[發明專利]井筒內斷層斷點的精確識別方法

有效

• 申請號: 202110236054.8
• 申請日: 2021-03-03
• 公開（公告）號: CN112859196B
• 公開（公告）日: 2022-05-24
• 發明（設計）人: 黃超;曾濺輝;吳義志;劉維霞;陶國秀;劉亞洲;楊梅;張晨;房環環;譚琴輝
• 申請（專利權）人: 中國石油大學（北京）
• 主分類號: G01V11/00
• 分類號: G01V11/00
• 代理公司: 北京潤平知識產權代理有限公司 11283
• 代理人: 鄺圓暉;王崇

本發明提供了井筒內斷層斷點的精確識別方法，包括以下步驟：S1、對研究區內斷層帶取心，并識別劃分斷層核和裂縫帶兩個單元；S2、用巖心標定測井，建立斷層核和裂縫帶的測井識別標志；S3、使用地層對比法識別井上斷層帶；S4、在斷層帶內識別斷層核；S5、取斷層核中心為斷點，完成斷點的識別。本發明主要是以斷層帶取心為基礎，通過對巖心劃分斷層核和裂縫帶，利用巖心刻度測井，建立測井識別標志，在地層對比確定的斷層帶深度范圍內識別斷層核，取斷層核中深為斷點位置，以此來提高測井識別斷點的準確性，與原地層對比法確定的斷點位置相比，精度更高，誤差更小，降低了斷層附近鉆井風險。

技術領域

本發明屬于斷層斷點的識別方法技術領域，具體涉及井筒內斷層斷點的精確識別方法。

背景技術

斷層的精細解釋與描述是復雜斷塊油藏精細描述的主要內容，在開發中后期，為挖掘斷層附近剩余油，斷層的空間位置及形態需要有更準確的認識。由于地震資料分辨率有限，在復雜斷塊老區，通常結合井上斷點來精細解釋和描述斷層，井上斷點位置直接影響斷層空間描述的精度。正斷層在井筒內通常表現為地層缺失，傳統的斷點確定方法主要是通過研究井筒內測井曲線特征進行井間地層對比，地層缺失的地方可認定為斷點。

在現場實踐中，同一口井同一個斷層，不同的人采用地層對比方法對出的斷點位置也不完全一樣，會有一定的誤差，誤差最大可達10米左右。這種誤差在實際工作中比較普遍，其原因主要是該方法將斷層當作一個面，而實際地下斷層是一個帶，具有一定的寬度，包括斷層核和裂縫帶兩個結構單元。單井鉆遇的斷點位置應為斷層核內部的某一點位置，一般認為斷層核較窄，0-3米，因此井上斷點位置在斷層核內部0-3米的擺動都是合理的，而超出斷層核位置，應是錯誤的。裂縫帶一般較寬，可達數十米，雖然裂縫帶仍然保持地層的連續性，但是由于存在裂縫和充填物，其測井曲線特征與原狀地層有所差別，而且越靠近斷層核部，裂縫越發育，測井曲線變化越大，按照傳統的對比方法，很可能會將裂縫帶中的一個位置定為斷點。

這是傳統地層對比引起斷點誤差的根本原因，此誤差在后期的地震解釋中是不能被發現的，這會導致斷層面的空間位置具有最大10米左右的認識誤差，這種認識誤差會給后期斷塊油藏開發及鉆井帶來一定風險。

發明內容

本發明所要解決的技術問題在于針對上述現有技術的不足，提供井筒內斷層斷點的精確識別方法，以解決上述背景技術中提出的問題。

為解決上述技術問題，本發明采用的技術方案是：井筒內斷層斷點的精確識別方法，包括以下步驟：

S1、對研究區內斷層帶取心，并識別劃分斷層核和裂縫帶兩個單元；

S2、用巖心標定測井，建立斷層核和裂縫帶測井識別標志；

S3、使用地層對比法識別井上斷層帶；

S4、在斷層帶內識別斷層核；

S5、取斷層核中心為斷點，完成斷點的識別。

優選的，在S1中，對研究區內斷層帶取心，取心后進行分析化驗，依據巖性、物性及裂縫發育程度等特征，將巖心劃分出裂縫帶和斷層核。

優選的，所述斷層核具有滑動面、斷層角礫巖、破碎斷層泥及碳酸鹽巖膠結物中的一種或幾種；

裂縫帶通常具有大量裂縫或微斷層。

優選的，在S2中，巖心標定測井是選取反映巖性、物性的測井曲線，包括微電極、聲波、密度、井徑和深側向電阻率，建立斷層核和裂縫帶測井識別標志。

優選的，在S3中，地層對比法識別井上斷層帶具體為先在工區內選取地層發育連續且較全的標準井，然后由淺到深對比目標井與標準井的測井曲線特征，曲線特征明顯變化的位置確定為斷層帶頂深度；再由深到淺對比目標井與標準井測井曲線特征，出現明顯變化的位置確定為斷層帶底深度。