[發明專利]一種日用陶瓷口沿高度差和外口徑差的測量方法

有效

• 申請號: 202110232321.4
• 申請日: 2021-03-03
• 公開（公告）號: CN112797909B
• 公開（公告）日: 2022-06-03
• 發明（設計）人: 曹利鋼;王小平;馮浩;王俊祥;沈家祥;陳文鑫
• 申請（專利權）人: 景德鎮陶瓷大學
• 主分類號: G01B11/06
• 分類號: G01B11/06;G01B11/08
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明公開了一種日用陶瓷口沿高度差和外口徑差的測量方法，包括如下步驟：首先將待測日用陶瓷放置到測量裝置的箱體內，并通過測量裝置的載物部件將待測日用陶瓷緊固；其次通過測量裝置的相機和光源部件獲取待測日用陶瓷的輪廓圖像，再通過圖像處理工序獲得待測日用陶瓷最左上點和最右上點的像素坐標，再通過坐標轉換工序將像素坐標轉換為脈沖坐標；然后按照脈沖坐標通過測量裝置的進給部件將測量裝置的檢測部件位移至指定位置，并對待測日用陶瓷的外口徑和口沿高度的數據進行采集和處理；最后將測量結果傳輸至測量裝置的控制器部件。本發明的測量方法使用便捷、安全可靠，可極大的提高了日用陶瓷外觀缺陷的檢測效率，因此具有廣闊的市場前景。

技術領域

本發明屬于日用陶瓷檢測技術領域，具體涉及一種日用陶瓷口沿高度差和外口徑差的測量方法。

背景技術

在日用陶瓷器變形檢測方法中，規定了口沿高度差和外口徑差作為衡量日用陶瓷器變形的指標。口沿高度差指的是口沿上的點相對于基準面的最大高度和最小高度之差，而外口徑差指的是口沿上對應點所形成的最大直徑與最小直徑之差。

當前，對于這兩種指標的檢測，主要是依靠人工完成，即在一個基準平面上，轉動待測日用陶瓷器，依靠量具觀察口沿高度和口徑的值。這種測量方法會存在以下問題：

1）測量精度受較多主觀因素影響。比如：量具擺放傾斜、人觀察的角度變化、環境光線變化等主觀因素影響人的觀察結果，這些都會對最終的測量精度產生影響，測量過程中難以做到對口沿所有點都進行精確測量，測量精度穩定性較差。

2）測量過程需要手動旋轉陶瓷器，對于不同器形的日用陶瓷器要采用不同的量具，口沿高度差的測量與外口徑差的測量不能同時進行，這些因素導致日用陶瓷器測量過程中效率較低，測量實施過程比較麻煩。

發明內容

本發明為克服上述現有技術問題，提供一種使用便捷、安全可靠的日用陶瓷口沿高度差和外口徑差的測量方法。

本發明的技術方案是：一種日用陶瓷口沿高度差和外口徑差的測量方法，其特征在于包括如下步驟：

步驟一：將待測日用陶瓷放置到測量裝置的箱體內，并通過測量裝置的載物部件將待測日用陶瓷緊固；

步驟二：驅動進給部件回歸零位后，通過測量裝置的相機和光源部件獲取待測日用陶瓷的輪廓圖像，再通過圖像處理工序獲得待測日用陶瓷最左上點和最右上點的像素坐標，再通過坐標轉換工序將待測日用陶瓷輪廓圖像的像素坐標轉換為脈沖坐標；

步驟三：根據脈沖坐標，通過測量裝置的進給部件將測量裝置的檢測部件位移至指定位置；

步驟四：通過測量裝置的檢測部件對待測日用陶瓷的外口徑和口沿高度的數據進行采集和處理，并傳輸至測量裝置的控制器部件。

所述測量裝置的箱體為長方體結構，其底部設置有底板一，后部設置有背板、左部設置有左側板、右部設置有右側板、頂部設置有頂板、前部設置有左前板和右前板，所述左前板的左端活動安裝在左側板的前端上，右前板的右端活動安裝在右側板的前端上。

所述測量裝置的載物部件由轉臺、真空吸嘴、真空泵構成，所述真空吸嘴設置在轉臺頂部，真空泵設置在轉臺內部，所述真空吸嘴與真空泵設置有連接管。

所述測量裝置的光源部件由光源一、光源二構成；所述測量裝置的相機包括相機本體和鏡頭，相機本體為大恒MER-500-14U3M/C型號工業相機，500萬像素，鏡頭為大恒H0514-MP2型號鏡頭；所述測量裝置的控制器部件由STM32單片機、NanoPC-T4主機、顯示屏、按鍵、光源控制器構成，所述STM32單片機、顯示屏、按鍵分別通過信號線與NanoPC-T4主機相連接，所述光源控制器通過信號線與光源部件相連接。

所述測量裝置的進給部件由給進裝置一、給進裝置二、給進裝置三、給進裝置四組成，