[發(fā)明專利]用于LED的缺陷檢測方法以及存儲介質(zhì)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202110235766.8
• 申請日: 2021-03-03
• 公開（公告）號: CN113160128B
• 公開（公告）日: 2022-11-01
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 鄭飛;林貴成;閆鋒;李林林
• 申請（專利權(quán)）人: 合肥圖迅電子科技有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06N3/04;G06N3/08
• 代理公司: 北京清亦華知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11201
• 代理人: 戴冬瑾

本發(fā)明公開了一種用于LED的缺陷檢測方法以及存儲介質(zhì)，用于LED的缺陷檢測方法包括以下步驟：以深度卷積殘差網(wǎng)絡(luò)和特征金字塔網(wǎng)絡(luò)作為特征提取器構(gòu)建RetinaNet網(wǎng)絡(luò)；構(gòu)建LED訓(xùn)練圖像集，并對LED訓(xùn)練圖像集中的各LED訓(xùn)練圖像進(jìn)行缺陷標(biāo)注，得到對應(yīng)的缺陷目標(biāo)信息；利用LED訓(xùn)練圖像集中的各LED訓(xùn)練圖像及其對應(yīng)的缺陷目標(biāo)信息，訓(xùn)練RetinaNet網(wǎng)絡(luò)；利用訓(xùn)練好的RetinaNet網(wǎng)絡(luò)，對獲取的膠后LED圖像進(jìn)行缺陷檢測。由此，該用于LED的缺陷檢測方法，可以實現(xiàn)根據(jù)膠后LED產(chǎn)品的圖像對膠后LED產(chǎn)品上的缺陷進(jìn)行檢測。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及LED技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種用于LED的缺陷檢測方法以及存儲介質(zhì)。

背景技術(shù)

相關(guān)技術(shù)中，LED產(chǎn)品在完成封膠后，常常會出現(xiàn)如裂紋、破損等影響產(chǎn)品質(zhì)量的缺陷，從而降低了膠后LED產(chǎn)品的質(zhì)量。因而，如何對存在缺陷的膠后LED產(chǎn)品進(jìn)行識別，是提高膠后LED產(chǎn)品的整體質(zhì)量的關(guān)鍵步驟。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明旨在至少在一定程度上解決相關(guān)技術(shù)中的技術(shù)問題之一。為此，本發(fā)明的第一個目的在于提出一種用于LED的缺陷檢測方法，以實現(xiàn)根據(jù)膠后LED產(chǎn)品的圖像對膠后LED產(chǎn)品上的缺陷進(jìn)行檢測。

本發(fā)明的第二個目的在于提出一種計算機(jī)可讀存儲介質(zhì)。

為達(dá)到上述目的，本發(fā)明第一方面實施例提出一種用于LED的缺陷檢測方法，包括以下步驟：以深度卷積殘差網(wǎng)絡(luò)和特征金字塔網(wǎng)絡(luò)作為特征提取器構(gòu)建RetinaNet網(wǎng)絡(luò)；構(gòu)建LED訓(xùn)練圖像集，并對所述LED訓(xùn)練圖像集中的各LED訓(xùn)練圖像進(jìn)行缺陷標(biāo)注，得到對應(yīng)的缺陷目標(biāo)信息；利用所述LED訓(xùn)練圖像集中的各LED訓(xùn)練圖像及其對應(yīng)的缺陷目標(biāo)信息，訓(xùn)練所述RetinaNet網(wǎng)絡(luò)；利用訓(xùn)練好的RetinaNet網(wǎng)絡(luò)，對獲取的膠后LED圖像進(jìn)行缺陷檢測。

為達(dá)到上述目的，本發(fā)明第二方面實施例提出一種計算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，其上存儲有計算機(jī)程序，其特征在于，所述計算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時，實現(xiàn)上述的用于LED的缺陷檢測方法。

本發(fā)明實施例的用于LED的缺陷檢測方法以及存儲介質(zhì)，可以實現(xiàn)根據(jù)膠后LED產(chǎn)品的圖像對膠后LED產(chǎn)品上的缺陷進(jìn)行檢測。

本發(fā)明附加的方面和優(yōu)點將在下面的描述中部分給出，部分將從下面的描述中變得明顯，或通過本發(fā)明的實踐了解到。

附圖說明

圖1是本發(fā)明第一實施例的用于LED的缺陷檢測方法的流程圖；

圖2是本發(fā)明第二實施例的用于LED的缺陷檢測方法的流程圖；

圖3是本發(fā)明第三實施例的用于LED的缺陷檢測方法的流程圖；

圖4是本發(fā)明一個示例的標(biāo)注框的示意圖。

具體實施方式

下面詳細(xì)描述本發(fā)明的實施例，所述實施例的示例在附圖中示出，其中自始至終相同或類似的標(biāo)號表示相同或類似的元件或具有相同或類似功能的元件。下面通過參考附圖描述的實施例是示例性的，旨在用于解釋本發(fā)明，而不能理解為對本發(fā)明的限制。

下面參考附圖1-4描述本發(fā)明實施例的用于LED的缺陷檢測方法以及存儲介質(zhì)。

圖1是本發(fā)明一個實施例的用于LED的缺陷檢測方法的流程圖。

如圖1所示，用于LED的缺陷檢測方法包括以下步驟：

S11，以深度卷積殘差網(wǎng)絡(luò)和特征金字塔網(wǎng)絡(luò)作為特征提取器構(gòu)建RetinaNet網(wǎng)絡(luò)。

具體地，該深度卷積殘差網(wǎng)絡(luò)和特征金字塔網(wǎng)絡(luò)可以為預(yù)先完成構(gòu)建的網(wǎng)絡(luò)。例如，可以預(yù)先根據(jù)實際需求對其進(jìn)行構(gòu)建。