[發明專利]一種硬幣鑒定方法和硬幣鑒定儀

有效

• 申請號: 202110233234.0
• 申請日: 2021-03-03
• 公開（公告）號: CN113345154B
• 公開（公告）日: 2022-11-11
• 發明（設計）人: 俞路
• 申請（專利權）人: 蘇州少士新創電子科技有限公司
• 主分類號: G07D5/08
• 分類號: G07D5/08
• 代理公司: 蘇州創元專利商標事務所有限公司 32103
• 代理人: 吳芳

1.一種硬幣鑒定方法，其特征在于，所述硬幣鑒定方法包括以下步驟：

S1.控制模塊接收硬幣身份信息，并根據所述硬幣身份信息確定至少兩種不同的測試頻率；所述控制模塊的數據庫中預存有各個幣種中需要檢測的金屬種類以及各個金屬種類對應的測試頻率；

S2.控制模塊為感應線圈模塊供應交流電，所述交流電的頻率為所述測試頻率，所述感應線圈模塊包括多個線圈組，不同的線圈組中交流電的頻率不同，或者，單個線圈組中的交流電由至少兩種不同頻率的交流電混合而成；

S3.輸送待測硬幣沿預設定的路徑經過所述感應線圈模塊產生的磁場區域，同時，接收模塊接收所述感應線圈模塊的電壓信息、電流信息和磁場信息中的一種或多種信息，并將接收到的信息傳輸給分析模塊；

S4.分析模塊對信息進行分析，得到待測硬幣的電參數，每個電參數與一種所述測試頻率相對應，并將所述電參數發送給輸出模塊，所述分析模塊將待測硬幣經過所述感應線圈時對應的信息與待測硬幣經過所述感應線圈模塊前或/和后時的信息進行對比，從而分析得到待測硬幣的電參數；

S5.所述輸出模塊輸出所述電參數，所述控制模塊的數據庫中還預存了各幣種對應真幣的電參數值的標準范圍，所述電參數的值不僅受到金屬種類的影響，還受到該金屬含量的影響，若所述分析模塊分析得到的電參數未落在電參數值的標準范圍內，則判定其為假幣或者有待進一步檢測。

2.如權利要求1所述的硬幣鑒定方法，其特征在于，在步驟S2中，所述感應線圈模塊包括至少兩個線圈組，所述的兩個線圈組中交流電的頻率分別為第一測試頻率和第二測試頻率，所述第一測試頻率與所述第二測試頻率不同。

3.如權利要求1所述的硬幣鑒定方法，其特征在于，在步驟S2中，所述感應線圈模塊包括至少一個線圈組，所述線圈組中的交流電由至少兩種不同頻率的交流電混合而成，且所述的兩種不同頻率分別為第一測試頻率和第二測試頻率。

4.如權利要求2或3所述的硬幣鑒定方法，其特征在于，至少存在一個所述的線圈組為自感式線圈，待測硬幣從所述自感式線圈內部穿過，或/和，至少存在一個所述的線圈組為他感式線圈組，所述他感式線圈組包括發射線圈(41)和與所述發射線圈(41)相對設置的接收線圈(42)，待測硬幣從所述發射線圈(41)和所述接收線圈(42)之間經過。

5.如權利要求1所述的硬幣鑒定方法，其特征在于，在步驟S3中，所述接收模塊還接收待測硬幣經過所述感應線圈模塊前或/和后時所述感應線圈模塊的電壓信息、電流信息和磁場信息中的一種或多種信息。

6.如權利要求5所述的硬幣鑒定方法，其特征在于，所述接收模塊接收所述感應線圈模塊的電壓信息，所述分析模塊計算根據所述電壓信息計算待測硬幣經過所述感應線圈模塊而引起的壓降值，并根據所述壓降值得到待測硬幣的電參數。

7.如權利要求3所述的硬幣鑒定方法，其特征在于，步驟S4中，所述分析模塊對所述接收模塊接收到的信息進行濾波處理，得到與多種所述測試頻率分別對應的波形，并根據多種波形對應得到待測硬幣的多個電參數。

8.如權利要求7所述的硬幣鑒定方法，其特征在于，所述的測試頻率為3種，分別為高頻測試頻率、中頻測試頻率和低頻測試頻率。

9.如權利要求7所述的硬幣鑒定方法，其特征在于，所述分析模塊 所述濾波處理得到的多種波形分別進行二階高通濾波、二階低通濾波、反向比例運算、放大、乙類互補對稱功率放大中的一種或多種處理，從而將交流電信號轉變為直流電信號。

10.一種硬幣鑒定儀，其特征在于，所述硬幣鑒定儀根據權利要求1～9中任一項所述的硬幣鑒定方法對待測硬幣進行鑒定。