲取所述信號光相對于時間的第n階導數，根據所述信號光相對于時間的第n階導數，以及與所述信號光對應的參考光相對于時間的第n階導數進行計算，以獲得所述目標物體的圖像，

其中，根據以下規則構建所述目標物體的圖像的量子成像模型：

…為量子平均，n為任意的正整數。

4.根據權利要求3所述的量子成像系統，其特征在于，

將調制信號以及其相對于時間的第n階導數預先儲存于所述信號處理模塊作為所述參考光相對于時間的第n階導數，并由調制器將所述調制信號調制到所述調制熱光源的光場分布中。