[發明專利]裂片檢測電路、指紋芯片、指紋芯片模組及電子設備在審
| 申請號: | 202110237291.6 | 申請日: | 2021-03-03 |
| 公開(公告)號: | CN112881900A | 公開(公告)日: | 2021-06-01 |
| 發明(設計)人: | 杜俊濤;吳佳華 | 申請(專利權)人: | 深圳阜時科技有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/28 | 分類號: | G01R31/28;G01R31/26 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 裂片 檢測 電路 指紋 芯片 模組 電子設備 | ||
本申請提供了一種裂片檢測電路,設在集成電路裸片內以檢測集成電路裸片是否破裂。裂片檢測電路包括:處理器,包括檢測信號輸出端、檢測信號接收端及報警信號輸出端;及檢測線路,連接檢測信號輸入端及檢測信號輸出端以使得處理器和檢測線路形成一檢測回路;其中,處理器通過檢測信號輸出端發出第一檢測信號,第一檢測信號經檢測線路傳輸后形成預設的第二檢測信號,處理器在發出第一檢測信號后經預設時間延遲仍未接收到信號或者接收到的信號與預設的第二檢測信號不符,則判斷集成電路裸片在檢測線路經過的位置發生破裂并經報警信號輸出端輸出報警信號。本申請還提供一種指紋芯片、指紋芯片模組及電子設備。
技術領域
本申請屬于半導體技術領域,尤其涉及一種裂片檢測電路、指紋芯片、指紋芯片模組及電子設備。
背景技術
為了滿足電子設備輕薄化的設計要求,設置在所述電子設備上的芯片或芯片模組也趨向于微型化,做得越來越薄或越來越細。然而,微型化設計會讓芯片或芯片模組的強度降低而容易破裂,而所述芯片或芯片模組破裂后,其內部的線路容易短路而導致溫度升高,進而可能燙傷使用者甚至引發火災等安全事故。
發明內容
本申請提供一種可以解決上述技術問題的裂片檢測電路,還提供一種使用該裂片檢測電路的指紋芯片、指紋芯片模組及電子設備。
本申請實施例提供了一種裂片檢測電路,設在集成電路裸片內以檢測所述集成電路裸片是否破裂。所述裂片檢測電路包括:
處理器,包括檢測信號輸出端、檢測信號接收端及報警信號輸出端;及
檢測線路,連接所述檢測信號輸入端及檢測信號輸出端以使得所述處理器和檢測線路形成一檢測回路;
其中,所述處理器通過檢測信號輸出端發出第一檢測信號,所述第一檢測信號經檢測線路傳輸后形成預設的第二檢測信號,所述處理器在發出第一檢測信號后經預設時間延遲仍未接收到信號或者接收到的信號與預設的第二檢測信號不符,則判斷所述集成電路裸片在檢測線路經過的位置發生破裂并經所述報警信號輸出端輸出報警信號。
在某些實施例中,所述檢測線路設置在靠近所述集成電路裸片邊緣的位置。
在某些實施例中,所述第二檢測信號與第一檢測信號相同;或者所述第二檢測信號與第一檢測信號不同。
在某些實施例中,所述裂片檢測電路還包括一個或多個緩沖器,所述緩沖器設置在檢測線路上用于對第一檢測信號和/或第二檢測信號進行加強和整形以提高第一檢測信號和/或第二檢測信號的抗干擾性,在所述檢測線路上傳輸的信號在經所述緩沖器前后保持一致。
在某些實施例中,多個所述緩沖器沿著檢測線路按照預設間隔進行設置,相鄰的所述緩沖器之間在所述檢測線路上的間隔相等;或者
相鄰的所述緩沖器之間在所述檢測線路上的間隔不相等。
在某些實施例中,所述緩沖器包括兩個依次連接的反相器。
在某些實施例中,所述集成電路裸片包括電路功能區,所述電路功能區定義為用于設置實現芯片功能的電路的區域,所述電路功能區與集成電路裸片的邊緣之間具有預設的距離,以在所述電路功能區與集成電路裸片邊緣之間形成凈空區,所述檢測線路設置在電路功能區內靠近所述電路功能區邊緣的位置并沿著電路功能區的邊緣進行走線;或者
所述檢測線路設置在所述凈空區內,以將所述電路功能區圍繞起來;或者
所述檢測線路的一部分設置在所述電路功能區內,另外一部分設置在電路功能區之外;
所述檢測線路設置在所述電路功能區內,所述檢測線路的其中一部分在所述電路功能區的中心區域走線。
在某些實施例中,所述檢測信號為不隨時間變化的電信號;或者
所述檢測信號為按照預設規律隨時間變化的電信號。
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