[發明專利]一種對電子產品進行改進的方法、裝置、設備和介質

在審

• 申請號: 202110238460.8
• 申請日: 2021-03-04
• 公開（公告）號: CN112966093A
• 公開（公告）日: 2021-06-15
• 發明（設計）人: 潘星;王輝雄
• 申請（專利權）人: 北京航空航天大學
• 主分類號: G06F16/335
• 分類號: G06F16/335;G06F16/33
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 榮穎佳

1.一種對電子產品進行改進的方法，其特征在于，包括：

獲取每一種電子產品的評論文本；

基于每一種電子產品的評論文本，統計所述電子產品的產品銷量、故障個數、實際故障時間；

針對每一種電子產品，根據統計得到的所述電子產品的產品銷量、故障個數、實際故障時間，計算所述電子產品的使用壽命；

根據不同電子產品的使用壽命之間的比較結果，確定目標電子產品；

對所述目標電子產品進行技術改進。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述評論文本中包括至少一個故障文本；所述對所述目標電子產品進行技術改進，包括：

在所述目標電子產品的評論文本中篩選出故障文本；

根據所述目標電子產品的故障文本，確定所述目標電子產品中每個產品部件的故障率；

根據每個產品部件的故障率，確定待進行改進的目標產品部件；

對所述目標產品的目標產品部件進行技術改進。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述在所述目標電子產品的評論文本中篩選出故障文本，包括：

針對目標電子產品的評論文本，通過預設故障詞在所述目標電子產品的評論文本中篩選出故障文本。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述針對每一種電子產品，根據統計得到的所述電子產品的產品銷量、故障個數、實際故障時間計算所述電子產品的使用壽命，包括：

針對每一種電子產品，根據第一壽命分布模型和所述電子產品的產品銷量、故障個數、實際故障時間，計算得到所述電子產品的第一壽命區間；

針對每一種電子產品，根據第二壽命分布模型和所述電子產品的產品銷量、故障個數、實際故障時間，計算得到所述電子產品的第二壽命區間；其中，所述第一壽命分布模型和所述第二壽命分布模型是不同的壽命分布模型；

針對每一種電子產品，根據所述電子產品的第一壽命區間和第二壽命區間之間的區間范圍的比較結果，確定出所述電子產品的使用壽命。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述評論文本包括購買時間和評論時間；所述實際故障時間的確定過程包括：

針對每一種所述電子產品，根據該電子產品的每一個評論文本中的購買時間和評論時間，計算該電子產品的候選故障時間；

針對每一種所述電子產品，根據所述候選故障時間和電子產品的非工作時間，計算該電子產品的實際故障時間；其中，所述非工作時間是基于所述候選故障時間確定的。

6.一種對電子產品進行改進的裝置，其特征在于，包括：

獲取模塊：用于獲取每一種電子產品的評論文本；

統計模塊：用于基于每一種電子產品的評論文本，統計所述電子產品的產品銷量、故障個數、實際故障時間；

分析模塊：用于針對每一種電子產品，根據統計得到的所述電子產品的產品銷量、故障個數、實際故障時間計算所述電子產品的使用壽命；

確定模塊：用于根據不同電子產品的使用壽命之間的比較結果，確定目標電子產品；

改進模塊：用于對所述目標電子產品進行技術改進。

7.根據權利要求6所述的裝置，其特征在于，所述改進模塊，包括：

第一單元：用于在所述目標電子產品的評論文本中篩選出故障文本；

第二單元：用于根據所述目標電子產品的故障文本，確定所述目標電子產品中每個產品部件的故障率；

第三單元：用于根據每個產品部件的故障率，確定待進行改進的目標產品部件；

第四單元：用于對所述目標產品的目標產品部件進行技術改進。

8.根據權利要求7所述的裝置，其特征在于，所述第一單元，包括：

篩選子單元：用于針對目標電子產品的評論文本，通過預設故障詞在所述目標電子產品的評論文本中篩選出故障文本。

9.一種計算機設備，包括存儲器、處理器及存儲在所述存儲器上并可在所述處理器上運行的計算機程序，其特征在于，所述處理器執行所述計算機程序時實現上述權利要求1-5中任一項所述的方法的步驟。

10.一種計算機可讀存儲介質，所述計算機可讀存儲介質上存儲有計算機程序，其特征在于，所述計算機程序被處理器運行是執行上述權利要求1-5中任一項所述的方法的步驟。