[發明專利]覆晶薄膜組件和顯示終端

在審

• 申請號: 202110232429.3
• 申請日: 2021-03-02
• 公開（公告）號: CN112992027A
• 公開（公告）日: 2021-06-18
• 發明（設計）人: 唐莉
• 申請（專利權）人: 重慶先進光電顯示技術研究院;重慶惠科金渝光電科技有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00
• 代理公司: 深圳市世紀恒程知識產權代理事務所 44287
• 代理人: 晏波

本申請公開一種覆晶薄膜組件，所述覆晶薄膜組件包括：覆晶薄膜和控制芯片；其中，所述覆晶薄膜包括測試通道和控制電路，所述控制芯片具有預設測試點；所述控制電路通過所述測試通道與所述預設測試點連接。本申請還公開了一種顯示終端。利用本申請的覆晶薄膜組件，在對覆晶薄膜組件中的覆晶薄膜輸出的波形進行檢測時，檢測難度較小。

技術領域

本申請涉及顯示領域，特別涉及一種覆晶薄膜組件和顯示終端。

背景技術

隨著顯示技術的發展，窄邊框技術在顯示面板的領域得到飛速發展。通常，在顯示面板生產完成之后，需要對覆晶薄膜(chip on film，COF)輸出的波形進行檢測，并獲得檢測結果。為了便于對覆晶薄膜的檢測，需要在覆晶薄膜的輸出通道中預置一定數量的測試點，以便于通過測試點對覆晶薄膜輸出的波形進行檢測。

參照圖1，圖1為現有的覆晶薄膜組件的結構示意圖，通常，覆晶薄膜組件中，覆晶薄膜1具有輸入通道11、控制電路12和輸出通道13，輸入通道均與控制芯片(可以是PCBA板)連接，控制電路通過輸入通道接收控制芯片發送的數據信息，并對接收到的控制芯片發送的數據信息進行處理，獲得處理后的數據信息，以及通過輸出通道將處理后的數據信息發送至顯示單元。

通常，在覆晶薄膜的安裝過程中，可以通過彎折覆晶薄膜，以滿足普通模組的機構要求，使得使得覆晶薄膜對普通模組機構不會產生干涉；但是，對于窄邊框模組機構來說，現有的覆晶薄膜的長度較大，使得覆晶薄膜對窄邊框模組機構產生干涉。

相關技術中，為了避免覆晶薄膜對窄邊框模組機構產生干涉，提出了一種覆晶薄膜組件，在該覆晶薄膜組件中，覆晶薄膜長度較短，覆晶薄膜不會對窄邊框模組機構產生干涉。

但是，采用現有的覆晶薄膜組件，對覆晶薄膜組件中覆晶薄膜輸出的波形進行檢測時，檢測難度較大。

發明內容

本申請的主要目的是提供一種覆晶薄膜組件和顯示終端，旨在解決現有技術中采用現有的覆晶薄膜組件，對覆晶薄膜組件中覆晶薄膜輸出的波形進行檢測時，檢測難度較大的技術問題。

為實現上述目的，本申請提出一種覆晶薄膜組件，所述覆晶薄膜組件包括：覆晶薄膜和控制芯片；其中，

所述覆晶薄膜包括測試通道和控制電路，所述控制芯片具有預設測試點；

所述控制電路通過所述測試通道與所述預設測試點連接。

可選的，所述覆晶薄膜還包括輸入通道；所述控制電路通過所述輸入通道與所述控制芯片連接。

可選的，所述覆晶薄膜組件還包括：顯示單元；所述覆晶薄膜還包括輸出通道；其中，

所述控制電路通過所述輸出通道與所述顯示單元連接。

可選的，所述控制芯片具有預設輸入點，所述顯示單元具有預設接收點；

所述控制電路通過所述輸入通道與所述預設輸入點連接；

所述控制電路通過所述輸出通道與所述預設接收點連接。

可選的，所述預設測試點包括多個，所述測試通道包括多條，一個預設測試點對應一條測試通道。

可選的，所述控制芯片包括基于表面貼裝技術的印制電路板或基于雙列直插封裝技術的印制電路板。

可選的，所述測試通道的數量為2或4。

可選的，所述輸入通道的數量為130～150。

可選的，所述輸出通道的數量為1110～1150。

此外，為實現上述目的，本申請還提出了一種顯示終端，包括如上述任一項所述的覆晶薄膜組件。