[發(fā)明專利]移動終端軟故障測試方法和系統(tǒng)

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202110238546.0
• 申請日: 2021-03-04
• 公開（公告）號: CN113132521A
• 公開（公告）日: 2021-07-16
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 雷志鋒;張戰(zhàn)剛;黃云;彭超;何玉娟;肖慶中
• 申請（專利權(quán)）人: 中國電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn)研究所（（工業(yè)和信息化部電子第五研究所）（中國賽寶實(shí)驗(yàn)室））
• 主分類號: H04M1/24
• 分類號: H04M1/24
• 代理公司: 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 44224
• 代理人: 繆成珠

1.一種移動終端軟故障測試方法，其特征在于，包括：

使得待測移動終端處于測試模式之下；

使用中子束流對所述待測移動終端進(jìn)行輻照測試；

控制所述待測移動終端運(yùn)行不同的應(yīng)用功能；

對所述待測移動終端進(jìn)行監(jiān)測，觀察并統(tǒng)計所述待測移動終端在運(yùn)行不同的應(yīng)用功能時的錯誤情況；

根據(jù)所述錯誤情況區(qū)分不同的軟故障類型。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的移動終端軟故障測試方法，其特征在于，利用散裂中子源產(chǎn)生中子束流。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的移動終端軟故障測試方法，其特征在于，所述中子束流的束斑面積覆蓋整個所述待測移動終端。

4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的移動終端軟故障測試方法，其特征在于，所述控制所述待測移動終端運(yùn)行不同的應(yīng)用功能，包括：

根據(jù)占用所述待測移動終端的硬件資源的情況，對所述應(yīng)用功能進(jìn)行分類；

根據(jù)分類結(jié)果利用所述待測移動終端中自帶的測試程序，使得所述待測移動終端運(yùn)行不同的應(yīng)用功能。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的移動終端軟故障測試方法，其特征在于，所述控制所述待測移動終端運(yùn)行不同的應(yīng)用功能，包括：

根據(jù)占用所述待測移動終端的硬件資源的情況，對所述應(yīng)用功能進(jìn)行分類；

開發(fā)占用所述待測移動終端各類硬件資源的預(yù)設(shè)測試程序；

根據(jù)分類結(jié)果利用所述預(yù)設(shè)測試程序，使得所述待測移動終端運(yùn)行不同的應(yīng)用功能。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的移動終端軟故障測試方法，其特征在于，所述待測移動終端包括智能手機(jī)。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的移動終端軟故障測試方法，其特征在于，所述根據(jù)所述錯誤情況區(qū)分不同的軟故障類型之后，還包括：

基于不同的所述軟故障類型分析所述待測移動終端中出錯的數(shù)據(jù)流，并分析不同的所述軟故障類型對應(yīng)的所述待測移動終端中的底層問題。

8.一種移動終端軟故障測試系統(tǒng)，其特征在于，包括：

輻照裝置，用于產(chǎn)生中子束流對處于測試模式之下的待測移動終端進(jìn)行輻照測試；

控制裝置，用于使得待測移動終端處于測試模式之下，并控制所述待測移動終端運(yùn)行不同的應(yīng)用功能；

數(shù)據(jù)采集裝置，與所述控制裝置相連接，用于對所述待測移動終端進(jìn)行監(jiān)測，觀察并統(tǒng)計所述待測移動終端在運(yùn)行不同的應(yīng)用功能時的錯誤情況；

所述控制裝置還用于根據(jù)所述錯誤情況區(qū)分不同的軟故障類型。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的移動終端軟故障測試系統(tǒng)，其特征在于，所述輻照裝置包括散裂中子源。

10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的移動終端軟故障測試系統(tǒng)，其特征在于，所述移動終端軟故障測試系統(tǒng)還包括：

通信模塊，分別與所述控制裝置和所述待測移動終端相連接，用于實(shí)現(xiàn)所述控制裝置和所述待測移動終端之間的數(shù)據(jù)傳輸。